电子器件测试方法及测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术揭示了一种电子器件测试方法及测试装置，电子器件测试方法包括：确定测试项目的内容；在确定所述测试项目包括第一端口干扰评估时，将第一吸波模块设置于电子器件的输出端口处，将第二吸波模块设置于所述电子器件的第二端口处，并在所述电子器件的输入端口和所述电子器件的第一端口间形成第一干扰信号；保持所述第一吸波模块的设置位置，移除所述第二吸波模块，在所述输入端口和所述第一端口间形成第二干扰信号；根据所述第一干扰信号和所述第二干扰信号，评估所述第一端口的干扰特性。本发明专利技术提供的电子器件测试方法，灵活性高、成本耗费低，且能够消除串扰、提升结果准确性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及微波/毫米波测试，尤其涉及一种电子器件测试方法及测试装置。

技术介绍

1、现有诸如vna(vector network analyzer，矢量网络分析仪)或pna(pna系列微波网络分析仪)等电子器件测试装置，在电子器件设置有多端口时，需要将不需要的端口接地，以控制单一变量，防止测试结果准确性降低。

2、端口接地的方式通常包括贴片电阻负载和同轴负载两种方式。但是，前者需要将贴片电阻焊接在电子器件上，无法灵活切换位置，且极有可能对电子器件造成影响，此外，贴片电阻接地还需要接地焊盘的配合，整体结构复杂度更大；后者本身具有较大尺寸，便捷性差，且需要配合旋钮调试来实现端口接地，操作复杂。并且，现有的上述两种方案均无法解决端口间串扰的问题，也即无法解决串扰导致的噪音和测量精度低的弊端。

技术实现思路

1、本专利技术的目的之一在于提供一种电子器件测试方法，以解决现有技术中端口屏蔽方案灵活性差、操作和结构复杂度高，且无法避免端口串扰所导致的噪音和精度低的技术问题。

2、本专利技术的目的本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种电子器件测试方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的电子器件测试方法，其特征在于，所述第一端口干扰评估为耦合端干扰评估，所述第一端口为耦合端，所述第二端口为隔离端。

3.根据权利要求1所述的电子器件测试方法，其特征在于，所述第一端口干扰评估为隔离端干扰评估，所述第一端口为隔离端，所述第二端口为耦合端。

4.根据权利要求1所述的电子器件测试方法，其特征在于，在所述“确定测试项目的内容”之后，所述电子器件测试方法还包括：

5.根据权利要求4所述的电子器件测试方法，其特征在于，所述“在所述第一端口和/或所述第二端口处设置吸波模块...

【技术特征摘要】

1.一种电子器件测试方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的电子器件测试方法，其特征在于，所述第一端口干扰评估为耦合端干扰评估，所述第一端口为耦合端，所述第二端口为隔离端。

3.根据权利要求1所述的电子器件测试方法，其特征在于，所述第一端口干扰评估为隔离端干扰评估，所述第一端口为隔离端，所述第二端口为耦合端。

4.根据权利要求1所述的电子器件测试方法，其特征在于，在所述“确定测试项目的内容”之后，所述电子器件测试方法还包括：

5.根据权利要求4所述的电子器件测试方法，其特征在于，所述“在所述第一端口和/或所述第二端口处设置吸波模块，并在所述输入端口和所述输出端口间形成参考传输信号”具体包括：

6.根据权利要求4所述的电子器件测试方法，其特征在于，在所述“根据所述参考传输信号，评估所述电子器件的传输特性”之前，所述电...

【专利技术属性】
技术研发人员：林伟，唐彦波，杨程，吴伯平，
申请(专利权)人：长电科技管理有限公司，
类型：发明
国别省市：