System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种无刮痕SSD测试装置制造方法及图纸_技高网

一种无刮痕SSD测试装置制造方法及图纸

技术编号:40074897 阅读:6 留言:0更新日期:2024-01-17 00:57
本发明专利技术公开了一种无刮痕SSD测试装置,应用在SSD测试技术领域,本发明专利技术通过设置底板,用于对结构进行安装和支撑,设置的第一电动伸缩缸可以便于通过导向块对导轨进行移动,而导轨可以通过外框架和夹板配合,对被测试的SSD元件进行夹持,并且使其移动位置和测试位置均为平行,设置的外壳可以便于对测试组件进行组装和使用,在使用的时候第一电动伸缩缸通过导向块带动导轨以及被其夹持的SSD元件靠近外壳,其金手指会落在下测试pcb板的顶部,而后第二电动伸缩缸缩短,通过连架带动与之连接的上测试pcb板下落,导电胶触点与金手指进行接触和测试,相比起插拔动作,因为导电胶触点的接触面为柔性,且不需要滑动PCB即可完全取代连接器功能。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于ssd测试,特别涉及一种无刮痕ssd测试装置。


技术介绍

1、基于ssd装置的生产流程以及测试工艺,在对ssd进行测试的时候会遇到多种情况,但不限于以下提到的一种,目前生产ssd过程中,目前m.2连接器的插入方式为斜角插入以后,将pcb压至水平,再推入连接器中,此时连接器的金属弹片触点,将在m.2pcb的金手指上留下划痕,因为测试插拔产品会造成金手指刮痕,少则3-5次,多则高达10次,造成产品还未到消费者手上,就已产生明显划痕。

2、现有的ssd测试装置在进行测试的时候会反复的对ssd金手指位置进行插拔和摩擦,因此会产生划痕,影响销售时的观感,而且在插拔的时候有时不会水平将连接位置插入测试结构中,可能会导致插拔过程中对其边缘造成磨损。

3、基于以上提到的情况,我们发现现有技术中的ssd测试装置很难同时规避以上问题,因此,我们提出一种可以保证测试时对于被测试元器件插入位置水平,且避免产生划痕的ssd测试装置。


技术实现思路

1、本专利技术的目的在于针对现有的一种无刮痕ssd测试装置,其优点是可以保证测试时对于被测试元器件插入位置水平,且避免产生划痕。

2、本专利技术的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的:一种无刮痕ssd测试装置,包括底板,所述底板顶部的后侧栓接有外壳,所述外壳的内侧设置有测试组件,所述底板底部的后侧栓接有第一电动伸缩缸,所述第一电动伸缩缸输出端的顶部栓接有导向块,所述导向块的顶部栓接有导轨,所述导轨的顶部栓接有外框架,所述导轨的内侧活动连接有滑块,所述滑块的顶部栓接有夹板,所述夹板底部的外侧贯穿外框架并与外框架滑动连接;

3、所述测试组件包括下测试pcb板,所述下测试pcb板的顶部设置有上测试pcb板,所述下测试pcb板靠近上测试pcb板的一侧和上测试pcb板靠近下测试pcb板的一侧均安装有导电胶触点;

4、所述外壳的顶部的后侧栓接有第二电动伸缩缸,所述第二电动伸缩缸伸缩端的底部栓接有连架,所述连架的底部贯穿外壳的顶部并与上测试pcb板的顶部栓接,所述下测试pcb板的底部栓接有支座,所述支座的底部与外壳内侧的底部栓接。

5、采用上述技术方案,通过设置底板,用于对结构进行安装和支撑,设置的第一电动伸缩缸可以便于通过导向块对导轨进行移动,而导轨可以通过外框架和夹板配合,对被测试的ssd元件进行夹持,并且使其移动位置和测试位置均为平行,设置的外壳可以便于对测试组件进行组装和使用,在使用的时候第一电动伸缩缸通过导向块带动导轨以及被其夹持的ssd元件靠近外壳,其金手指会落在下测试pcb板的顶部,而后第二电动伸缩缸缩短,通过连架带动与之连接的上测试pcb板下落,导电胶触点与金手指进行接触和测试,相比起插拔动作,因为导电胶触点的接触面为柔性,且不需要滑动pcb即可完全取代连接器功能。

