温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了一种CIS成品测试模块与均匀受光技术，包括测试机，被测CIS成品芯片，测试基板，测试座，其中测试座安装在测试基板上表面，被测CIS成品芯片安装在测试座内部，将CIS成品芯片光感面朝下，将安装座安装在测试基板上表面，同时将LED灯...
该专利属于合肥芯测半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥芯测半导体有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。