【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及火工品阻抗检测及补偿方法，具体涉及一种综合电子设备火工品阻抗检测补偿方法。
技术介绍
1、外航天器发射装置中普遍使用火工品，火工品点火控制方式通常应用于热电池激活、发动机点火、关键机械设备中的爆炸螺栓点火等场合。一般由控制电路提供电流(直列式或电容放电提供电流)点爆火工品，火工品发热点燃发火装置。火工品点火的成败对于航天器至关重要，如果火工品点火失败，部分电路将失去能源供给，无法正常工作，航天器则无法起飞。因此，火工品的安全性和可靠性一直都是航天器发射关注的重点。为确保火工品工作安全可靠性，需要随时对火工品的阻抗进行检查。传统的火工品阻抗检查一般采用人工手动测量火工品两端阻抗的方法检测阻抗。飞行器系统的火工品阻抗较小，一般仅为0.5ω～1.5ω，且阻抗随温度变化较大，考虑到系统中存在线缆的阻抗误差，火工品通道阻抗测试精度为2ω左右。而实际使用时，火工品通道阻抗测试精度要求为0.5ω左右，超出该精度范围系统会自检报故障。如要求点火回路(含电缆、火工品)阻值大于5ω或者小于0.5ω时(温度范围：-40℃～+60℃)，自检报故障。
2、综合电子设备着眼于未来飞行器研制低成本、高集成、通用化等新要求，将传统导弹武器系统上的主控计算机、电控点火控制器等多个单机集成起来，实现功能一体化。现有的综合电子设备要么不具备火工品阻抗检测功能，要么火工品阻抗检测精度较差，达不到预期性能。如何将火工品阻抗检测功能融合到综合电子设备中，实现火工品阻抗检测的自动化和智能化，并通过算法对火工品阻抗检测通道进行补偿，保证火工品阻抗测试
技术实现思路
1、本专利技术的目的是提供一种综合电子设备火工品阻抗检测补偿方法，以解决现有的综合电子设备不具备火工品阻抗检测功能，且阻抗检测精度较差、达不到预期性能且检测难度大的技术问题。
2、为了达到上述目的，本专利技术提供了一种综合电子设备火工品阻抗检测补偿方法，其特殊之处在于，包括以下步骤：
3、步骤1、用火工品阻抗采集电路，通过综合电子设备火工品接口端，对第n路火工品阻抗进行实时采集，获得第n路火工品阻抗最终测试值rsn，n＝1，2，……n；
4、步骤2、上位机实时显示第n路火工品阻抗最终测试值rsn；
5、步骤3、按以下公式计算综合电子设备第n路接口端的固有阻抗值rgn：
6、rgn＝rgn1-rgn2；
7、其中：
8、rgn1为采用万用表测试得到的综合电子设备第n路接口端的阻抗值；
9、rgn2为万用表两根表笔短接时的短接阻抗值；
10、步骤4、在综合电子设备中与步骤1中第n路火工品相对应的接口端，连接标准电阻箱，用于模拟第n路火工品；
11、调整标准电阻箱的阻值为rsn0；计算不同阻值rsn0时上位机的阻抗输出rsn和电阻箱阻值rsn0之间的差值，取均值后作为第n路火工品阻抗偏差rbn；
12、计算标准测试状态下第n路火工品阻抗的系统测试偏差rcn，rcn＝rbn-rgn；
13、按阻抗测试补偿模型对上位机软件显示值进行补偿，补偿后上位机软件显示值即为第n路火工品阻抗实际值r；所述阻抗测试补偿模型如下：
14、r＝rn-rcn-rtn·△t式中，
15、rnn是步骤1中得到的该路火工品阻抗的最终测试值rsn；
16、rtn为第n路火工品阻值的温度补偿系数；
17、△t为第n路火工品附近的温度传感器测得的温度与火工品常温测试温度的差值；
18、步骤5、重复步骤1-4，完成n路火工品阻抗的检测。
19、进一步地，还包括调整补偿参数的步骤，具体为：
20、若阻抗补偿后显示值与第n路火工品阻抗实际值存在差异，则调整补偿参数，使显示值与实际值相符；所述补偿参数为测试值与实际值的差。
21、进一步地，还包括三次项温度补偿的步骤，具体为：
22、分别测试高温、常温和低温下火工品的阻抗，对阻抗测试值进行三次项拟合，计算出对应的三阶温度系数t3、t2、t，并按下式对阻抗进行三次项温度补偿：
