【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及透射电子显微镜配件及原位测量研究，尤其涉及一种多功能原位样品杆。
技术介绍
1、透射电子显微镜可以看到光学显微镜下无法看清的、小于0.2微米的细微结构，因此被广泛应用于材料科学、生物学、工业质量检测等领域，以获取材料的形貌、结构、位向等信息。其中，原位电子显微镜测量技术是一种通过原位样品杆对样品施加外部激励如力、热、电、磁等，并用电子显微镜实时观测样品的形貌、结构等动态变化过程的技术。但是目前的原位样品杆通常仅可对样品施加单一激励，在需要施加其它激励时则需要将原位样品杆从透射电子显微镜上进行更换，并且需要将透射电子显微镜重新进行抽真空等，这就造成使用不够便利的问题。
2、因此，本领域对一种便利的多功能原位样品杆存在需求。
技术实现思路
1、本专利技术旨在提供至少能解决上述部分技术问题的多功能原位样品杆。
2、根据本专利技术的一个方面，提供了一种多功能原位样品杆，所述多功能原位样品杆包括：杆芯；支撑框架，其套装至所述杆芯的前侧部段外周并从所述杆芯朝前方延...
【技术保护点】
1.一种多功能原位样品杆(1)，其特征在于，所述多功能原位样品杆(1)包括：
2.根据权利要求1所述的多功能原位样品杆(1)，其特征在于，所述驱动机构(14)被构造成能够驱动所述探针(15)沿三个维度运动。
3.根据权利要求1所述的多功能原位样品杆(1)，其特征在于，所述温度源(16)包括位于所述杆芯(11)后侧部段的冷源(161)和相对于所述冷源(161)间隔布置在所述杆芯(11)的中间部段的加热器(162)。
4.根据权利要求3所述的多功能原位样品杆(1)，其特征在于，所述多功能原位样品杆(1)还包括安装至所述支撑框架(12)且...
【技术特征摘要】
1.一种多功能原位样品杆(1)，其特征在于，所述多功能原位样品杆(1)包括：
2.根据权利要求1所述的多功能原位样品杆(1)，其特征在于，所述驱动机构(14)被构造成能够驱动所述探针(15)沿三个维度运动。
3.根据权利要求1所述的多功能原位样品杆(1)，其特征在于，所述温度源(16)包括位于所述杆芯(11)后侧部段的冷源(161)和相对于所述冷源(161)间隔布置在所述杆芯(11)的中间部段的加热器(162)。
4.根据权利要求3所述的多功能原位样品杆(1)，其特征在于，所述多功能原位样品杆(1)还包括安装至所述支撑框架(12)且与所述冷源(161)和所述加热器(162)电连接的温度传感器(18)。
5.根据权利要求4所述的多功能原位样品杆(1)，其特征在于，所述多功能原位样品杆(1)还包括安装至所述支撑框架(12)内侧并且从所述支撑框架(12)延伸出以与外部控制装置电连接的引线管(19)。
6.根据权利要求5所述的多...
【专利技术属性】
技术研发人员：许晋京，许智，白雪冬，
申请(专利权)人：中国科学院物理研究所，
类型：发明
国别省市：
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