双目波导检测系统及方法技术方案

技术编号:39947851 阅读:24 留言:0更新日期:2024-01-08 23:04
本发明专利技术涉及光学检测技术领域,具体提供一种双目波导检测系统及方法,检测系统中待测双目光波导和图像采集模块同轴设置在光学平台上,图像采集模块设置在待测双目光波导出瞳的后侧;图像采集模块与转台连接,通过转台实现图像采集模块的角度转动;转台底部安装在导轨上,图像采集模块沿导轨的可移动方向与光轴垂直,通过改变图像采集模块在导轨上的位置采集不同的待测双目光波导的测试图像特征点。通过移动图像采集模块的横向位置,以及改变其朝向角度实现对不同特征点的采集,即可对双目光波导的单目视场、双目视场、双目视场交叠角、像倾斜、视轴倾斜及放大率差等多个光学参数进行检测。本发明专利技术具有操作简单、定量计算精度高等优势。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光学检测,具体提供一种双目波导检测系统及方法


技术介绍

1、随着ar技术的更新迭代,单目光波导已经不足以满足使用者的需求,双目光波导逐渐走入人们的视野。双目光波导可以提供更大的视场、更好的图像质量,可以提供深度信息,对三维成像和位移测量具有良好的效果。同时,也带来的相对单目光波导更多更复杂的检测项目。而现有的检测设备和方法均存在操作过程复杂、检测精度低等问题,并且难以对检测精度及光学参数实现定量计算。


技术实现思路

1、本专利技术为解决上述问题,提供了一种双目波导检测系统及方法,有效解决了双目波导检测问题,且可对双目光波导的单目视场、双目视场、双目视场交叠角、像倾斜、视轴倾斜及放大率差等多个光学参数进行检测。

2、本专利技术提供的一种双目波导检测系统,包括:待测双目光波导、图像采集模块、转台、导轨;

3、待测双目光波导安装在光学平台上,待测双目光波导和图像采集模块在同一光轴上,图像采集模块设置在待测双目光波导出瞳的后侧;

4、图像采集模块与转台连接,通过转台本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种双目波导检测系统,其特征在于,包括:待测双目光波导、图像采集模块、转台、导轨;

2.如权利要求1所述的双目波导检测系统,其特征在于,图像采集模块的探测器中心为十字丝,十字丝的交点为探测器中心点,用于瞄准测试图像特征点。

3.如权利要求2所述的双目波导检测系统,其特征在于,待测双目光波导底部与光波导调整架连接,通过光波导调整架改变待测双目光波导的高度,光波导调整架可在光学平台上进行平面运动。

4.如权利要求2所述的双目波导检测系统,其特征在于,导轨为一维导轨,且在导轨上刻有刻度。

5.一种双目波导检测方法,其特征在于,包括以下步骤:<...

【技术特征摘要】

1.一种双目波导检测系统,其特征在于,包括:待测双目光波导、图像采集模块、转台、导轨;

2.如权利要求1所述的双目波导检测系统,其特征在于,图像采集模块的探测器中心为十字丝,十字丝的交点为探测器中心点,用于瞄准测试图像特征点。

3.如权利要求2所述的双目波导检测系统,其特征在于,待测双目光波导底部与光波导调整架连接,通过光波导调整架改变待测双目光波导的高度,光波导调整架可在光学平台上进行平面运动。

4.如权利要求2所述的双目波导检测系统,其特征在于,导轨为一维导轨,且在导轨上刻有刻度。

5.一种双目波导检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

6.如权利要求5所述的双目波导检测方法,其特征在于,在每个垂点处,通过图像采集模块采集到由双目光波导形成的虚像,计算采集图像在水平方向和竖直方向上的像元差,即可计算出采集图像的倾角,通...

【专利技术属性】
技术研发人员:张溪张元沈永宏李向阳李双成
申请(专利权)人:长春奥普光电技术股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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