6、本专利技术进一步设置为:所述导轨的内侧转动连接有两个螺杆,所述螺杆的外侧与滑块螺纹连接。

7、采用上述技术方案,通过设置螺杆,可以便于对滑块进行传动,使滑块可以沿着导轨移动,并且通过与滑块连接的夹板对被测试的ssd元器件进行夹持固定。

8、本专利技术进一步设置为:所述导轨的左侧栓接有控制电机,所述控制电机的输出端与前侧螺杆的左侧栓接,前侧螺杆和后侧螺杆的右侧均栓接有传动齿轮,前侧传动齿轮和后侧传动齿轮啮合连接。

9、采用上述技术方案,通过设置控制电机,可以便于对螺杆的转动进行驱动,传动齿轮用于对两个螺杆进行传动和转动的变向,使得两个螺杆可以反向转动,并且带动滑块反向移动。

10、本专利技术进一步设置为:左侧夹板的右侧和右侧夹板的左侧均栓接有夹垫,所述夹垫为橡胶材料制成。

11、采用上述技术方案,通过设置夹垫,可以让夹板和被检测ssd元件的接触更加稳固,且避免夹持时对其造成伤害。

12、本专利技术进一步设置为:所述底板底部的前侧和后侧均栓接有安装座,所述底板的内侧开设有与导向块配合使用的导向槽。

13、采用上述技术方案,通过设置导向槽,可以便于让导向块沿着底板滑动,使得结构更加合理稳固。

14、本专利技术进一步设置为:所述外壳内侧的后侧栓接有抵架,所述抵架的内侧粘接有接触垫。

15、采用上述技术方案,通过设置抵架,配合接触垫,可以避免ssd元件过度移动导致的与外壳碰撞造成伤害,起到了保护和限位的作用。

16、本专利技术进一步设置为:所述支座包括密封管,所述密封管的内侧栓接有套管,所述套管的内侧滑动连接有推动块,所述推动块的顶部栓接有连杆,所述连杆的顶部栓接有连接板,所述连接板的顶部与下测试pcb板的底部栓接。

17、采用上述技术方案,通过设置密封管配合套管,在上测试pcb板下落并且对金手指进行抵压的时候,与下测试pcb板相连接的连接板配合连杆,通过推动块向底部移动,此时密封管内部的粘性油液沿着套管流动,起到一定缓冲泄力的作用,避免上测试pcb板过度下落导致的ssd元件损坏。

18、本专利技术进一步设置为:所述套管外侧的顶部和底部均开设有流通孔,所述密封管内侧的底部栓接有复位弹簧,所述复位弹簧的顶部与推动块栓接,所述密封管的内侧填充有粘性油液。

19、采用上述技术方案,通过设置流通孔,可以便于供给粘性油液沿着套管以及密封管的内部流动,设置的复位弹簧可以便于在推动块下落后复位便于后续使用。

20、本专利技术进一步设置为:所述套管的内侧栓接有限位环,所述限位环与流通孔配合使用。

21、采用上述技术方案,通过设置限位环,可以避免推动块过度移动导致的无法正常复位。

22、本专利技术进一步设置为:所述密封管顶部的内侧安装有密封圈,所述密封圈的内侧与连杆滑动连接。

23、采用上述技术方案,通过设置密封圈,可以便于提升密封管和连杆之间的密封性,避免结构之间发生漏液的情况。

24、综上所述,本专利技术具有以下有益效果:

25、通过设置底板,用于对结构进行安装和支撑,设置的第一电动伸缩缸可以便于通过导向块对导轨进行移动,而导轨可以通过外框架和夹板配合,对被测试的ssd元件进行夹持,并且使其移动位置和测试位置均为平行,设置的外壳可以便于对测试组件进行组装和使用,在使用的时候第一电动伸缩缸通过导向块带动导轨以及被其夹持的ssd元件靠近外壳,其金手指会落在下测试pcb板的顶部,而后第二电动伸缩缸缩短,通过连架带动与之连接的上测试pcb板下落,导电胶触点与金手指进行接触和测试,相比起插拔动作,因为导电胶触点的接触面为柔性,且不需要滑动pcb即可完全取代连接器功能。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种无刮痕SSD测试装置,包括底板(1),其特征在于:所述底板(1)顶部的后侧栓接有外壳(2),所述外壳(2)的内侧设置有测试组件(3),所述底板(1)底部的后侧栓接有第一电动伸缩缸(4),所述第一电动伸缩缸(4)输出端的顶部栓接有导向块(5),所述导向块(5)的顶部栓接有导轨(6),所述导轨(6)的顶部栓接有外框架(7),所述导轨(6)的内侧活动连接有滑块(8),所述滑块(8)的顶部栓接有夹板(12),所述夹板(12)底部的外侧贯穿外框架(7)并与外框架(7)滑动连接;

