一种轮式测距仪校准方法技术

技术编号:39963630 阅读:73 留言:0更新日期:2024-01-09 00:14
本发明专利技术公开了一种轮式测距仪的校准方法,通过该方法能够对轮式测距仪的测量轮参数进行自动测量,有利于提高测量效率和测量精度;该方法包括以下步骤:启动轮式测距仪校准装置,并将轮式测距仪校准装置的控制系统复位,使控制系统工作在初始位置;调整底座上的夹持装置,将轮式测距仪通过夹持装置固定、初步调平;确定轮式测距仪的测量轮的几何中心在校准装置中水平方向的坐标位置;移动支撑机构和升降机构,使盘式测量机构移动到预设位置;对测量轮进行直径、径向跳动、轴向跳动、轴向窜动测量,以及对轮式测距仪的示值误差进行测量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及轮式测距仪的校准,尤其涉及一种轮式测距仪的校准方法。


技术介绍

1、轮式测距仪是一种用于测量室内外地面距离的专用仪器,它具有一个已知直径的测量滚轮,通过计数测量滚轮滚转的周数来实现距离测量,是工程施工作业的常用测量工具。轮式测距仪在使用过程中要定期对测量轮进行校准,以减小轮式测距仪器的测量误差。

2、轮式测距仪的校准有测量轮的校准和示值误差校准,测量轮的测量参数包括测量轮直径、径向跳动、轴向跳动、轴向窜动等参数,在对测量轮的校准过程中,现有方法是采用多种测量仪器分别测量不同的参数来实现对测量轮的校准,例如,采用通用卡尺来测量直径,采用百分表配合测试架来测量测量轮的其他参数,对于轮式测距仪的示值误差,采用钢卷尺进行测量。这种测量方式存在测量效率低、测量精度低等多种缺陷,例如,在测量过程中会存在多种测量用具的更换,多个测量位置的调整,测量步骤繁琐,测量效率低下;采用通用卡尺测量直径时,涉及到人工对准和读数过程,会产生较大的对准误差和读数误差;当卡尺读数面与测量轮垂直时,若卡尺测量点连线未过测量轮圆心,则会引入对准误差,当卡尺读数面与测本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种轮式测距仪的校准方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的轮式测距仪的校准方法,其特征在于,所述步骤二中的轮式测距仪固定的具体方式为:

3.根据权利要求1所述的轮式测距仪的校准方法,其特征在于,所述步骤四具体为:控制器计算出测量轮的坐标位置(x,y)后,根据盘式测量机构中心的当前坐标位置(a,b),计算出盘式测量机构中心与测量轮41中心的距离,控制器发出控制信号,控制信号控制动力装置,使动力装置分别为支撑机构和升降机构的移动提供动力,使盘式测量机构自动移动到预设位置。

4.根据权利要求3所述的轮式测距仪的校准方法,其特征在于,所...

【技术特征摘要】

1.一种轮式测距仪的校准方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的轮式测距仪的校准方法,其特征在于,所述步骤二中的轮式测距仪固定的具体方式为:

3.根据权利要求1所述的轮式测距仪的校准方法,其特征在于,所述步骤四具体为:控制器计算出测量轮的坐标位置(x,y)后,根据盘式测量机构中心的当前坐标位置(a,b),计算出盘式测量机构中心与测量轮41中心的距离,控制器发出控制信号,控制信号控制动力装置,使动力装置分别为支撑机构和升降机构的移动提供动力,使盘式测量机构自动移动到预设位置。

4.根据权利要求3所述的轮式测距仪的校准方法,其特征在于,所述移动支撑机构和升降机构的移动方式为:控制器发出第一电机启动信号,第一电机得到启动信号后,开始启动,并通过第一移动机构使支撑机构朝x向移动,在移动过程中不断计算x与a之间的距离,当x=a时,控制器发出第一电机停止信号,使第一电机停止转动;控制器发出第三电机启动信号,第三电机得到启动信号后,开始启动,并通过第二移动机构使升降机构朝y向移动,在移动过程中不断计算y与b之间的距离,当y=b时,控制器发出第三电机停止信号,使第三电机停止转动,使盘式测量机构定位到轮式测距仪的测量轮的正上方,盘式测量机构中心与测量轮中心对齐。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的轮式测距仪的校准方法,其特征在于,所述步骤五中,通过控制器控制升降机构,使盘式测量机构的内表面与测量轮顶面接触的具体方式为:控制器发出第二电机启动信号,第二电机得到启动信号后,开始启动,并通过升降机构调节盘式测量机构的高度,在盘式测量机构高度调节过程中,控制器还发出第二传感器启动信号,使盘式测量机构上的第二传感器测量盘式测量机构的内表面与测量轮顶面之间的距离,当盘式测量机构的内表面与测量轮顶面接触后,控制器发出第二电机停止信号和第二传感器停止信号,使第二电机停止转动,并使第二传感器停止工作。

6.根据权利要求1至4中任一项所述的轮式测距仪的校准方法,其特征在于,所述步骤五中,控制器控制盘式测量机构,使...

【专利技术属性】
技术研发人员:胡常安高红波李建钢何敏吕菲薛靓王熙杨燕
申请(专利权)人:中国测试技术研究院
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1