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一种面向衍射散射法颗粒粒度测量的非独立模式反演方法技术
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文档序号:40051990
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一种面向衍射散射法颗粒粒度测量的非独立模式反演方法,涉及光散射法颗粒测量技术领域,基于衍射散射法颗粒粒度分布测量装置实施,不需要预先已知被测颗粒系统的分布函数类型,将分布函数类型设定为高斯混合分布,反演寻优方法采用改进蜂群方法,能够有效抑制...
该专利属于西安电子科技大学所有,仅供学习研究参考,未经过西安电子科技大学授权不得商用。
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