【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于电磁兼容测试，具体涉及一种异形屏蔽壳体屏蔽效能测试天线位置选择方法。
技术介绍
1、伴随着信息电子技术的高速发展，电子设备的大规模应用引发了一系列电磁干扰与辐射问题。为有效防止电磁干扰，可通过运用金属材质封闭结构作为壳体进行电磁防护。为定量研究电磁环境对设备的干扰情况，需要准确掌握屏蔽壳体的电磁屏蔽效能。目前，国内外针对机柜机箱等结构为长方体的屏蔽壳体屏蔽效能研究较为成熟，提供了科学有效的屏蔽效能测试方法。然而，针对实际应用需求，现有屏蔽壳体不局限于长方体结构，还包括圆柱体、棱台、不规则曲面体等异形结构，由于几何结构差异，现有常规测试方法难以准确表征异形壳体屏蔽效能，应根据异形屏蔽壳体几何特性选择合适有效的屏蔽效能测试位置。
2、有鉴于此，在常规长方体壳体屏蔽效能测试方法的基础上，需要一种异形屏蔽壳体屏蔽效能测试天线位置选择方法，以便于科学评价异形屏蔽壳体屏蔽效能。而目前还未针对异形屏蔽壳体提供全面有效的屏蔽效能测试天线位置选择方法，因此异形屏蔽壳体屏蔽效能测试天线位置的研究对于屏蔽壳体的电磁兼容与电磁防护具有重要意义。
技术实现思路
1、针对上述问题，本专利技术提出一种异形屏蔽壳体屏蔽效能测试天线位置选择方法，能够为柱型、台/锥型、多面结构型、不规则全曲面型以及上述形状复合型屏蔽壳体的屏蔽效能测试提供明确的测试天线位置，优化测试方法，提高测试效率，以保证科学评价异形屏蔽壳体的屏蔽效能。
2、为了实现上述技术目的，达到上述技术效果，本专利技术通
3、一种异形屏蔽壳体屏蔽效能测试天线位置选择方法，包括：
4、基于测量频率，确定出测试天线的类型；
5、当判定屏蔽壳体为异形屏蔽壳体，则基于异形屏蔽壳体的尺寸，确定出测试天线的尺寸；
6、根据异形屏蔽壳体的几何特征，确定出异形屏蔽壳体所属的几何结构分类；
7、依据异形屏蔽壳体所属的几何结构分类，确定出发射端测试天线和接收端测试天线的位置。
8、可选地，当几何特征为复合型时，所述异形屏蔽壳体为复合型屏蔽壳体，将异形屏蔽壳体划分为若干个单一几何特征的子异形屏蔽壳体，根据子异形屏蔽壳体的几何特征，确定出各子异形屏蔽壳体所属的几何结构分类；依据各子异形屏蔽壳体所属的几何结构分类，确定出发射端测试天线和接收端测试天线的位置。
9、可选地，当几何特征为柱型时，所述几何结构分类包括圆柱型屏蔽壳体和棱柱型屏蔽壳体；
10、当异形屏蔽壳体的几何特征为台型或锥型时，所述几何结构分类包括圆台型屏蔽壳体、圆锥形屏蔽壳体、棱台型屏蔽壳体和棱锥型屏蔽壳体。
11、可选地，对于圆柱型屏蔽壳体，沿圆柱型屏蔽壳体的径向方向从内至外依次布置接收端测试天线和发射端测试天线；
12、对于棱柱型屏蔽壳体，在棱柱型屏蔽壳体的各径向侧面垂直法线方向从内至外依次布置接收端测试天线和发射端测试天线；
13、对于圆台型屏蔽壳体或圆锥型屏蔽壳体，沿圆台型屏蔽壳体或圆锥型屏蔽壳体的径向方向从内至外依次布置接收端测试天线和发射端测试天线，并在斜面的垂直法线方向从内至外依次布置接收端测试天线和发射端测试天线；
14、对于棱台型屏蔽壳体或棱锥型屏蔽壳体，在棱台型屏蔽壳体或棱锥型屏蔽壳体的斜面的垂直法线方向从内至外依次布置接收端测试天线和发射端测试天线。
15、可选地，当圆柱型屏蔽壳体底面直径大于2m时，沿圆柱型屏蔽壳体的圆周方向布置多组接收端测试天线和发射端测试天线，沿圆周方向相邻两组天线的间距小于或等于2.6m。
16、可选地，当圆台型屏蔽壳体或圆锥型屏蔽壳体下底面直径大于2m时，沿圆台型屏蔽壳体或圆锥型屏蔽壳体的圆周方向布置多组接收端测试天线和发射端测试天线，沿圆周方向相邻两组天线的间距小于或等于2.6m，并在斜面的垂直法线方向布置多组接收端测试天线和发射端测试天线，相邻两组天线的间距小于或等于2.6m。
