【技术实现步骤摘要】
本技术涉及半导体领域，具体是一种石英晶体封装用金属盖板检测装置。
技术介绍
1、金属盖板又称lid板，呈方形，在石英晶体产品封装时，通过金属盖板盖合密封。如专利号“cn202111548243.5”所示，封装结构包括基板、电子元器件和封装盖体(lid板)，通过封装盖体实现密封封装。金属盖板在生产完成后，需统一储存至料仓中，封装时料仓内统一取料。由于金属盖板正反两面形状颜色均相同，仅有反射率存在差异，而在封装时又需要使金属盖板的正面朝上，反面朝下，封装完成后石英晶体产品才能长效工作，如果金属盖板的正反面颠倒，会大幅缩短石英晶体产品的使用寿命。
2、为在封装时辨别金属盖板的正反面，通常需要人工挑出金属盖板，在放大镜的放大下分别光照金属盖板的两面，通过反射光线的强度判断盖板的正反面，整个检测过程完全依赖于人工，效率极低，因此亟待解决。
技术实现思路
1、为了避免和克服现有技术中存在的技术问题，本技术提供了一种石英晶体封装用金属盖板检测装置。本技术可对金属盖板的正反面进行快速检测。
2、为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：
3、一种石英晶体封装用金属盖板检测装置，包括检测台，检测台表面开设有用于容置金属盖板的定位槽，定位槽的宽度与金属盖板的宽度对应，检测光纤沿铅垂方向悬置于定位槽上方，且检测光纤的光束发射口朝向金属盖板方向，检测台上布置有用于吸收金属盖板反射光束的吸收板以及与检测光纤连接并用于接收光信号的光纤放大器，吸收板为布置在定位槽两侧的黑色板材
4、作为本技术进一步的方案：所述检测光纤以及检测台均安装在基础平台上，基础平台上沿定位槽长度方向安装有滑动导轨，检测台与滑动导轨滑动配合，检测光纤沿铅垂方向的投影位于滑动导轨的滑动路径上。
5、作为本技术再进一步的方案：所述基础平台上固定有检测座，检测座上安装有通过千分尺调节升降的千分调节座，千分调节座上沿水平方向布置有悬臂，检测光纤被悬臂夹持固定。
6、作为本技术再进一步的方案：所述检测光纤的光束发射口与定位槽槽底面的距离为48～87mm。
7、作为本技术再进一步的方案：所述吸收板为矩形板，吸收板的长度与定位槽的长度相等，所述定位槽的宽度不高于吸收板宽度的五分之一。
8、与现有技术相比，本技术的有益效果是：
9、1、本技术通过在检测台上开设定位槽，使定位槽与金属盖板的宽度对应，料仓内取出金属盖板后可将金属盖板沿定位槽长度方向一字排开，通过检测光纤朝金属盖板上发射检测光束，光束通过金属盖板表面后发射被光纤放大器接收并放大光信号后，转为电信号，从而判断金属盖板表面的反射率，从而可直接确定此金属盖板此时为正面朝上还是反面朝上，可对金属盖板的正反面进行快速检测；而定位槽两侧布置有黑色的吸收板，可吸收检测光束发射的无用光束以及经金属盖板发射后的光束，避免光束多次发射后再次经金属盖板反射后被光纤放大器接收而产生检测误差，提高了检测的准确性。
10、2、本技术通过在基础平台上开设滑动导轨，沿滑动导轨推送检测台，即可使定位槽内的各金属盖板依次通过检测光纤的正下方，依次完成检测。
11、3、本技术通过在基础平台上安装千分调节座，从而可通过千分尺调节检测光纤的升降，使检测光纤的光束发射口可微调至最佳高度。
12、4、本技术吸收板宽度的合理布置，最大化无用检测光束的吸收效率。
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1.一种石英晶体封装用金属盖板检测装置，其特征在于，包括检测台(4)，检测台(4)表面开设有用于容置金属盖板(43)的定位槽(41)，定位槽(41)的宽度与金属盖板(43)的宽度对应，检测光纤(23)沿铅垂方向悬置于定位槽(41)上方，且检测光纤(23)的光束发射口朝向金属盖板(43)方向，检测台(4)上布置有用于吸收金属盖板(43)反射光束的吸收板(42)以及与检测光纤(23)连接并用于接收光信号的光纤放大器(24)，吸收板(42)为布置在定位槽(41)两侧的黑色板材。
2.根据权利要求1所述的一种石英晶体封装用金属盖板检测装置，其特征在于，所述检测光纤(23)以及检测台(4)均安装在基础平台(1)上，基础平台(1)上沿定位槽(41)长度方向安装有滑动导轨(3)，检测台(4)与滑动导轨(3)滑动配合，检测光纤(23)沿铅垂方向的投影位于滑动导轨(3)的滑动路径上。
3.根据权利要求2所述的一种石英晶体封装用金属盖板检测装置，其特征在于，所述基础平台(1)上固定有检测座(2)，检测座(2)上安装有通过千分尺调节升降的千分调节座(21)，千分调节座(21)上
4.根据权利要求1～3中任意一项所述的一种石英晶体封装用金属盖板检测装置，其特征在于，所述检测光纤(23)的光束发射口与定位槽(41)槽底面的距离为48～87mm。
5.根据权利要求1～3中任意一项所述的一种石英晶体封装用金属盖板检测装置，其特征在于，所述吸收板(42)为矩形板，吸收板(42)的长度与定位槽(41)的长度相等，所述定位槽(41)的宽度不高于吸收板(42)宽度的五分之一。
...【技术特征摘要】
1.一种石英晶体封装用金属盖板检测装置，其特征在于，包括检测台(4)，检测台(4)表面开设有用于容置金属盖板(43)的定位槽(41)，定位槽(41)的宽度与金属盖板(43)的宽度对应，检测光纤(23)沿铅垂方向悬置于定位槽(41)上方，且检测光纤(23)的光束发射口朝向金属盖板(43)方向，检测台(4)上布置有用于吸收金属盖板(43)反射光束的吸收板(42)以及与检测光纤(23)连接并用于接收光信号的光纤放大器(24)，吸收板(42)为布置在定位槽(41)两侧的黑色板材。
2.根据权利要求1所述的一种石英晶体封装用金属盖板检测装置，其特征在于，所述检测光纤(23)以及检测台(4)均安装在基础平台(1)上，基础平台(1)上沿定位槽(41)长度方向安装有滑动导轨(3)，检测台(4)与滑动导轨(3)滑动配合，检测光纤(23)...
【专利技术属性】
技术研发人员：董书霞，汪鑫，汤玉根，汤梓康，魏中伟，洪熙，王磊，吕成，
申请(专利权)人：合肥晶威特电子有限责任公司，
类型：新型
国别省市：
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