【技术实现步骤摘要】
本技术涉及分析仪，具体为一种抗干扰的x衍射分析仪。
技术介绍
1、x衍射线为一种长波分段的电磁波，可以穿透一定厚度的物质，变动与对物质内部的微观结构进行研究，在对物质进行实验以及研究中常用的x衍射线的分析仪，是通过x射线转折延伸出来的电磁波，在x衍射线的转折过程中会其他波段的电磁波影响x衍射线的电磁波频段。
2、现有的x衍射线通过x射线通过折射与样品板接触，使得x射线在激发作用下产生x衍射线，使得x衍射线向被检测物质提供检测分析的数据电磁信息，与其他波段的电磁波混合，影响数据信息的接触效果，且随着不同检测样品的角度变化，使得x射线的折射角度影响物质检测的x衍射线电磁波传递的数据质量，并且检测端部分样品由于材质原因，难以放置进入样品板或者样品箱内部，由于样品厚度原因使得x衍射线难以传递样品的使用效果，限制实验数据检测。
技术实现思路
1、本技术的目的在于提供一种抗干扰的x衍射分析仪，以解决上述
技术介绍
中提出检测时x衍射线与其他波段的电磁波混合，影响数据信息的接触效果，且随着不同检测样品的角度变化，使得x射线的折射角度影响物质检测的x衍射线电磁波传递的数据质量，并且样品厚度原因使得x衍射线难以传递样品的使用效果，限制实验数据检测的问题。
2、为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种抗干扰的x衍射分析仪，包括安装筒，其设置为矩形筒状结构，所述安装筒一端卡合连接有定位箱，且定位箱内部被x光管贯穿，所述x光管底端与限位块卡合连接，且x光管内部中间转动连接有转射板，
3、试样板，其两侧的杆体结构贯穿所述定位箱内部，所述试样板的杆体结构设置有硅胶套结构，且试样板位于滤波薄膜一侧，所述滤波薄膜一侧卡合连接在定位箱内壁面，且滤波薄膜另一侧与电控滚珠丝杆侧端面卡合连接；
4、分光外管，其底端矩形块与所述电控滚珠丝杆的滑台接触，所述分光外管内部设置有晶体内管，且分光外管外壁面对称设置有矩形块体结构，所述分光外管上端矩形块于导向杆滑动连接，且导向杆侧壁面与滤波薄膜卡合连接。
5、采用上述技术方案，便于辅助x衍射线对其他的电磁波进行过滤，减少电磁波之间的干扰。
6、优选的，所述安装筒端面内部设置有与定位箱卡合两侧的凹槽，且定位箱侧壁面设置有向内凸起的板体结构。
7、采用上述技术方案，便于安装筒与定位箱之间相互定位安装限位。
8、优选的，所述定位箱内部设置有与x光管安和连接的管口，且定位箱外壁面对称设置有与试样板的杆体贯穿转动的辅助轴承。
9、采用上述技术方案，便于定位箱为试样板提供限位以及安装位置导向。
10、优选的，所述试样板两端卡合连接的杆体结构与辅助轴承之间转动连接，且试样板的圆形板体与定位箱内壁之间留有缝隙。
11、采用上述技术方案，便于试样板的杆体结构与辅助轴承转动连接，便于装置定位安装。
12、优选的，所述电控滚珠丝杆安装在安装筒内壁面，且电控滚珠丝杆与导向杆以分光外管中心线对称设置。
13、采用上述技术方案，便于电控滚珠丝杆与导向杆配合为分光外管活动提供导向。
14、优选的，所述晶体内管一端与计数检测器中心线对齐，且计数检测器侧壁面与安装筒内壁的缓冲块接触，并且安装筒一端卡合连接有防护板。
15、采用上述技术方案，便于缓冲块为计数检测器提供安装定位防护，减少计数检测器碰撞导致的损伤。
16、与现有技术相比，本技术的有益效果是：该抗干扰的x衍射分析仪：
17、1.在使用该装置时，通过装置内部的位于定位箱与电控滚珠丝杆之间的滤波薄膜对穿过的x衍射线进行过滤，其中滤波薄膜通过内部若干高声阻抗和低声阻抗的材料交替堆叠形成布拉格反射面，经过多层结构的反射过滤，使得反射波会按合适的相位叠加，通过多次反射后最终达到近似全反射向计数检测器一侧输出对应的x衍射线电子信号，降低其他电磁波的输出状态；
18、2.通过装置内部位于x光管内部转动的转射板，使得进入x光管内部的x射线被转射板向一侧的试样板输出，使得试样板内部的物质被x光管内部的x射线进行分析贯穿，同时位于安装筒内部设置的分光外管与晶体内管配合，保持x衍射线的输出质量；
19、3.通过装置内部卡合连接在试样板两侧的杆体结构在使用时随着辅助轴承转动，使得试样板位于定位箱内部转动，调整位于试样板内部物质可检测的角度，使得试样板与转射板配合作业，便于x衍射线对物质的分析作业。
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1.一种抗干扰的X衍射分析仪，包括安装筒（1）、试样板（6）和分光外管（10），其特征在于：
2.根据权利要求1所述的一种抗干扰的X衍射分析仪，其特征在于：所述安装筒（1）端面内部设置有与定位箱（2）卡合两侧的凹槽，且定位箱（2）侧壁面设置有向内凸起的板体结构。
3.根据权利要求1所述的一种抗干扰的X衍射分析仪，其特征在于：所述定位箱（2）内部设置有与X光管（3）安和连接的管口，且定位箱（2）外壁面对称设置有与试样板（6）的杆体贯穿转动的辅助轴承（7）。
4.根据权利要求1所述的一种抗干扰的X衍射分析仪，其特征在于：所述试样板（6）两端卡合连接的杆体结构与辅助轴承（7）之间转动连接，且试样板（6）的圆形板体与定位箱（2）内壁之间留有缝隙。
5.根据权利要求1所述的一种抗干扰的X衍射分析仪，其特征在于：所述电控滚珠丝杆（9）安装在安装筒（1）内壁面，且电控滚珠丝杆（9）与导向杆（12）以分光外管（10）中心线对称设置。
6.根据权利要求1所述的一种抗干扰的X衍射分析仪，其特征在于：所述晶体内管（11）一端与计数检测器（14
...【技术特征摘要】
1.一种抗干扰的x衍射分析仪，包括安装筒（1）、试样板（6）和分光外管（10），其特征在于：
2.根据权利要求1所述的一种抗干扰的x衍射分析仪，其特征在于：所述安装筒（1）端面内部设置有与定位箱（2）卡合两侧的凹槽，且定位箱（2）侧壁面设置有向内凸起的板体结构。
3.根据权利要求1所述的一种抗干扰的x衍射分析仪，其特征在于：所述定位箱（2）内部设置有与x光管（3）安和连接的管口，且定位箱（2）外壁面对称设置有与试样板（6）的杆体贯穿转动的辅助轴承（7）。
4.根据权利要求1所述的一种抗干扰的x衍射分析仪，其特征在于：所...
【专利技术属性】
技术研发人员：张建华，程华月，刘斌，吴铂远，申小林，吴珂，
申请(专利权)人：江阴市莹珂新材料科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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