一种取样测量装置制造方法及图纸

技术编号:40085320 阅读:25 留言:0更新日期:2024-01-23 15:22
本技术公开了一种取样测量装置,包括边框模组和平移调节模块,其中边框模组包括第一边沿组件和第二边沿组件,第一边沿组件包括相交的第一支臂和第二支臂,第二边沿组件通过平移调节模块分别与第一支臂和第二支臂活动连接,并且第二边沿组件分别与第一支臂和第二支臂相交以围合出多边形的取样区域,平移调节模块能够使得第二边沿组件相对于第一边沿组件平移以扩大或者缩小取样区域从而满足所需的取样面积的要求,因此,本技术能够易于对取样区域的面积进行调节且取样区域的形状不易改变。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及取样,特别涉及一种取样测量装置


技术介绍

1、在实验与检测中,工作人员常需要使用取样框限定取样面积对样品进行取样,目前使用较为广泛的取样框主要有两种,一种是取样区域面积固定的取样框,另一种是由四根相连的支杆围合出取样区域的取样框,工作人员能够通过调节四根支杆的相对位置从而改变取样区域的面积。

2、其中,第一种取样框的取样区域面积是固定的,不便于工作人员对多取样面积要求的样品进行取样;第二种取样框虽然能够调节取样区域的面积,但需要移动四根支杆,调节过程较为繁琐且取样区域的形状不易固定。


技术实现思路

1、本技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此,本技术提出一种取样测量装置,易于对取样区域的面积进行调节且取样区域的形状不易改变。

2、根据本技术的第一方面实施例的一种取样测量装置,包括:边框模组,包括第一边沿组件和第二边沿组件,所述第一边沿组件包括相交的第一支臂和第二支臂;平移调节模块,所述第二边沿组件通过所述平移调节模块分别与所述第一支臂和所述第二支臂活动连接,并且本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种取样测量装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的一种取样测量装置,其特征在于:所述第一支臂与所述第二支臂相互垂直。

3.根据权利要求1所述的一种取样测量装置,其特征在于:所述第一支臂沿长度方向设有刻度,所述第二支臂沿长度方向设有刻度。

4.根据权利要求1所述的一种取样测量装置,其特征在于:所述平移调节模块包括第一滑轨和第一活动件,所述第一滑轨设置在所述第一支臂上并且沿所述第一支臂的长度方向设置,所述第一活动件设置在所述第二边沿组件的一端,所述第一活动件滑动设置在所述第一滑轨上。

5.根据权利要求4所述的一种取样测量装置,其...

【技术特征摘要】

1.一种取样测量装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的一种取样测量装置,其特征在于:所述第一支臂与所述第二支臂相互垂直。

3.根据权利要求1所述的一种取样测量装置,其特征在于:所述第一支臂沿长度方向设有刻度,所述第二支臂沿长度方向设有刻度。

4.根据权利要求1所述的一种取样测量装置,其特征在于:所述平移调节模块包括第一滑轨和第一活动件,所述第一滑轨设置在所述第一支臂上并且沿所述第一支臂的长度方向设置,所述第一活动件设置在所述第二边沿组件的一端,所述第一活动件滑动设置在所述第一滑轨上。

5.根据权利要求4所述的一种取样测量装置,其特征在于:所述平移调节模块还包括第二活动件和第二滑轨,所述第二滑轨设置在所述第二支臂上并且沿所述第二支臂的长度方向设置,所述第二活动件设置在所述第二边沿组件的另一端,所述第二活动件滑动设置在所述第二滑轨上。

6.根据权利要求5所述的一种取样测量装置,其特征在于:所述第二边沿组件包括相交的第三支臂和第四支臂,所述第三支臂与所述第二支臂平行,所述第四支臂与所述第一支臂平行,所述平移调节模块还包括第三滑轨和第四滑轨,所述第三滑轨设置在所述第三支臂上并且沿所述第三支臂的长度方向布置,所述第四滑轨设置在所述第四支臂上并且沿所述第四支臂的长度方向布置,所述第一活动件滑动设置在所述第三滑轨上,所述第二活动件滑动设置在所述第四滑轨上。

7.根据权利要求6所述的一种取样测量装置,其特征在于:所述第一活动...

【专利技术属性】
技术研发人员:萧慧珍杨紫红张艳霞黄瑞娟黄宏霞
申请(专利权)人:完美广东日用品有限公司
类型:新型
国别省市:

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