【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于平面近场测试，涉及一种基于数据同化的高精度天线平面近场测量方法。
技术介绍
1、天线近场测试技术因其测试空间小的特点，被广泛应用于天线方向图测试。随着无线设备的快速发展，无线设备制造商对天线测试的精度需求越来越高，同时对高效地进行测试的需求也愈发迫切。而在近场测试中，平面近场测试是最为普及的测试技术之一。该方法在暗室中进行，通过在待测天线近场区域内的平面上采样，然后通过近远场转换算法，得到待测天线在远场区域的测试结果。
2、暗室通过吸波材料消除电波反射，模拟自由空间测试环境，并通过屏蔽室消除外界电磁波信号对测试的干扰。平面近场测试系统已成为目前最常见的一种通用天线测试方法。如图1所示常规平面近场测试系统主要由四部分组成，分别是吸波材料、机械臂、探头和用以摆放待测天线的平台。其中，吸波材料安装在暗室墙壁和机械臂表面或其他可能产生无关电波反射的地方，形成自由空间测试环境。机械臂安装在测试平台旁边，并且测试探头安装于机械臂上，由机械臂控制探头抵达不同采样位置。测试平台用于放置待测天线。
3、在测试过程中，...
【技术保护点】
1.一种基于数据同化的高精度天线方向图测试方法，其特征在于，包括以下过程：
2.根据权利要求1所述的一种基于数据同化的高精度天线方向图测试方法，其特征在于，待测天线仿真数据的得到过程为：
3.根据权利要求1所述的一种基于数据同化的高精度天线方向图测试方法，其特征在于，待测天线实测数据的测试过程具体为：
4.根据权利要求3所述的一种基于数据同化的高精度天线方向图测试方法，其特征在于，如果测试需求想要得到整个天线的全向辐射信息，则在平面近场测试过程中将待测天线水平旋转180°放置，再次重复一遍待测天线实测数据的测试过程，再次得到仰角坐标...
【技术特征摘要】
1.一种基于数据同化的高精度天线方向图测试方法，其特征在于，包括以下过程：
2.根据权利要求1所述的一种基于数据同化的高精度天线方向图测试方法，其特征在于，待测天线仿真数据的得到过程为：
3.根据权利要求1所述的一种基于数据同化的高精度天线方向图测试方法，其特征在于，待测天线实测数据的测试过程具体为：
4.根据权利要求3所述的一种基于数据同化的高精度天线方向图测试方法，其特征在于，如果测试需求想要得到整个天线的全向辐射信息，则在平面近场测试过程中将待测天线水平旋转180°放置，再次重复一遍待测天线实测数据的测试过程，再次得到仰角坐标[-180°，180°]区间内的数据，再次利用数据同化方法估计全向方向图；
5.根据权利要求3所述的一种基于数据同化的高精度天线方向图测试方法，其特征在于，如果测试需求想要得到整个天线的全向辐射信息，则在平面...
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