【技术实现步骤摘要】
本申请涉及元件封装领域，具体涉及一种封装结构及其制备方法。
技术介绍
1、封装结构通常包括内埋元件(如芯片)，内埋芯片的连接端可通过引线框架引出，从而可连接至电路板或进行电性测试。
2、现有的封装结构中，内埋元件均采用单面导通的方式集成在封装结构中。当需要将内埋元件双面的连接端从同一侧引出以方便电性测试时，制程通常较复杂。
技术实现思路
1、鉴于此，本申请提供一种可以简化制程并且可以实现内埋元件异面同侧导通的封装结构的制备方法。本申请还提供一种封装结构。
2、本申请提供的一种封装结构的制备方法，包括：
3、将导电框架和内埋元件电连接形成中间体，所述内埋元件包括在第一方向依次设置的第一连接端和第二连接端，所述导电框架包括第一导电部和与所述第一导电部电连接的第二导电部，所述第二导电部沿所述第一方向凸出于所述第一导电部，所述第一导电部和所述第二导电部围设形成收容空间，所述第二导电部包括远离所述第一导电部设置的第一电连接端面，所述内埋元件容置于所述收容空间内且通...
【技术保护点】
1.一种封装结构的制备方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的封装结构的制备方法，其特征在于，将所述导电框架和所述内埋元件电连接的步骤包括：
3.如权利要求2所述的封装结构的制备方法，其特征在于，所述导电框架在垂直于所述第一方向的第二方向上包括间隔设置的第一框体和第二框体，所述第一框体包括所述第一导电部和所述第二导电部，所述第二框体包括第三导电部和与所述第三导电部电连接的第四导电部，所述第四导电部沿所述第一方向凸设于所述第三导电部，所述第四导电部包括远离所述第三导电部设置的第二电连接端面，所述第一导电部、所述第二导电部、所述第三导电部和...
【技术特征摘要】
1.一种封装结构的制备方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的封装结构的制备方法，其特征在于，将所述导电框架和所述内埋元件电连接的步骤包括：
3.如权利要求2所述的封装结构的制备方法，其特征在于，所述导电框架在垂直于所述第一方向的第二方向上包括间隔设置的第一框体和第二框体，所述第一框体包括所述第一导电部和所述第二导电部，所述第二框体包括第三导电部和与所述第三导电部电连接的第四导电部，所述第四导电部沿所述第一方向凸设于所述第三导电部，所述第四导电部包括远离所述第三导电部设置的第二电连接端面，所述第一导电部、所述第二导电部、所述第三导电部和所述第四导电部共同形成所述收容空间；
4.如权利要求3所述的封装结构的制备方法，其特征在于，制备所述导电框架的步骤包括：
5.如权利要求3所述的封装结构的制备方法，其特征在于，在所述第一方向上，所述第一电连接端面和所述第二电连接端面均凸设于所述第二连接端。
6.如权利要求5所述的封装结构的制备方法，其特征在于，所述导电件包括远离所述内埋元件设置的端面，在所述第一方向上，所述端面到所述第一导电部的距离h1大于所述第一电连接端面到所述第一导电部的距离h2，10μm＜h1-h2＜80μm，所述端面到所述第三导电部的距离h...
【专利技术属性】
技术研发人员：彭满芝，
申请(专利权)人：鹏鼎控股深圳股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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