【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及图像处理，具体涉及一种手表底盖缺陷快速检测方法。
技术介绍
1、随着而经济的快速发展，手表由显示时间的功能慢慢变成了一种普通装饰品，其重点已经不完全在显示时间上而在于手表附加的装饰价值。手表成为一种装饰品之后，手表缺陷的存在与否就变的尤为重要了，而手表底盖作为手表上最大的具有金属外表面的一个零件，手表的外观是否存在缺陷，直接影响到消费者的对手表的初始印象，但是手表底盖在生产制造的过程中，由于多种原因，不可避免的产生各种缺陷。
2、人工检测、红外检测等传统的缺陷检测方法检测金属表面缺陷，由于人工检测受到工人主观意向以及周围环境的影响，检测结果容易受到人的主观判断的影响，并且人工检测的过程中容易使得产品由于人为因素而导致的二次损伤，因此基于机器视觉技术的检测方法可以有效的避免这些问题。在进行视觉检测时，零件通常不接触视觉检测系统以外的部分，可以防止零件移动时所导致的二次损伤，并且可以检测到肉眼不可见的微小缺陷，有效的避免了人的主观因素对检测结果的影响。
3、由于在对手表底盖表面图像采集过程中，采集到的图像容易受到外部噪点和内部噪点的干扰。为了降低图像噪点对后续手表底盖缺陷检测环节的影响，需要对采集到的底盖图像进行图像平滑、对比度增强等一系列操作，常用的滤波算法都会是的图像中的细节信息被过度平滑，使得后期对图像的检测处理出现较大的误差，因此需要去准确的区分噪点和缺陷区域，保证后续对图像的处理能够更加准确。
技术实现思路
1、为了解决上述问题，本专利技
2、采集手表底盖表面图像，对采集的手表底盖表面图像进行灰度化处理，得到手表底盖表面灰度图像记为灰度图像；
3、获取灰度图像中的异常像素点；
4、根据灰度图像中异常像素点之间的距离对灰度图像中异常像素点进行划分，得到若干邻域块；根据邻域块内异常像素点的分布，获取异常像素点的第一缺陷因子；根据邻域块内异常像素点的灰度值，获取异常像素点的第二缺陷因子；根据异常像素点的第一缺陷因子与异常像素点的第二缺陷因子，获取异常像素点的缺陷因子；
5、根据异常像素点的缺陷因子获取新的异常像素点之间的最近距离；根据新的异常像素点之间的最近距离筛选出灰度图像中的缺陷像素点。
6、优选的，所述采集手表底盖表面图像，包括的具体步骤如下：
7、将相机置于手表底盖的正上方，且采用环形低角度led光源对手表底盖进行照明；采集手表底盖表面图像。
8、优选的，所述获取灰度图像中的异常像素点，包括的具体步骤如下：
9、使用sobel算子得到灰度图像中的所有像素点的梯度；将灰度图像中的梯度不为0的像素点记为异常像素点。
10、优选的，所述根据灰度图像中异常像素点之间的距离对灰度图像中异常像素点进行划分，得到若干邻域块，包括的具体步骤如下：
11、将任意一个异常像素点记为中心像素点，统计与中心像素点距离最近的个异常像素点，为预设的范围阈值，将中心像素点以及与中心像素点距离最近的个异常像素点记为邻域块。
12、优选的，所述获取异常像素点的第一缺陷因子，包括的具体计算公式如下：
13、
14、式中，表示第个异常像素点的第一缺陷因子；表示灰度图像中所有邻域块距离的均值，表示第个邻域块距离。
15、优选的，所述邻域块距离的具体获取步骤如下：
16、将邻域块内除中心像素点外的所有异常像素点记为偏像素点；计算邻域块内中心像素点与每个偏像素点之间的距离，将邻域块内中心像素点与所有偏像素点之间的距离的均值记为邻域块距离。
17、优选的，所述获取异常像素点的第二缺陷因子，包括的具体计算公式如下：
18、
19、式中，表示第个异常像素点的第二缺陷因子；表示第个邻域块内异常像素点灰度值的方差；表示灰度图像中所有邻域块内异常像素点灰度值的方差的均值。
20、优选的，所述获取异常像素点的缺陷因子，包括的具体计算公式如下：
21、
22、式中，表示第个异常像素点的缺陷因子；表示第个异常像素点的第一缺陷因子；表示第个异常像素点的第二缺陷因子。
