【技术实现步骤摘要】
本技术涉及激光芯片测试，尤其涉及一种大功率激光芯片老化测试装置。
技术介绍
1、在生产激光芯片时，为了实现激光芯片的高效生产，需要对激光芯片进行老化测试，老化测试是检验激光芯片可靠性的关键手段之一。现有技术中，在对多个激光芯片进行老化测试的过程中，测试装置需要分别对每一个激光芯片加电并记录数据。然而，每个激光芯片都需要进行上料、加电、断电和下料的操作，操作费时，导致老化测试的效率较低。
技术实现思路
1、本技术的目的在于提供了一种测试操作简便及测试结果可靠的大功率激光芯片老化测试装置。
2、为实现前述目的，本技术采用如下技术方案：一种大功率激光芯片老化测试装置，其包括水冷板、反射座体及若干光电探测器，所述水冷板设有用于一一放置激光芯片的若干定位凹槽，所述定位凹槽左右间隔排列，所述反射座体贴靠于所述水冷板后端，并且设有与所述定位凹槽一一对应的若干吸光孔及从对应的所述吸光孔向后延伸至所述反射座体后端面的若干出光孔，所述吸光孔向后倾斜延伸并且凹设于所述反射座体前端面，所述光电探测器一一遮挡所述出光孔后端。
3、进一步的改进，所述吸光孔向后向上延伸至所述出光孔。
4、进一步的改进，所述出光孔前后水平延伸。
5、进一步的改进，所述反射座体还设有左右贯穿所述反射座体的充气孔，各所述吸光孔和所述充气孔贯通。
6、进一步的改进，所述反射座体还设有左右贯穿所述反射座体的流道，用于与供冷却水流通，所述流道和所述充气孔上下间隔开。
8、进一步的改进，所述水冷板内设有供冷却水流动的水道。
9、本技术大功率激光芯片老化测试装置的水冷板设有用于一一放置激光芯片的若干定位凹槽，所述定位凹槽左右间隔排列，所述反射座体贴靠于所述水冷板后端，并且设有与所述定位凹槽一一对应的若干吸光孔及从对应的所述吸光孔向后延伸至所述反射座体后端面的若干出光孔，所述吸光孔向后倾斜延伸并且凹设于所述反射座体前端面，所述光电探测器一一遮挡所述出光孔后端，本技术大功率激光芯片老化测试装置工作时，激光芯片发出的激光向后射入吸光孔中，经过吸光孔的内壁多次发射后从出光孔射出，最终照射于光电探测器上，测试激光的热效率与稳定性，实现对激光芯片的老化测试，测试操作简便，测试结果可靠。
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1.一种大功率激光芯片老化测试装置，其包括水冷板、反射座体及若干光电探测器，其特征在于：所述水冷板设有用于一一放置激光芯片的若干定位凹槽，所述定位凹槽左右间隔排列，所述反射座体贴靠于所述水冷板后端，并且设有与所述定位凹槽一一对应的若干吸光孔及从对应的所述吸光孔向后延伸至所述反射座体后端面的若干出光孔，所述吸光孔向后倾斜延伸并且凹设于所述反射座体前端面，所述光电探测器一一遮挡所述出光孔后端。
2.根据权利要求1所述的大功率激光芯片老化测试装置，其特征在于：所述吸光孔向后向上延伸至所述出光孔。
3.根据权利要求1所述的大功率激光芯片老化测试装置，其特征在于：所述出光孔前后水平延伸。
4.根据权利要求1所述的大功率激光芯片老化测试装置，其特征在于：所述反射座体还设有左右贯穿所述反射座体的充气孔，各所述吸光孔和所述充气孔贯通。
5.根据权利要求4所述的大功率激光芯片老化测试装置，其特征在于：所述反射座体还设有左右贯穿所述反射座体的流道，用于与供冷却水流通，所述流道和所述充气孔上下间隔开。
6.根据权利要求1所述的大功率激光芯片老
7.根据权利要求1所述的大功率激光芯片老化测试装置，其特征在于：所述水冷板内设有供冷却水流动的水道。
...【技术特征摘要】
1.一种大功率激光芯片老化测试装置，其包括水冷板、反射座体及若干光电探测器，其特征在于：所述水冷板设有用于一一放置激光芯片的若干定位凹槽，所述定位凹槽左右间隔排列，所述反射座体贴靠于所述水冷板后端，并且设有与所述定位凹槽一一对应的若干吸光孔及从对应的所述吸光孔向后延伸至所述反射座体后端面的若干出光孔，所述吸光孔向后倾斜延伸并且凹设于所述反射座体前端面，所述光电探测器一一遮挡所述出光孔后端。
2.根据权利要求1所述的大功率激光芯片老化测试装置，其特征在于：所述吸光孔向后向上延伸至所述出光孔。
3.根据权利要求1所述的大功率激光芯片老化测试装置，其特征在于：所述出光孔前...
【专利技术属性】
技术研发人员：汪飞，
申请(专利权)人：北京蓝溪华兴光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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