【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及微波/毫米波测试，尤其涉及一种电子器件测试方法及测试装置。
技术介绍
1、现有诸如vna(vector network analyzer，矢量网络分析仪)或pna(pna系列微波网络分析仪)等电子器件测试装置，在电子器件设置有多端口时，需要将不需要的端口接地，以控制单一变量，防止测试结果准确性降低。
2、端口接地的方式通常包括贴片电阻负载和同轴负载两种方式。但是，前者需要将贴片电阻焊接在电子器件上，无法灵活切换位置，且极有可能对电子器件造成影响，此外，贴片电阻接地还需要接地焊盘的配合，整体结构复杂度更大；后者本身具有较大尺寸，便捷性差，且需要配合旋钮调试来实现端口接地，操作复杂。并且，现有的上述两种方案均无法解决端口间串扰的问题，也即无法解决串扰导致的噪音和测量精度低的弊端。
技术实现思路
1、本专利技术的目的之一在于提供一种电子器件测试方法，以解决现有技术中端口屏蔽方案灵活性差、操作和结构复杂度高，且无法避免端口串扰所导致的噪音和精度低的技术问题。
2、本专利技术的目的之一在于提供一种电子器件测试装置。
3、为实现上述专利技术目的之一，本专利技术一实施例提供一种电子器件测试方法，包括：确定测试项目的内容；在确定所述测试项目包括第一端口干扰评估时，将第一吸波模块设置于电子器件的输出端口处，将第二吸波模块设置于所述电子器件的第二端口处，并在所述电子器件的输入端口和所述电子器件的第一端口间形成第一干扰信号；保持所述第一吸波模块的设置位置
4、作为本专利技术一实施例的进一步改进，所述第一端口干扰评估为耦合端干扰评估，所述第一端口为耦合端，所述第二端口为隔离端。
5、作为本专利技术一实施例的进一步改进，所述第一端口干扰评估为隔离端干扰评估，所述第一端口为隔离端，所述第二端口为耦合端。
6、作为本专利技术一实施例的进一步改进，在所述“确定测试项目的内容”之后，所述电子器件测试方法还包括：在确定所述测试项目包括传输特性评估时，在所述第一端口和/或所述第二端口处设置吸波模块，并在所述输入端口和所述输出端口间形成参考传输信号；根据所述参考传输信号，评估所述电子器件的传输特性。
7、作为本专利技术一实施例的进一步改进，所述“在所述第一端口和/或所述第二端口处设置吸波模块，并在所述输入端口和所述输出端口间形成参考传输信号”具体包括：将所述第三吸波模块设置于所述第一端口处，保持所述第二端口开路，在所述输入端口和所述输出端口间形成第一参考传输信号；且/或，将所述第二吸波模块设置于所述第二端口处，保持所述第一端口开路，在所述输入端口和所述输出端口间形成第二参考传输信号；且/或，将所述第三吸波模块设置于所述第一端口处，且将所述第二吸波模块设置于所述第二端口处，在所述输入端口和所述输出端口间形成第三参考传输信号。
8、作为本专利技术一实施例的进一步改进，在所述“根据所述参考传输信号，评估所述电子器件的传输特性”之前，所述电子器件测试方法还包括：移除所有吸波模块，并在所述输入端口和所述输出端口间形成基准传输信号；所述“根据所述参考传输信号，评估所述电子器件的传输特性”具体包括：根据所述参考传输信号和所述基准传输信号，评估所述电子器件的传输特性。
9、作为本专利技术一实施例的进一步改进，在所述“确定测试项目的内容”之前，所述电子器件测试方法还包括：配置测试项目内容，包括依次排列的传输特性评估、第一端口干扰评估和第二端口干扰评估。
10、作为本专利技术一实施例的进一步改进，所述“将第一吸波模块设置于电子器件的输出端口处”具体包括：将所述第一吸波模块靠近标定区域而设置于第一实际位置处；其中，所述标定区域为所述第一端口在所述电子器件的延展平面处的投影区域；根据标记点的匹配情况，判断所述第一实际位置是否与所述标定区域匹配；其中，所述标记点分布于所述标定区域的边界；若是，则向所述第一吸波模块施加朝向所述电子器件的作用力，并判断施力后所述第一吸波模块的第一侧面的平整度是否满足预设贴附条件；其中，所述第一侧面为所述第一吸波模块背离所述电子器件的侧面；若所述平整度满足所述贴附条件，则判定所述第一吸波模块完成在所述输出端口处的设置。
11、作为本专利技术一实施例的进一步改进，所述“根据标记点的匹配情况，判断所述第一实际位置是否与所述标定区域匹配”具体包括：统计与所述第一吸波模块接触的标记点的实际数量，判断所述实际数量是否大于等于期望数量；若是，则判定所述第一实际位置与所述标定区域匹配。
