【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及服务器，尤其涉及一种追踪传感器数据监控过程的测试方法、系统、计算机设备及存储介质。
技术介绍
1、服务器是计算机的一种，它比普通计算机运行更快、负载更高、价格更贵。服务器在网络中为其它客户机(如pc机、智能手机、atm等终端甚至是火车系统等大型设备)提供计算或者应用服务。服务器具有高速的cpu运算能力、长时间的可靠运行、强大的i/o外部数据吞吐能力以及更好的扩展性。
2、根据服务器所提供的服务，一般来说服务器都具备承担响应服务请求、承担服务、保障服务的能力。服务器作为电子设备，其内部的结构十分的复杂，但与普通的计算机内部结构相差不大，如：cpu、硬盘、内存，系统、系统总线等。
3、目前，bmc(board manager controller，基板管理控制器)是服务器上的基板管理系统，其负责服务器的资产信息显示、硬件监控、散热调控、系统配置、远程监控、日志收集、故障诊断、系统维护等重要功能。在bmc的测试过程中，涉及到一项bmc的重要功能：数据监控。bmc在采集服务器传感器数据(温度、电压等)时，因为传感器数据是实时的，这就要求bmc在呈现数据时具有数据过滤的功能，即：对一段时间内采集到的传感器数据进行过滤，去除最大最小值，剩余数据取平均值。但是，在实际测试场景中，存在一定的困难：传感器数据过滤涉及到底层代码的过滤算法，一直无法测试，导致bmc获取数据的过程一直无法从底层层面验证；为了解决该技术问题现提出追踪传感器数据监控过程的测试方法、系统、计算机设备及存储介质。
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1、为了解决上述现有技术中存在的技术问题，本专利技术提供了一种追踪传感器数据监控过程的测试方法、系统、计算机设备及存储介质，实现对bmc传感器数据采集过程的追踪与测试，更好的覆盖了bmc传感器的稳定性测试，为服务器的整机稳定性能带来了更高的提升。
2、为实现上述目的，本专利技术实施例提供了如下的技术方案：
3、第一方面，在本专利技术提供的一个实施例中，提供了追踪传感器数据监控过程的测试方法，该方法包括以下步骤：
4、获取传感器的原始数据；
5、对获取的传感器的原始数据进行过滤，以获得传感器数据值集；
6、获取基板管理系统的智能平台管理接口读值；
7、将传感器数据值与智能平台管理接口读值进行比对，以获得测试结果数据。
8、本专利技术获取传感器的原始数据；对获取的传感器的原始数据进行过滤，以获得传感器数据值集；获取基板管理系统的智能平台管理接口读值；将传感器数据值与智能平台管理接口读值进行比对，以获得测试结果数据。本专利技术实现对bmc传感器数据采集过程的追踪与测试，更好的覆盖了bmc传感器的稳定性测试，为服务器的整机稳定性能带来了更高的提升。
9、作为本专利技术的进一步方案，所述原始数据包括各项温度、电压和电流。
10、作为本专利技术的进一步方案，所述原始数据中每项数据采用次数不少于10次。
11、作为本专利技术的进一步方案，获取传感器的原始数据，通过进入基板管理控制器的调试模式中获取。
12、作为本专利技术的进一步方案，所述对获取的传感器的原始数据进行过滤，以获得传感器数据值集，包括：
13、将原始数据中的每项数据分为最小值集、中间值集和最大值集，然后取每项数据的中间值集的平均值为对应项数据的传感器数据值，每项传感器数据值以组成传感器数据值集。
14、作为本专利技术的进一步方案，所述最小值集包括三个最小值；所述最大值集包括三个最大值；所述中间值集包括四个中间值。
15、作为本专利技术的进一步方案，所述将传感器数据值与智能平台管理接口读值进行比对，以获得测试结果数据，包括：
16、将传感器数据值与智能平台管理接口读值中的多个具体数值进行逐个比对，判断两者是否相同，并输出测试结果数据。
17、第二方面，在本专利技术提供的又一个实施例中，提供了追踪传感器数据监控过程的测试方法系统，该系统包括：原始数据获取模块、数据过滤模块、智能平台管理接口读值获取模块和比对模块。
18、所述原始数据获取模块，用于获取传感器的原始数据。
19、所述数据过滤模块，用于对获取的传感器的原始数据进行过滤，以获得传感器数据值集。
20、所述智能平台管理接口读值获取模块，用于获取基板管理系统的智能平台管理接口读值，
