一种芯片测试座制造技术

本技术提供的一种芯片测试座，包括底座和上盖，该底座前侧延伸设有第一连接体，且该第一连接体对侧延伸设有承接体，底座上方设有四个梯形体，梯形体设有第一固定槽，第一固定槽插接有端子，底座端面的中心处固定连接有固定座，固定座上方延伸设有四个凸台，凸台上设有第二固定槽，承接体通过第二轴杆转动连接有卡扣，上盖的下端通过第一轴杆转动连接第一连接体，上盖的上端固定连接有拉杆。通过梯形体的第一固定槽与凸台的第二固定槽相配合，进一步提高端子的结构稳定性，使端子之间的设计距离更近，提高本技术的端子密集度，提高芯片引脚与端子的电性连接的测试稳定性。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于测试座，具体涉及一种芯片测试座。

技术介绍

1、在芯片制造和测试过程中，芯片测试座是一种常见的设备。它用于将芯片安装在测试平台上，以便进行电气测试、功能验证和性能评估等操作。芯片测试座的设计和技术涉及到多个领域，包括电子工程、机械工程和材料科学等。随着芯片尺寸的减小和引脚数量的增加，芯片测试座需要数量更多和更密集的端子与芯片的引脚连接。

技术实现思路

1、本技术的目的在于提供一种芯片测试座，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。

2、为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种芯片测试座，包括底座和上盖，该底座前侧延伸设有第一连接体，且该第一连接体对侧延伸设有承接体，所述底座上方设有四个梯形体，所述梯形体设有第一固定槽，所述第一固定槽插接有端子，所述底座端面的中心处固定连接有固定座，所述固定座设有四个凸台，所述梯形体位于所述凸台的对侧，所述凸台上设有第二固定槽，所述承接体通过第二轴杆转动连接有卡扣，所述上盖的下端通过第一轴杆转动连接所述第一连接体，所述上盖的上端固定连接有拉杆。

3、优选的，所述第一固定槽与第二固定槽直线连通。

4、优选的，所述底座上方还设有插接孔，所述固定座底部设有插接柱，所述插接柱插接固定在所述插接孔内。

5、优选的，所述卡扣与承接体之间设有簧片，所述卡扣延伸设有卡头和压合块，所述卡头卡扣连接所述拉杆，所述簧片弹性按压所述压合块。

6、优选的，所述第一轴杆套接有扭转弹簧，所述扭转弹簧的两个扭臂分别固定连接所述第一连接体和上盖。

7、优选的，所述底座本体内设有第一筋条。

8、优选的，所述上盖本体内设有第二筋条，所述上盖中心处设有方孔。

9、与现有技术相比，本技术的有益效果是：

10、本技术在底座上设有四个梯形体，梯形体设有第一固定槽，固定槽内插接有端子，使端子固定在底座上，在底座上方还固定安装固定座，固定座上设有凸台，凸台上设有第二固定槽，第一固定槽与第二固定槽使直线连通，使插接在第一固定槽的端子末端插接在第二固定槽内，进一步提高端子的结构稳定性，使端子之间的设计距离更近，提高本技术的端子密集度，提高芯片引脚与端子的电性连接的测试稳定性。

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【技术保护点】

1.一种芯片测试座，包括底座(1)和上盖(2)，该底座(1)前侧延伸设有第一连接体(11)，且该第一连接体(11)对侧延伸设有承接体(12)，其特征在于，所述底座(1)上方设有四个梯形体(13)，所述梯形体(13)设有第一固定槽(130)，所述第一固定槽(130)插接有端子(131)，所述底座(1)端面的中心处固定连接有固定座(14)，所述固定座(14)设有四个凸台(141)，所述梯形体(13)位于所述凸台(141)的对侧，所述凸台(141)上设有第二固定槽(142)，所述承接体(12)通过第二轴杆(120)转动连接有卡扣(121)，所述上盖(2)的下端通过第一轴杆(20)转动连接所述第一连接体(11)，所述上盖(2)的上端固定连接有拉杆(21)。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试座，其特征在于，所述第一固定槽(130)与第二固定槽(142)直线连通。

3.根据权利要求1所述的一种芯片测试座，其特征在于，所述底座(1)上方还设有插接孔(15)，所述固定座(14)底部设有插接柱(140)，所述插接柱(140)插接固定在所述插接孔(15)内。

4.根据权利要求1所述的一种芯片测试座，其特征在于，所述卡扣(121)与承接体(12)之间设有簧片(124)，所述卡扣(121)延伸设有卡头(122)和压合块(123)，所述卡头(122)卡扣连接所述拉杆(21)，所述簧片(124)弹性按压所述压合块(123)。

5.根据权利要求1所述的一种芯片测试座，其特征在于，所述第一轴杆(20)套接有扭转弹簧(201)，所述扭转弹簧(201)的两个扭臂(202)分别固定连接所述第一连接体(11)和上盖(2)。

6.根据权利要求1所述的一种芯片测试座，其特征在于，所述底座(1)本体内设有第一筋条(16)。

7.根据权利要求1所述的一种芯片测试座，其特征在于，所述上盖(2)本体内设有第二筋条(22)，所述上盖(2)中心处设有方孔(23)。

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【技术特征摘要】

1.一种芯片测试座，包括底座(1)和上盖(2)，该底座(1)前侧延伸设有第一连接体(11)，且该第一连接体(11)对侧延伸设有承接体(12)，其特征在于，所述底座(1)上方设有四个梯形体(13)，所述梯形体(13)设有第一固定槽(130)，所述第一固定槽(130)插接有端子(131)，所述底座(1)端面的中心处固定连接有固定座(14)，所述固定座(14)设有四个凸台(141)，所述梯形体(13)位于所述凸台(141)的对侧，所述凸台(141)上设有第二固定槽(142)，所述承接体(12)通过第二轴杆(120)转动连接有卡扣(121)，所述上盖(2)的下端通过第一轴杆(20)转动连接所述第一连接体(11)，所述上盖(2)的上端固定连接有拉杆(21)。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试座，其特征在于，所述第一固定槽(130)与第二固定槽(142)直线连通。

3.根据权利要求1所述的一种芯片测试座，其特征在于，所述底座(1...

【专利技术属性】
技术研发人员：李军，李天雨，
申请(专利权)人：东莞市唯帝信息技术有限公司，
类型：新型
国别省市：