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本发明公开了一种电子设备抗电磁干扰能力测试系统和方法，系统包括：干扰信号发生装置；电波暗室，包括发射天线，发射天线与干扰信号发生装置连接，电波暗室用于放置被干扰电子设备，且被干扰电子设备置于发射天线的近场范围内；控制装置，用于控制干扰信号发...
该专利属于北京智芯微电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京智芯微电子科技有限公司授权不得商用。

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