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一种异形屏蔽壳体屏蔽效能测试天线位置选择方法技术
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文档序号:40051614
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本发明公开了一种异形屏蔽壳体屏蔽效能测试天线位置选择方法,包括基于测量频率,确定出测试天线的类型;当判定屏蔽壳体为异形屏蔽壳体,则基于异形屏蔽壳体的尺寸,确定出测试天线的尺寸;根据异形屏蔽壳体的几何特征,确定出异形屏蔽壳体所属的几何结构分类...
该专利属于东南大学所有,仅供学习研究参考,未经过东南大学授权不得商用。
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