【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及射频测试，尤其涉及一种电路板传输线的检测方法及装置。
技术介绍
1、高频材料广泛应用于微型化的穿戴装置中，如高频信号传输线。在对高频信号传输线进行测试时，若高频信号传输线的射频传输路径小于测试频段的波长，则测试结果会呈现出几乎全反射的状态，难以确定产品的真实射频性能是否符合规格。若采用高精度的测试仪器，则会大幅增加测试成本。因此，现有的测试方法对高频信号传输线的测试准确度较差的问题，成为业内亟待解决的技术问题。。
技术实现思路
1、本专利技术提供了一种电路板传输线的检测方法及装置，以解决现有的测试方法对高频信号传输线的测试准确度较差的问题。
2、根据本专利技术的一方面，提供了一种电路板传输线的检测方法，包括：
3、将测试探针与待测电路板传输线连接，并向所述测试探针传输射频信号；
4、根据所述射频信号的频率和所述待测电路板传输线的长度，调节测试探针的长度；
5、接收所述待测电路板传输线和调节长度后的所述测试探针的反射信号；
6、根据所述反射信号，确定所述待测电路板传输线的合格状态。
7、可选的，根据所述射频信号的频率和所述待测电路板传输线的长度，调节测试探针的长度，包括：
8、根据所述射频信号的频率，确定所述射频信号的波长；
9、根据所述射频信号的波长和所述待测电路板传输线的长度，确定所述测试探针的长度；
10、根据所述测试探针的长度，调节末端夹具的下压强度。p>
11、可选的，射频信号的波长通过如下公式计算：
12、
13、c＝3×108(m/s) (2)
14、
15、其中，c为射频信号在真空中的传输速度，v为射频信号在介质中的传输速度，ε为介质参数，f为射频信号的频率，λ为射频信号的波长。
16、可选的，将测试探针与待测电路板传输线连接，并向所述测试探针传输射频信号，包括：
17、将所述测试探针的第一端固定于测试治具的末端夹具上；
18、将所述测试探针的第二端与所述待测电路板传输线连接；
19、通过射频测试线将所述测试探针的测试接头与网络分析仪连接；
20、通过所述网络分析仪，向所述测试探针传输射频信号。
21、可选的，在所述根据所述射频信号的频率和所述待测电路板传输线的长度，调节测试探针的长度之前，还包括：
22、获取所述射频信号的频率和所述待测电路板传输线的长度。
23、可选的，接收所述待测电路板传输线和调节长度后的所述测试探针的反射信号，包括：
24、通过所述网络分析仪，接收所述待测电路板传输线和调节长度后的所述测试探针的反射信号。
25、可选的，根据所述反射信号，确定所述待测电路板传输线的合格状态，包括：
26、获取所述待测电路板传输线的反射信号的共振频率；
27、根据所述反射信号的共振频率，确定所述待测电路板传输线的合格状态。
28、可选的，根据所述反射信号的共振频率，确定所述待测电路板传输线的合格状态，包括：
29、将所述反射信号的共振频率与所述射频信号的频率进行比较，得到第一比较结果；
30、根据所述第一比较结果，确定所述待测电路板传输线的合格状态。
31、可选的，根据所述第一比较结果，确定所述待测电路板传输线的合格状态，包括：
32、当所述反射信号的共振频率与所述射频信号的频率的差值小于或等于第一预设阈值时，所述待测电路板传输线为合格；
33、当所述反射信号的共振频率与所述射频信号的频率的差值大于所述第一预设阈值时，所述待测电路板传输线为不合格。
34、第二方面，本专利技术实施例提供一种电路板传输线的检测装置，包括：
35、射频测试线，用于将测试探针与待测电路板传输线连接，并向所述测试探针传输射频信号；
36、计算模块，用于根据所述射频信号的频率和所述待测电路板传输线的长度，调节测试探针的长度；
37、网络分析仪，用于接收所述待测电路板传输线和调节长度后的所述测试探针的反射信号；
38、所述网络分析仪还用于根据所述反射信号，确定所述待测电路板传输线的合格状态。
39、本专利技术实施例的技术方案，将测试探针与待测电路板传输线连接，并向测试探针传输射频信号，根据射频信号的频率和待测电路板传输线的长度，调节测试探针的长度。接收待测电路板传输线和调节长度后的测试探针的反射信号，并根据反射信号，确定待测电路板传输线的合格状态。本实施例的电路板传输线的检测方法根据射频信号的频率和待测电路板传输线的长度对测试探针的长度进行调节，进而根据反射信号确定待测电路板传输线的合格状态，实现了提高测试结果的准确性，简化测试过程，降低测试成本。
40、应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本专利技术的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本专利技术的范围。本专利技术的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种电路板传输线的检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述射频信号的频率和所述待测电路板传输线的长度，调节测试探针的长度，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述射频信号的波长通过如下公式计算：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将测试探针与待测电路板传输线连接，并向所述测试探针传输射频信号，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述根据所述射频信号的频率和所述待测电路板传输线的长度，调节测试探针的长度之前，还包括：
6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述接收所述待测电路板传输线和调节长度后的所述测试探针的反射信号，包括：
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述反射信号，确定所述待测电路板传输线的合格状态，包括：
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述根据所述反射信号的共振频率，确定所述待测电路板传输线的合格状态，包括：
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述
10.一种电路板传输线的检测装置，其特征在于，包括：
...【技术特征摘要】
1.一种电路板传输线的检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述射频信号的频率和所述待测电路板传输线的长度，调节测试探针的长度，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述射频信号的波长通过如下公式计算：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将测试探针与待测电路板传输线连接，并向所述测试探针传输射频信号，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述根据所述射频信号的频率和所述待测电路板传输线的长度，调节测试探针的长度之前，还包括：
【专利技术属性】
技术研发人员：李政泽，
申请(专利权)人：立讯智造浙江有限公司，
类型：发明
国别省市：
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