【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及抗干扰，尤其涉及一种电子设备抗电磁干扰能力测试系统和方法。
技术介绍
1、相关技术中的电磁干扰测试方法针对的是远场干扰或开放环境中的电磁干扰，也形成了成熟的测试方案。但针对近场电磁干扰、恶意电磁干扰、封闭环境电磁干扰，目前并没有成熟的测试方法，例如：(1)非法用户用强电磁场干扰电能表，使电能表无法正常工作，从而达到窃电的目的。(2)变电系统中，变电站开关操作产生的强电磁波导致保护装置误动作。
2、以电力系统智能二次设备受到的干扰为例。智能二次设备工作环境的电磁干扰相当恶劣，这些干扰具有幅值大、频率高和持续时间短的特点，能够通过各种途径侵入到微机保护中的电子电路，从而引发继电保护及安全自动装置及计量装置的误动、拒动、数据混乱甚至死机等现象，给电网的安全运行埋下隐患。特别是，电能作为一种无形商品，其传输和使用具有一定特殊性，盗取即销毁，无法通过常规手段获取证据。不法分子通过各种手段实施盗窃，意图少缴纳或者不缴纳电费。窃电带来了电能的大量流失，电力企业自身利益遭到破坏，严重影响其健康发展，同时窃电也给电网安全和用电安...
【技术保护点】
1.一种电子设备抗电磁干扰能力测试系统，其特征在于，所述系统包括：
2.根据权利要求1所述的电子设备抗电磁干扰能力测试系统，其特征在于，所述电波暗室还包括屏蔽箱，所述屏蔽箱用于放置标准电子设备；
3.根据权利要求2所述的电子设备抗电磁干扰能力测试系统，其特征在于，所述控制装置用于：
4.根据权利要求3所述的电子设备抗电磁干扰能力测试系统，其特征在于，所述干扰信号发生装置包括：
5.根据权利要求4所述的电子设备抗电磁干扰能力测试系统，其特征在于，所述系统还包括：
6.根据权利要求5所述的电子设备抗电磁干扰能力测...
【技术特征摘要】
1.一种电子设备抗电磁干扰能力测试系统，其特征在于，所述系统包括：
2.根据权利要求1所述的电子设备抗电磁干扰能力测试系统，其特征在于，所述电波暗室还包括屏蔽箱，所述屏蔽箱用于放置标准电子设备；
3.根据权利要求2所述的电子设备抗电磁干扰能力测试系统，其特征在于，所述控制装置用于：
4.根据权利要求3所述的电子设备抗电磁干扰能力测试系统，其特征在于，所述干扰信号发生装置包括：
5.根据权利要求4所述的电子设备抗电磁干扰能力测试系统，其特征在于，所述系统还包括：
6.根据权利要求5所述的电子设备抗电磁干扰能力测试系统，其特征在于，所述控制装置用于：
7.根据权利要求5所述的电子设备抗电磁干扰能力测试系统，其特征在于，所述控制装置用于：
8.根据权利要求5所述的电子设备抗电磁干扰能力测试系统，其特征在于，多个所述测试点包括m1个第一测试点、m2个第二测试点，m3个第三测试点、m4个第四测试点和m5个第五测试点，所述第一测试点在所述被干扰电子设备正表面的第一方向上，所述第二测试点在所述被干扰电子设备正表面的第二方向上，所述第三测试点在所述被干扰电子设备的第一侧，所述第四测试点在所述被干扰电子设备的第二侧，所述第五测试点在所述被干扰电子设备的前端，其中，所述第一方向与所述第二方向垂直，所述第一侧与所述第二侧相对，m1＞m2＞m3＝m4＞m5，m5为正整数。
9.根据权利要求8所述的电子设备抗电磁...
【专利技术属性】
技术研发人员：王峥，吴温翠，巩永稳，高辉，张蓬鹤，王晓东，王聪，杨志超，李求洋，李翀，王浩，
申请(专利权)人：北京智芯微电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。