【技术实现步骤摘要】
本申请涉及半导体器件工艺,具体涉及一种氮化镓发光二极管外延晶圆及其制备方法。
技术介绍
1、中大功率或垂直封装的氮化镓(gan)发光二极管(light emitting diode,led)器件一般需要在碳化硅(sic)或者gan衬底的gan led外延片上制备,而sic或者gan衬底的ganled外延片价格通常比较昂贵,使得gan led外延片的成本在gan led器件产品的整个成本中占有主要部分。因此,为了降低gan led器件产品成本,需要从根本上降低gan led外延片的成本。
2、另外,这类gan led器件一般使用激光剥离工艺来使得gan led器件结构层从蓝宝石衬底上剥离下来。但是,在这个过程中不可避免的会对gan led器件产生热和机械损伤,导致gan led器件的性能下降,并且激光剥离工艺成本高,以及效率低。
技术实现思路
1、本申请提供了一种氮化镓发光二极管外延晶圆及其制备方法,以期望降低ganled外延片的成本。
2、第一方面,为本申请的一种氮
...【技术保护点】
1.一种氮化镓发光二极管外延晶圆制备方法,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述GaN LED外延层包括以下至少一项:
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述重复外延生长的次数为1至9次。
4.根据权利要求1-3任一项所述的方法,其特征在于,在所述得到第一GaN LED外延晶圆之后,还包括:
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述当前GaN LED器件的制备过程中的刻蚀深度不超过所述当前InGaN或n+GaN牺牲层的最底部。
6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于
...【技术特征摘要】
1.一种氮化镓发光二极管外延晶圆制备方法,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述gan led外延层包括以下至少一项:
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述重复外延生长的次数为1至9次。
4.根据权利要求1-3任一项所述的方法,其特征在于,在所述得到第一gan led外延晶圆之后,还包括:
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述当前gan led器件的制备过程中的刻蚀深度不超过所述当前ingan或n+gan牺牲层的最底部。
6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述采用刻蚀工艺刻蚀所述当前器件结构层和所述当前gan led外延层以露出当前ingan或n+gan牺牲层,包括:
7.根据权利要求6所述的方法,其特...
【专利技术属性】
技术研发人员:李海滨,樊永辉,许明伟,樊晓兵,
申请(专利权)人:深圳市汇芯通信技术有限公司,
类型:发明
国别省市:
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