12、作为本专利技术一实施例的进一步改进，所述“根据所述第一干扰信号和所述第二干扰信号，评估所述第一端口的干扰特性”具体包括：确定对应于第一端口干扰评估的第一阈值区间，根据所述第一干扰信号拟合第一干扰曲线；其中，所述第一阈值区间为所述第一干扰信号随频率变化的理想幅值区间，所述第一干扰曲线表征第一干扰信号随频率变化的实际幅值变化情况；判断所述第一干扰曲线是否分布于所述第一阈值区间内；若是，则判定第一干扰信号有效，根据所述第一干扰信号和有效的第二干扰信号，评估所述第一端口的干扰特性；若否，则判定第一干扰信号无效，输出针对吸波模块的材质检查提示和/或位置检查提示。
13、作为本专利技术一实施例的进一步改进，所述第一吸波模块配置为聚丙烯、聚乙烯、聚氨酯、聚氯乙烯或abs材质。
14、为实现上述专利技术目的之一，本专利技术一实施例提供一种电子器件测试装置，包括矢量网络分析仪；所述矢量网络分析仪配置为，在确定测试项目包括第一端口干扰评估时，耦合至电子器件的输入端口和第一端口，以接收用于评估所述第一端口的干扰特性的第一干扰信号；此时，所述电子器件的输出端口和第二端口处设置有吸波模块；所述矢量网络分析仪配置为，保持与所述输入端口和所述第一端口的耦合关系，在所述输出端口处设置有吸波模块、且所述第二端口处吸波模块移除时，接收用于评估所述第一端口的干扰特性的第二干扰信号。
15、与现有技术相比，本专利技术提供的电子器件测试方法，通过设置可更换位置的吸波模块，能够同时兼顾结构简化和操作便捷两方面优势，同时由于吸波模块的信号吸收并没有明确而单一的方向性，因此能够同时吸收端口间串扰信号，防止单变量测试时由于端口相互影响而产生噪声而导致精度降低；通过在对第一端口测试时，始终保持对输出端口的吸波，能够防止输出端口受输入端口影响而在其与第一端口间发生串扰，以进一步确保噪声、干扰的屏蔽；通过测试第二端口设置吸波模块和不设置吸波模块两个状态下产生的两组干扰信号，能够相互参照地进行第一端口的干扰特性的评估，进一步提升准确性。
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1.一种电子器件测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的电子器件测试方法，其特征在于，所述第一端口干扰评估为耦合端干扰评估，所述第一端口为耦合端，所述第二端口为隔离端。
3.根据权利要求1所述的电子器件测试方法，其特征在于，所述第一端口干扰评估为隔离端干扰评估，所述第一端口为隔离端，所述第二端口为耦合端。
4.根据权利要求1所述的电子器件测试方法，其特征在于，在所述“确定测试项目的内容”之后，所述电子器件测试方法还包括：
5.根据权利要求4所述的电子器件测试方法，其特征在于，所述“在所述第一端口和/或所述第二端口处设置吸波模块，并在所述输入端口和所述输出端口间形成参考传输信号”具体包括：
6.根据权利要求4所述的电子器件测试方法，其特征在于，在所述“根据所述参考传输信号，评估所述电子器件的传输特性”之前，所述电子器件测试方法还包括：
7.根据权利要求1所述的电子器件测试方法，其特征在于，在所述“确定测试项目的内容”之前，所述电子器件测试方法还包括：
8.根据权利要求1所述的电子器件测
9.根据权利要求8所述的电子器件测试方法，其特征在于，所述“根据标记点的匹配情况，判断所述第一实际位置是否与所述标定区域匹配”具体包括：
10.根据权利要求1所述的电子器件测试方法，其特征在于，所述“根据所述第一干扰信号和所述第二干扰信号，评估所述第一端口的干扰特性”具体包括：
11.根据权利要求1所述的电子器件测试方法，其特征在于，所述第一吸波模块配置为聚丙烯、聚乙烯、聚氨酯、聚氯乙烯或ABS材质。
12.一种电子器件测试装置，其特征在于，包括矢量网络分析仪；
...【技术特征摘要】
1.一种电子器件测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的电子器件测试方法，其特征在于，所述第一端口干扰评估为耦合端干扰评估，所述第一端口为耦合端，所述第二端口为隔离端。
3.根据权利要求1所述的电子器件测试方法，其特征在于，所述第一端口干扰评估为隔离端干扰评估，所述第一端口为隔离端，所述第二端口为耦合端。
4.根据权利要求1所述的电子器件测试方法，其特征在于，在所述“确定测试项目的内容”之后，所述电子器件测试方法还包括：
5.根据权利要求4所述的电子器件测试方法，其特征在于，所述“在所述第一端口和/或所述第二端口处设置吸波模块，并在所述输入端口和所述输出端口间形成参考传输信号”具体包括：
6.根据权利要求4所述的电子器件测试方法，其特征在于，在所述“根据所述参考传输信号，评估所述电子器件的传输特性”之前，所述电...
【专利技术属性】
技术研发人员：林伟，唐彦波，杨程，吴伯平，
申请(专利权)人：长电科技管理有限公司，
类型：发明
国别省市：
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