23、优选的，所述根据异常像素点的缺陷因子获取新的异常像素点之间的最近距离，包括的具体步骤如下：
24、对于灰度图像中第个异常像素点，将第个异常像素点与其他异常像素点的最近距离记为，将第个异常像素点的缺陷因子记为，新的异常像素点之间的最近距离为。
25、优选的，所述根据新的异常像素点之间的最近距离筛选出灰度图像中的缺陷像素点，包括的具体步骤如下：
26、根据新的异常像素点之间的最近距离，利用lof异常值检测算法对灰度图像中的异常像素点进行检测，得到灰度图像中的异常像素点。
27、本专利技术的技术方案的有益效果是：在对手表底盖表面图像进行检测的过程中，首先需要对图像中的噪点进行过滤，方便后续的计算能够准确，但是由于图像中会随机的出现一些噪点；这些噪点与缺陷区域的像素点混在一起，我们需要对图像中的噪点和缺陷区域的像素点进行区分，保证滤波处理的时候能尽可能的保留细节信息，本专利技术提出了一种手表底盖缺陷快速检测方法，首先检测图像中的异常像素点，根据噪点和缺陷区域的分布特征，用目标函数输出最优值，然后引入lof异常点检测算法，通过构建的特征模型的输出值来对lof算法进行校正，筛选出图像中属于缺陷区域的像素点，然后就可以确定图像中的噪点强度，这对图像处理后续的操作提供了重要的数据支持，也使对图像的检测更加准确，保证了对手表底盖缺陷的准确检测。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种手表底盖缺陷快速检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述一种手表底盖缺陷快速检测方法，其特征在于，所述采集手表底盖表面图像，包括的具体步骤如下：
3.根据权利要求1所述一种手表底盖缺陷快速检测方法，其特征在于，所述获取灰度图像中的异常像素点，包括的具体步骤如下：
4.根据权利要求1所述一种手表底盖缺陷快速检测方法，其特征在于，所述根据灰度图像中异常像素点之间的距离对灰度图像中异常像素点进行划分，得到若干邻域块，包括的具体步骤如下：
5.根据权利要求1所述一种手表底盖缺陷快速检测方法，其特征在于，所述获取异常像素点的第一缺陷因子，包括的具体计算公式如下：
6.根据权利要求5所述一种手表底盖缺陷快速检测方法，其特征在于，所述邻域块距离的具体获取步骤如下：
7.根据权利要求1所述一种手表底盖缺陷快速检测方法，其特征在于，所述获取异常像素点的第二缺陷因子，包括的具体计算公式如下：
8.根据权利要求1所述一种手表底盖缺陷快速检测方法，其特征在于，所述获取异常像素点的缺陷因子
9.根据权利要求1所述一种手表底盖缺陷快速检测方法，其特征在于，所述根据异常像素点的缺陷因子获取新的异常像素点之间的最近距离，包括的具体步骤如下：
10.根据权利要求1所述一种手表底盖缺陷快速检测方法，其特征在于，所述根据新的异常像素点之间的最近距离筛选出灰度图像中的缺陷像素点，包括的具体步骤如下：
...【技术特征摘要】
1.一种手表底盖缺陷快速检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述一种手表底盖缺陷快速检测方法，其特征在于，所述采集手表底盖表面图像，包括的具体步骤如下：
3.根据权利要求1所述一种手表底盖缺陷快速检测方法，其特征在于，所述获取灰度图像中的异常像素点，包括的具体步骤如下：
4.根据权利要求1所述一种手表底盖缺陷快速检测方法，其特征在于，所述根据灰度图像中异常像素点之间的距离对灰度图像中异常像素点进行划分，得到若干邻域块，包括的具体步骤如下：
5.根据权利要求1所述一种手表底盖缺陷快速检测方法，其特征在于，所述获取异常像素点的第一缺陷因子，包括的具体计算公式如下：
6.根据权利要求5所...
【专利技术属性】
技术研发人员：吴国彬，余长春，
申请(专利权)人：深圳市金三维实业有限公司，
类型：发明
国别省市：
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