一种CIS成品测试模块与均匀受光技术制造技术

本发明专利技术公开了一种CIS成品测试模块与均匀受光技术，包括测试机，被测CIS成品芯片，测试基板，测试座，其中测试座安装在测试基板上表面，被测CIS成品芯片安装在测试座内部，将CIS成品芯片光感面朝下，将安装座安装在测试基板上表面，同时将LED灯安装在安装座上表面，测试基板上安装MIPI桥接芯片和FPGA模块。本发明专利技术通过将LED灯安装，同时将被测CIS成品芯片安装在放置框架内部设置的放置槽内部，将被测CIS成品芯片光感面朝下，通过控制LED灯，使得每颗CIS成品都能对应单一光源，使产品能均匀受光，能够避免外部光照不可控时的影响，解决了光学测试时光照不均匀分布于产品情况,同时能做8个同测数,使得产品在稳定的光源下测试电性情况,完成CIS成品测试。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于cis成品测试，特别是涉及一种cis成品测试模块与均匀受光技术。

技术介绍

1、通常在cis芯片(即cmos图像传感器)量产前，为了提高产品良率，会进行一系列的功能和特性方面的测试，而目前的主流测试方法大部分都是基于ate测试平台来进行的。

2、cis成品测试中，传统的测试技术采用外部光照作为输入，由于外部光照不可控，以及每个像素单元的光电转换效率的差异，因而无法进行量化分析，只能进行趋势分析，从而导致测试结果精准度不够。

技术实现思路

1、本专利技术的目的在于提供一种cis成品测试模块与均匀受光技术，解决现有的问题。

2、为解决上述技术问题，本专利技术是通过以下技术方案实现的：

3、本专利技术为一种cis成品测试模块与均匀受光技术，其特征在于，包括如下步骤：

4、步骤1：提供一种cis成品测试模块，包括测试机，被测cis成品芯片，测试基板，测试座，其中测试座安装在测试基板上表面，被测cis成品芯片安装在测试座内部，将cis成品芯片光感面朝下，将安本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种CIS成品测试模块与均匀受光技术，其特征在于，包括如下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种CIS成品测试模块与均匀受光技术，其特征在于，所述FPGA模块以辅助外围电路的模式作为测试基板(1)电路的一部分直接安装在测试基板(1)上。

3.根据权利要求1所述的一种CIS成品测试模块与均匀受光技术，其特征在于，所述内部电压产生模块用于在测试时替代CIS的光源模块为ADC模块提供测试输入信号。

4.根据权利要求1所述的一种CIS成品测试模块与均匀受光技术，其特征在于，所述内部电压产生模块采用开尔文分压器结构。

5.根据权利要求1所述的一种C...

【技术特征摘要】

1.一种cis成品测试模块与均匀受光技术，其特征在于，包括如下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种cis成品测试模块与均匀受光技术，其特征在于，所述fpga模块以辅助外围电路的模式作为测试基板(1)电路的一部分直接安装在测试基板(1)上。

3.根据权利要求1所述的一种cis成品测试模块与均匀受光技术，其特征在于，所述内部电压产生模块用于在测试时替代cis的光源模块为adc模块提供测试输入信号。

4.根据权利要求1所述的一种cis成品测试模块与均匀受光技术，其特征在于，所述内部电压产生模块采用开尔文分压器结构。

5.根据权利要求1所述的一种cis成品测试模块与均匀受...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘家铭，苏涛，吴胜权，孙兆凡，
申请(专利权)人：合肥芯测半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：