【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及低温测试，尤其涉及一种低温测试系统及低温测试方法。
技术介绍
1、随着科学技术的发展，超导测试研究、低温材料测试、低温温度计标定等科研工作都离不开低温测试环境。
2、低温测试系统是用于提供低温测试环境的设备，其中，基于制冷机的低温测试系统因仅需通电即可持续工作、工作温区宽、操作简单方便、可实现无人值守，得到广泛的应用。
3、然而，基于制冷机的低温测试系统的降温和复温时间过长，当一件样品的测试完成后，需要关闭制冷机进行数小时的复温才能拆卸或更换样品，然后再次启动制冷机进行数小时的降温，在测试多个样品的情况下，需要制冷机反复降温、复温，导致低温测试效率大大降低，不利于低温测试工作的开展。
技术实现思路
1、本专利技术提供一种低温测试系统及低温测试方法，用以解决现有技术中低温测试系统需反复降温、复温，导致测试效率低下的技术问题。
2、第一方面，本专利技术提供一种低温测试系统，包括第一箱体、第二箱体、活动件和制冷机；
3、所述第一箱体和所述第二箱体邻接且二者之间设置有密封门，所述密封门能够打开或关闭，以连通或分隔所述第一箱体和所述第二箱体；
4、所述制冷机至少部分设置于所述第一箱体内，所述活动件可活动地插设于所述第二箱体，所述活动件的端部用于安装样品，在所述密封门打开的情况下，所述活动件的端部能够进入所述第一箱体内。
5、根据本专利技术提供的一种低温测试系统，所述低温测试系统还包括低温平台，所述低温平台安
6、根据本专利技术提供的一种低温测试系统，所述低温测试系统还包括导热件，所述导热件设置于所述活动件的端部，所述导热件用于与所述样品和所述低温平台热接触。
7、根据本专利技术提供的一种低温测试系统，所述导热件具有第一导热面，所述低温平台具有第二导热面，所述第一导热面和所述第二导热面的形状相适配，以使所述导热件与所述制冷平台通过所述第一导热面和所述第二导热面紧密抵接。
8、根据本专利技术提供的一种低温测试系统，所述低温测试系统还包括冷屏，所述冷屏设置于所述第一箱体内且与所述制冷机相连，所述低温平台位于所述冷屏围成的空间内。
9、根据本专利技术提供的一种低温测试系统，所述低温测试系统还包括密封件，所述第二箱体具有开口，所述密封件可拆卸地安装于所述开口处，所述活动件可活动地插设于所述密封件。
10、根据本专利技术提供的一种低温测试系统，所述活动件为中空结构，所述活动件的内部用于容置功能元件或导线。
11、第二方面，本专利技术提供一种低温测试方法，基于第一方面所述的低温测试系统，包括：
12、将安装有样品的活动件的端部置于第一箱体内，进行低温测试，其中，密封门处于打开状态，所述第一箱体内部和第二箱体内部均为真空状态；
13、在低温测试完成后，将所述活动件的端部移动至所述第二箱体内；
14、关闭所述密封门，对所述第二箱体进行破真空，将所述活动件从所述第二箱体内部取出，以拆卸或更换所述样品。
15、根据本专利技术提供的一种低温测试方法，所述将安装有样品的活动件的端部置于第一箱体内之前，还包括：
16、关闭密封门，对第一箱体内部进行抽真空，在所述第一箱体内部的真空度达到预设真空度的情况下，开启制冷机，以使所述第一箱体内部的温度达到预设温度；
17、将样品安装至所述活动件的端部，将所述活动件的端部置于所述第二箱体的内部；
18、对所述第二箱体内部进行抽真空，在所述第二箱体内部的真空度达到所述预设真空度的情况下，打开所述密封门。
19、根据本专利技术提供的一种低温测试方法，所述低温测试系统包括密封件，所述第二箱体具有开口，所述密封件可拆卸地安装于所述开口处，所述活动件可活动地插设于所述密封件；