2.根据权利要求1所述的一种无刮痕SSD测试装置,其特征在于:所述导轨(6)的内侧转动连接有两个螺杆(13),所述螺杆(13)的外侧与滑块(8)螺纹连接。

3.根据权利要求2所述的一种无刮痕SSD测试装置,其特征在于:所述导轨(6)的左侧栓接有控制电机(14),所述控制电机(14)的输出端与前侧螺杆(13)的左侧栓接,前侧螺杆(13)和后侧螺杆(13)的右侧均栓接有传动齿轮(15),前侧传动齿轮(15)和后侧传动齿轮(15)啮合连接。

4.根据权利要求1所述的一种无刮痕SSD测试装置,其特征在于:左侧夹板(12)的右侧和右侧夹板(12)的左侧均栓接有夹垫(16),所述夹垫(16)为橡胶材料制成。

5.根据权利要求1所述的一种无刮痕SSD测试装置,其特征在于:所述底板(1)底部的前侧和后侧均栓接有安装座(17),所述底板(1)的内侧开设有与导向块(5)配合使用的导向槽(18)。

6.根据权利要求1所述的一种无刮痕SSD测试装置,其特征在于:所述外壳(2)内侧的后侧栓接有抵架(19),所述抵架(19)的内侧粘接有接触垫(20)。

7.根据权利要求1所述的一种无刮痕SSD测试装置,其特征在于:所述支座(9)包括密封管(901),所述密封管(901)的内侧栓接有套管(902),所述套管(902)的内侧滑动连接有推动块(903),所述推动块(903)的顶部栓接有连杆(904),所述连杆(904)的顶部栓接有连接板(905),所述连接板(905)的顶部与下测试pcb板(301)的底部栓接。

8.根据权利要求7所述的一种无刮痕SSD测试装置,其特征在于:所述套管(902)外侧的顶部和底部均开设有流通孔(21),所述密封管(901)内侧的底部栓接有复位弹簧(22),所述复位弹簧(22)的顶部与推动块(903)栓接,所述密封管(901)的内侧填充有粘性油液。

9.根据权利要求8所述的一种无刮痕SSD测试装置,其特征在于:所述套管(902)的内侧栓接有限位环(23),所述限位环(23)与流通孔(21)配合使用。

10.根据权利要求7所述的一种无刮痕SSD测试装置,其特征在于:所述密封管(901)顶部的内侧安装有密封圈(24),所述密封圈(24)的内侧与连杆(904)滑动连接。

...

【技术特征摘要】

1.一种无刮痕ssd测试装置,包括底板(1),其特征在于:所述底板(1)顶部的后侧栓接有外壳(2),所述外壳(2)的内侧设置有测试组件(3),所述底板(1)底部的后侧栓接有第一电动伸缩缸(4),所述第一电动伸缩缸(4)输出端的顶部栓接有导向块(5),所述导向块(5)的顶部栓接有导轨(6),所述导轨(6)的顶部栓接有外框架(7),所述导轨(6)的内侧活动连接有滑块(8),所述滑块(8)的顶部栓接有夹板(12),所述夹板(12)底部的外侧贯穿外框架(7)并与外框架(7)滑动连接;

2.根据权利要求1所述的一种无刮痕ssd测试装置,其特征在于:所述导轨(6)的内侧转动连接有两个螺杆(13),所述螺杆(13)的外侧与滑块(8)螺纹连接。

3.根据权利要求2所述的一种无刮痕ssd测试装置,其特征在于:所述导轨(6)的左侧栓接有控制电机(14),所述控制电机(14)的输出端与前侧螺杆(13)的左侧栓接,前侧螺杆(13)和后侧螺杆(13)的右侧均栓接有传动齿轮(15),前侧传动齿轮(15)和后侧传动齿轮(15)啮合连接。

4.根据权利要求1所述的一种无刮痕ssd测试装置,其特征在于:左侧夹板(12)的右侧和右侧夹板(12)的左侧均栓接有夹垫(16),所述夹垫(16)为橡胶材料制成。

5.根据权利要求1所述的一种无刮痕ssd测试装置,其特征在于:所述底板(1)底部的前侧和后侧均栓接有安装座...

【专利技术属性】
技术研发人员:韦洪贤李彦波于鲁川
申请(专利权)人:山东芯恒基电子元件有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1