【技术实现步骤摘要】
本申请涉及结构光测量领域，更具体地，涉及一种线结构光测量系统的标定方法、一种线结构光测量系统的标定装置、一种线结构光测量系统以及一种线结构光摄像装置。
技术介绍
1、线结构光测量系统作为一种非接触式检测手段，在近几年取得了突飞猛进的发展，目前已经广泛地应用于三维重建、三维测量及无损缺陷检测中。线结构光测量系统具有检测效率高、精度高、以及量程大的特点，另外该系统的测量精度与摄像装置的标定、光平面标定有着直接的关系。
2、线结构光测量系统的标定是为了获取图像像素点与光平面空间三维点的对应关系。目前常用的标定方法是基于自由移动平面靶标的线结构光传感器标定技术，具体地，通过移动靶标位置，根据多次投射的光条直线计算光平面方程，此外，还需要利用非线性优化方法得到平面方程的最优解。在上述常用标定方法中，大面积的高精度标靶不易制作，标定过程繁琐，因而不适合量产标定线结构光测量系统。
3、因此，如何简单、快速、精确且经济地得到结构光平面在摄像模组坐标系中的平面方程是一个亟待解决的问题。
技术实现思路b>
1本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种线结构光测量系统的标定方法，其特征在于，
2.根据权利要求1所述的标定方法，其中，所述第一检测包括：
3.根据权利要求1所述的标定方法，其中，根据所述结构光平面的标定参数，进行所述结构光条纹的第二检测包括：
4.根据权利要求3所述的标定方法，其中，根据所述结构光平面的标定参数，进行所述结构光条纹的第二检测还包括：
5.根据权利要求1所述的标定方法，其中，根据所述输入数据，确定结构光平面的标定参数包括：
6.根据权利要求5所述的标定方法，其中，对所述结构光平面的初始标定参数进行优化包括：
7...
【技术特征摘要】
1.一种线结构光测量系统的标定方法，其特征在于，
2.根据权利要求1所述的标定方法，其中，所述第一检测包括：
3.根据权利要求1所述的标定方法，其中，根据所述结构光平面的标定参数，进行所述结构光条纹的第二检测包括：
4.根据权利要求3所述的标定方法，其中，根据所述结构光平面的标定参数，进行所述结构光条纹的第二检测还包括：
5.根据权利要求1所述的标定方法，其中，根据所述输入数据...
【专利技术属性】
技术研发人员：王洁，阮江锋，葛晨昊，臧新风，
申请(专利权)人：浙江舜宇智能光学技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。