【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于电磁兼容测试，具体涉及一种异形屏蔽壳体屏蔽效能测试天线位置选择方法。
技术介绍
1、伴随着信息电子技术的高速发展，电子设备的大规模应用引发了一系列电磁干扰与辐射问题。为有效防止电磁干扰，可通过运用金属材质封闭结构作为壳体进行电磁防护。为定量研究电磁环境对设备的干扰情况，需要准确掌握屏蔽壳体的电磁屏蔽效能。目前，国内外针对机柜机箱等结构为长方体的屏蔽壳体屏蔽效能研究较为成熟，提供了科学有效的屏蔽效能测试方法。然而，针对实际应用需求，现有屏蔽壳体不局限于长方体结构，还包括圆柱体、棱台、不规则曲面体等异形结构，由于几何结构差异，现有常规测试方法难以准确表征异形壳体屏蔽效能，应根据异形屏蔽壳体几何特性选择合适有效的屏蔽效能测试位置。
2、有鉴于此，在常规长方体壳体屏蔽效能测试方法的基础上，需要一种异形屏蔽壳体屏蔽效能测试天线位置选择方法，以便于科学评价异形屏蔽壳体屏蔽效能。而目前还未针对异形屏蔽壳体提供全面有效的屏蔽效能测试天线位置选择方法，因此异形屏蔽壳体屏蔽效能测试天线位置的研究对于屏蔽壳体的电磁兼容与电磁防护具有
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1.一种异形屏蔽壳体屏蔽效能测试天线位置选择方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种异形屏蔽壳体屏蔽效能测试天线位置选择方法，其特征在于：当几何特征为复合型时，所述异形屏蔽壳体为复合型屏蔽壳体，将异形屏蔽壳体划分为若干个单一几何特征的子异形屏蔽壳体，根据子异形屏蔽壳体的几何特征，确定出各子异形屏蔽壳体所属的几何结构分类；依据各子异形屏蔽壳体所属的几何结构分类，确定出发射端测试天线和接收端测试天线的位置。
3.根据权利要求1或2所述的一种异形屏蔽壳体屏蔽效能测试天线位置选择方法，其特征在于：当几何特征为柱型时，所述几何结构分类包括圆...
【技术特征摘要】
1.一种异形屏蔽壳体屏蔽效能测试天线位置选择方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种异形屏蔽壳体屏蔽效能测试天线位置选择方法，其特征在于：当几何特征为复合型时，所述异形屏蔽壳体为复合型屏蔽壳体，将异形屏蔽壳体划分为若干个单一几何特征的子异形屏蔽壳体，根据子异形屏蔽壳体的几何特征，确定出各子异形屏蔽壳体所属的几何结构分类；依据各子异形屏蔽壳体所属的几何结构分类，确定出发射端测试天线和接收端测试天线的位置。
3.根据权利要求1或2所述的一种异形屏蔽壳体屏蔽效能测试天线位置选择方法，其特征在于：当几何特征为柱型时，所述几何结构分类包括圆柱型屏蔽壳体和棱柱型屏蔽壳体；
4.根据权利要求3所述的一种异形屏蔽壳体屏蔽效能测试天线位置选择方法，其特征在于：
5.根据权利要求3所述的一种异形屏蔽壳体屏蔽效能测试天线位置选择方法，其特征在于：
6.根据权利要求3所述的一种异形屏蔽壳体屏蔽效能测试天...
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