17、可选地，当几何特征为多面结构型时，所述几何结构分类为多面结构型异形屏蔽壳体，在斜面的垂直法线方向从内至外依次布置接收端测试天线和发射端测试天线。
18、可选地，当几何特征为不规则全曲面型时，所述几何结构分类为不规则全曲面型异形屏蔽壳体，将异形屏蔽壳体的内部按照工作区域进行划分，按照工作区域与接收端测试天线和发射端测试天线之间的对应关系，布置接收端测试天线和发射端测试天线。
19、与现有技术相比，本专利技术的有益效果：
20、本专利技术提供了一种异形屏蔽壳体屏蔽效能测试天线位置选择方法，能够为柱型、台型、锥型、多面结构型、不规则全曲面型以及上述形状复合型屏蔽壳体的屏蔽效能测试提供明确的测试天线位置，优化测试方法，提高测试效率，以保证科学评价异形屏蔽壳体的屏蔽效能。
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1.一种异形屏蔽壳体屏蔽效能测试天线位置选择方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种异形屏蔽壳体屏蔽效能测试天线位置选择方法，其特征在于：当几何特征为复合型时，所述异形屏蔽壳体为复合型屏蔽壳体，将异形屏蔽壳体划分为若干个单一几何特征的子异形屏蔽壳体，根据子异形屏蔽壳体的几何特征，确定出各子异形屏蔽壳体所属的几何结构分类；依据各子异形屏蔽壳体所属的几何结构分类，确定出发射端测试天线和接收端测试天线的位置。
3.根据权利要求1或2所述的一种异形屏蔽壳体屏蔽效能测试天线位置选择方法，其特征在于：当几何特征为柱型时，所述几何结构分类包括圆柱型屏蔽壳体和棱柱型屏蔽壳体；
4.根据权利要求3所述的一种异形屏蔽壳体屏蔽效能测试天线位置选择方法，其特征在于：
5.根据权利要求3所述的一种异形屏蔽壳体屏蔽效能测试天线位置选择方法，其特征在于：
6.根据权利要求3所述的一种异形屏蔽壳体屏蔽效能测试天线位置选择方法，其特征在于：当圆台型屏蔽壳体或圆锥型屏蔽壳体下底面直径大于2m时，沿圆台型屏蔽壳体或圆锥型屏蔽壳体的圆周方向布置多
7.根据权利要求1或2所述的一种异形屏蔽壳体屏蔽效能测试天线位置选择方法，其特征在于：当几何特征为多面结构型时，所述几何结构分类为多面结构型异形屏蔽壳体，在斜面的垂直法线方向从内至外依次布置接收端测试天线和发射端测试天线。
8.根据权利要求1或2所述的一种异形屏蔽壳体屏蔽效能测试天线位置选择方法，其特征在于：当几何特征为不规则全曲面型时，所述几何结构分类为不规则全曲面型异形屏蔽壳体，将异形屏蔽壳体的内部按照工作区域进行划分，按照工作区域与接收端测试天线和发射端测试天线之间的对应关系，布置接收端测试天线和发射端测试天线。
...【技术特征摘要】
1.一种异形屏蔽壳体屏蔽效能测试天线位置选择方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种异形屏蔽壳体屏蔽效能测试天线位置选择方法，其特征在于：当几何特征为复合型时，所述异形屏蔽壳体为复合型屏蔽壳体，将异形屏蔽壳体划分为若干个单一几何特征的子异形屏蔽壳体，根据子异形屏蔽壳体的几何特征，确定出各子异形屏蔽壳体所属的几何结构分类；依据各子异形屏蔽壳体所属的几何结构分类，确定出发射端测试天线和接收端测试天线的位置。
3.根据权利要求1或2所述的一种异形屏蔽壳体屏蔽效能测试天线位置选择方法，其特征在于：当几何特征为柱型时，所述几何结构分类包括圆柱型屏蔽壳体和棱柱型屏蔽壳体；
4.根据权利要求3所述的一种异形屏蔽壳体屏蔽效能测试天线位置选择方法，其特征在于：
5.根据权利要求3所述的一种异形屏蔽壳体屏蔽效能测试天线位置选择方法，其特征在于：
6.根据权利要求3所述的一种异形屏蔽壳体屏蔽效能测试天...
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