21、所述比对模块，用于将传感器数据值与智能平台管理接口读值进行比对，以获得测试结果数据。
22、第三方面，在本专利技术提供的又一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器加载并执行所述计算机程序时实现追踪传感器数据监控过程的测试方法的步骤。
23、第四方面，在本专利技术提供的再一个实施例中，提供了一种存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器加载并执行时实现所述追踪传感器数据监控过程的测试方法的步骤。
24、本专利技术提供的技术方案，具有如下有益效果：
25、本专利技术提供的追踪传感器数据监控过程的测试方法、系统、计算机设备及存储介质，该方法包括获取传感器的原始数据；对获取的传感器的原始数据进行过滤，以获得传感器数据值集；获取基板管理系统的智能平台管理接口读值；将传感器数据值与智能平台管理接口读值进行比对，以获得测试结果数据。本专利技术实现对bmc传感器数据采集过程的追踪与测试，更好的覆盖了bmc传感器的稳定性测试，为服务器的整机稳定性能带来了更高的提升。
26、本专利技术的这些方面或其他方面在以下实施例的描述中会更加简明易懂。应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本专利技术。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种追踪传感器数据监控过程的测试方法，其特征在于，该方法包括：
2.如权利要求1所述的追踪传感器数据监控过程的测试方法，其特征在于，所述原始数据包括各项温度、电压和电流。
3.如权利要求1所述的追踪传感器数据监控过程的测试方法，其特征在于，所述原始数据中每项数据采用次数不少于10次。
4.如权利要求3所述的追踪传感器数据监控过程的测试方法，其特征在于，获取传感器的原始数据，通过进入基板管理控制器的调试模式中获取。
5.如权利要求3所述的追踪传感器数据监控过程的测试方法，其特征在于，所述对获取的传感器的原始数据进行过滤，以获得传感器数据值集，包括：
6.如权利要求5所述的追踪传感器数据监控过程的测试方法，其特征在于，所述最小值集包括三个最小值；所述最大值集包括三个最大值；所述中间值集包括四个中间值。
7.如权利要求1所述的追踪传感器数据监控过程的测试方法，其特征在于，所述将传感器数据值与智能平台管理接口读值进行比对，以获得测试结果数据，包括：
8.一种追踪传感器数据监控过程的测试方法系统，其特征
9.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器加载并执行所述计算机程序时实现如权利要求1-7任一项所述的追踪传感器数据监控过程的测试方法的步骤。
10.一种存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器加载并执行时实现如权利要求1-7任一项所述的追踪传感器数据监控过程的测试方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种追踪传感器数据监控过程的测试方法，其特征在于，该方法包括：
2.如权利要求1所述的追踪传感器数据监控过程的测试方法，其特征在于，所述原始数据包括各项温度、电压和电流。
3.如权利要求1所述的追踪传感器数据监控过程的测试方法，其特征在于，所述原始数据中每项数据采用次数不少于10次。
4.如权利要求3所述的追踪传感器数据监控过程的测试方法，其特征在于，获取传感器的原始数据，通过进入基板管理控制器的调试模式中获取。
5.如权利要求3所述的追踪传感器数据监控过程的测试方法，其特征在于，所述对获取的传感器的原始数据进行过滤，以获得传感器数据值集，包括：
6.如权利要求5所述的追踪传感器数据监控过程的测试方法，其特征在于，所述最小值集包括三个最小值；所...
【专利技术属性】
技术研发人员：丁宇翔，李艳，吴德超，
申请(专利权)人：西安超越申泰信息科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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