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本技术公开一种大功率激光芯片老化测试装置，其包括水冷板、反射座体及若干光电探测器，所述水冷板设有用于一一放置激光芯片的若干定位凹槽，所述反射座体贴靠于所述水冷板后端，并且设有与所述定位凹槽一一对应的若干吸光孔及从对应的所述吸光孔向后延伸至所...
该专利属于北京蓝溪华兴光电科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京蓝溪华兴光电科技有限公司授权不得商用。

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