【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于激光颗粒粒度测量，具体涉及一种面向衍射散射法颗粒粒度测量的非独立模式反演方法。
技术介绍
1、颗粒粒度测量对于评价颗粒材料的物理化学性质，指导工业生产具有重要意义，其中对颗粒粒径实现快速、准确的测量是颗粒粒度测量的一个关键问题。在诸多颗粒粒度测量方法中，基于激光的衍射散射法因具有测量速度快、精度高、重复性好、非接触等优点而得到广泛的应用。基于激光的衍射散射法颗粒粒度测量方法通过采集颗粒在前向小角度范围的散射光能分布信号实现对颗粒粒度分布的测量，但是在该测量方法中，由于基于散射光能分布反演粒度分布的问题属于第一类fredholm积分问题，不能直接给出问题的解析解，只能使用寻优反演方法求得最优近似解；同时由于环境光噪声和信号处理电路噪声的存在，会对粒径分布的反演产生很大影响。如何开发稳健的粒度反演方法来降低噪声的影响，实现快速、准确的数据处理是衍射散射法颗粒粒度测量技术中的关键问题。
2、反演方法按照是否已知颗粒粒度分布类型这个先决条件分为独立模式方法和非独立模式方法。独立模式方法不需要预先掌握颗粒的信息，理论上可...
【技术保护点】
1.一种面向衍射散射法颗粒粒度测量的非独立模式反演方法，其特征在于：基于衍射散射法颗粒粒度分布测量装置实施，衍射散射法颗粒粒度分布测量装置包括依次设置的激光器(1)、第一光阑(2)、第一透镜(3)、第二光阑(4)、第二透镜(5)、待测样品区域(6)、傅里叶接收透镜(7)和多元光电探测器(8)；激光器(1)采用可见光激光光源；第一光阑(2)为圆孔光阑，第一透镜(3)和第二透镜(5)共焦点放置，并与在焦点位置处放置的第二光阑(4)一起组成激光的扩束准直系统；待测样品区域(6)采用透明比色皿或者样品循环系统的一部分，用于放置静态或动态待测样品；傅里叶接收透镜(7)将衍射散射...
【技术特征摘要】
1.一种面向衍射散射法颗粒粒度测量的非独立模式反演方法，其特征在于：基于衍射散射法颗粒粒度分布测量装置实施，衍射散射法颗粒粒度分布测量装置包括依次设置的激光器(1)、第一光阑(2)、第一透镜(3)、第二光阑(4)、第二透镜(5)、待测样品区域(6)、傅里叶接收透镜(7)和多元光电探测器(8)；激光器(1)采用可见光激光光源；第一光阑(2)为圆孔光阑，第一透镜(3)和第二透镜(5)共焦点放置，并与在焦点位置处放置的第二光阑(4)一起组成激光的扩束准直系统；待测样品区域(6)采用透明比色皿或者样品循环系统的一部分，用于放置静态或动态待测样品；傅里叶接收透镜(7)将衍射散射光信号聚焦到放置在傅里叶共轭平面上的多元光电探测器(8)上，多元光电探测器(8)是接收衍射散射光强分布的光探测器整列，为环形光电池探测器或平面电荷耦合器件。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，包括以下步骤：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于：步骤2)根据光能分布系数矩阵t与尺寸分布列向量w的向量积求解光能分布列向量...
【专利技术属性】
技术研发人员：汪加洁，徐数平，崔泽成，高冰，韩一平，武福平，
申请(专利权)人：西安电子科技大学，
类型：发明
国别省市：
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