23、r＝rn-rtn3·t3-rtn2·t2-rtn1·t-rtn0
24、其中，rtn3表示第n路火工品的三次项温度系数，rtn2表示第n路火工品的二次项温度系数，rtn1表示第n路火工品的一次项温度系数，rtn0表示第n路火工品的零次项温度系数。
25、进一步地，还包括五次项温度补偿的步骤，具体为：
26、a)在-40℃下对综合电子设备通电，采集20min火工品的阻抗；
27、b)综合电子设备不断电，温箱从-40℃升至60℃，温度变化速率为1℃/min，升温过程中继续采集阻抗测试数据；
28、c)当综合电子设备升温至60℃后，继续保温采集20min阻抗测试数据，之后将综合电子设备断电；
29、d)对采集到的所有阻抗测试数据进行五次项拟合，计算出五阶温度系数，并对阻抗进行五次项温度补偿，补偿模型如下：
30、r＝rn-rtn5·t5-rtn4·t4-rtn3·t3-rtn2·t2-rtn1·t-rtn0。
31、进一步地，所述温度补偿中，所述高温为60℃；所述低温为-40℃。
32、进一步地，步骤4中，所述温度传感器型号为ds18b20。
33、进一步地，所述火工品阻抗采集电路包括恒流源、18位adc芯片ads8691、反向二极管v1、反向二极管v2、电阻r1、开关s1、开关s2以及开关s3；
34、所述恒流源通过开关s1与电阻r1一端连接、通过开关s2与反向二极管v1的阳极连接、通过开关s3与反向二极管v2的阳极连接；
35、所述电阻r1的另一端和反向二极管v1的阴极接地；
36、所述反向二极管v2的阴极与第n路火工品连接；
37、所述第n路火工品连接有电控开关q1。
38、本专利技术的有益效果：
39、本专利技术提高了火工品阻抗测试精度和自动化水平，实现火工品阻抗检测功能在综合电子设备上的工程化应用。该方法也可推广应用于其它需要检测火工品阻抗的场合，对工程实践具有一定的指导意义。
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1.一种综合电子设备火工品阻抗检测补偿方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的综合电子设备火工品阻抗检测补偿方法，其特征在于，还包括调整补偿参数的步骤，具体为：
3.根据权利要求1或2所述的综合电子设备火工品阻抗检测补偿方法，其特征在于，还包括三次项温度补偿的步骤，具体为：
4.根据权利要求1或2所述的综合电子设备火工品阻抗检测补偿方法，其特征在于，还包括五次项温度补偿的步骤，具体为：
5.根据权利要求3所述的综合电子设备火工品阻抗检测补偿方法，其特征在于：所述温度补偿中，所述高温为60℃；所述低温为-40℃。
6.根据权利要求5所述的综合电子设备火工品阻抗检测补偿方法，其特征在于：步骤4中，所述温度传感器型号为DS18B20。
7.根据权利要求1所述的综合电子设备火工品阻抗检测补偿方法，其特征在于：所述火工品阻抗采集电路包括恒流源、18位ADC芯片ADS8691、反向二极管V1、反向二极管V2、电阻R1、开关S1、开关S2以及开关S3；
【技术特征摘要】
1.一种综合电子设备火工品阻抗检测补偿方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的综合电子设备火工品阻抗检测补偿方法，其特征在于，还包括调整补偿参数的步骤，具体为：
3.根据权利要求1或2所述的综合电子设备火工品阻抗检测补偿方法，其特征在于，还包括三次项温度补偿的步骤，具体为：
4.根据权利要求1或2所述的综合电子设备火工品阻抗检测补偿方法，其特征在于，还包括五次项温度补偿的步骤，具体为：
5.根据权利要...
【专利技术属性】
技术研发人员：汤健明，耿为盟，魏青，罗敏华，
申请(专利权)人：西安航天精密机电研究所，
类型：发明
国别省市：
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