20、所述将样品安装至活动件的端部，将所述活动件的端部置于所述第二箱体的内部，具体包括：
21、将所述活动件插设于所述密封件，将样品安装至所述活动件的端部，将所述活动件的端部通过所述开口置于所述第二箱体的内部，锁紧所述密封件。
22、本专利技术提供的低温测试系统及低温测试方法，通过设置第一箱体和第二箱体邻接且二者之间设置有密封门，密封门能够打开或关闭，能够实现第一箱体和第二箱体的连通或分隔；通过设置活动件可活动地插设于第二箱体，在测试完毕后，能够移动活动件，从而把样品转移至第二箱体，方便拆卸或更换样品；将密封门关闭即可始终保持第一箱体内部的真空状态和低温状态，制冷机无需停机，省去了低温测试系统复温、再降温的漫长过程，大大提高了低温测试系统的测试效率，有利于低温测试的连续、多次进行。
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1.一种低温测试系统，其特征在于，包括第一箱体、第二箱体、活动件和制冷机；
2.根据权利要求1所述的低温测试系统，其特征在于，所述低温测试系统还包括低温平台，所述低温平台安装于所述制冷机的一端且与所述制冷机具有热接触。
3.根据权利要求2所述的低温测试系统，其特征在于，所述低温测试系统还包括导热件，所述导热件设置于所述活动件的端部，所述导热件用于与所述样品和所述低温平台热接触。
4.根据权利要求3所述的低温测试系统，其特征在于，所述导热件具有第一导热面，所述低温平台具有第二导热面，所述第一导热面和所述第二导热面的形状相适配，以使所述导热件与所述制冷平台通过所述第一导热面和所述第二导热面紧密抵接。
5.根据权利要求2所述的低温测试系统，其特征在于，所述低温测试系统还包括冷屏，所述冷屏设置于所述第一箱体内且与所述制冷机相连，所述低温平台位于所述冷屏围成的空间内。
6.根据权利要求1所述的低温测试系统，其特征在于，所述低温测试系统还包括密封件，所述第二箱体具有开口，所述密封件可拆卸地安装于所述开口处，所述活动件可活动地插设于所
7.根据权利要求1所述的低温测试系统，其特征在于，所述活动件为中空结构，所述活动件的内部用于容置功能元件或导线。
8.一种低温测试方法，基于权利要求1至7任一项所述的低温测试系统，其特征在于，包括：
9.根据权利要求8所述的低温测试方法，其特征在于，所述将安装有样品的活动件的端部置于第一箱体内之前，还包括：
10.根据权利要求9所述的低温测试方法，其特征在于，所述低温测试系统包括密封件，所述第二箱体具有开口，所述密封件可拆卸地安装于所述开口处，所述活动件可活动地插设于所述密封件；
...【技术特征摘要】
1.一种低温测试系统，其特征在于，包括第一箱体、第二箱体、活动件和制冷机；
2.根据权利要求1所述的低温测试系统，其特征在于，所述低温测试系统还包括低温平台，所述低温平台安装于所述制冷机的一端且与所述制冷机具有热接触。
3.根据权利要求2所述的低温测试系统，其特征在于，所述低温测试系统还包括导热件，所述导热件设置于所述活动件的端部，所述导热件用于与所述样品和所述低温平台热接触。
4.根据权利要求3所述的低温测试系统，其特征在于，所述导热件具有第一导热面，所述低温平台具有第二导热面，所述第一导热面和所述第二导热面的形状相适配，以使所述导热件与所述制冷平台通过所述第一导热面和所述第二导热面紧密抵接。
5.根据权利要求2所述的低温测试系统，其特征在于，所述低温测试系统还包括冷屏，所述冷屏设置于所述第一箱体内且与所述制冷...
【专利技术属性】
技术研发人员：李建国，洪国同，王国鹏，刘彦杰，梁惊涛，
申请(专利权)人：中国科学院理化技术研究所，
类型：发明
国别省市：
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