【技术实现步骤摘要】
一种托盘盛装的辐照物料厚度检测方法
[0001]本申请涉及辐照物料测厚
，具体涉及一种托盘盛装的辐照物料厚度检测方法
。
技术介绍
[0002]辐照物料是指通过辐射源进行辐照处理的物质，辐照物料不同，目的不同，所使用的射线种类以及辐照强度也不相同
。
同时辐照处理在橡胶
、
塑料制品
、
纺织品处理领域有着极其广泛的应用，为使得辐照物料进行辐照处理时保证完整均匀化，对辐照物料厚度的测量必不可少
。
使用超声波技术对辐照物料进行测厚时，通常考虑的是超声波在物料中的传播速度以及时间，而没有从超声波信号在物料中的衰减特性方面考虑
。
通过将超声波信号转换成电信号进而分析信号衰减特征时，不仅能够得到更为详细的信号特征以及参数信息，而且还可以提供延迟线补偿功能，消除探头之间超声波信号接收的时间差异对测量精度的影响，有利于更准确的评估信号在物料中的衰减程度
。
[0003]但将超声波转换成电信号分析时，容易受到测量环境中噪声信号的干扰，同时在信号转换过程中可能会引入新的噪声变量，通过维纳滤波算法对转换获得的辐照物料的测厚电信号进行去噪处理时，平滑系数过大会使得维纳滤波去噪效果更好，但可能会导致信号失真；而较小的平滑系数虽然能保留辐照物料的测厚电信号的细节信息，但会使得某些信号成分过于尖锐，导致对噪声信号的处理效果较差，后续无法提供较为精准的辐照物料测厚信号数据
。
[0004]综上所述，本专利技术提出一种...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种托盘盛装的辐照物料厚度检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：采集辐照物料测厚的超声波信号；将超声波信号转换成的电信号作为测厚电信号；通过傅里叶变换获取测厚电信号时域波形图中的周期大小；通过周期大小获取时域波形图中各周期；根据时域波形图中不同振幅重复出现情况得到采样时间内测厚电信号的二元振幅熵；根据二元振幅熵及各周期内测厚电信号波动变化得到采样时间内测厚电信号的时域受扰因子；通过离散傅里叶变换获取各周期时域波形图的频谱图；根据各频谱图的基频信号包络中能量最大
、
最小值得到各频谱图基频信号包络的能量变化量；根据各基频信号包络的能量变化量得到采样时间内测厚电信号的基频能量差异系数；根据各基频信号包络的能量变化量得到采样时间内测厚电信号的基频信号衰减率；根据采样时间内测厚电信号的基频能量差异系数及基频信号衰减率得到采样时间内测厚电信号的频域受扰因子；根据时域
、
频域受扰因子得到测厚电信号的平滑系数调整因子；根据平滑系数调整因子得到新的平滑系数；通过新的平滑系数结合维纳滤波算法对测厚电信号进行去噪得到去噪测厚电信号；根据不同标准厚度辐照物料的去噪测厚电信号得到待测物料的厚度
。2.
如权利要求1所述的一种托盘盛装的辐照物料厚度检测方法，其特征在于，所述根据时域波形图中不同振幅重复出现情况得到采样时间内测厚电信号的二元振幅熵，具体包括：在采样时间内，获取时域波形图中所有波峰中振幅最大值
、
最小值，分别确定为波峰最大
、
最小振幅值；获取波谷最大
、
最小振幅值；将第
a
个波峰
、
波谷的振幅进行组合得到第
a
个二元振幅组；获取各二元振幅组在时域波形图中出现的次数；获取时域波形图中所有二元振幅组的个数；将各二元振幅组的所述次数与所有二元振幅组的个数的比值作为各二元振幅组的发生概率；计算所有二元振幅组发生概率的熵；将所述熵作为采样时间内测厚电信号的二元振幅熵
。3.
如权利要求1所述的一种托盘盛装的辐照物料厚度检测方法，其特征在于，所述根据二元振幅熵及各周期内测厚电信号波动变化得到采样时间内测厚电信号的时域受扰因子，具体包括：获取时域波形图各周期内所有波峰中振幅最大值，记为周期最大波峰值；获取时域波形图中所有波峰振幅均值；计算各周期最大波峰值与所述振幅均值的差值绝对值，记为第一差值绝对值；计算所有第一差值绝对值的和值；计算二元振幅熵与所述第一差值绝对值的和值的比值；计算相邻两个周期内过零点次数的差值绝对值，记为第二差值绝对值；计算所有第二差值绝对值的和值；计算以自然常数为底数
、
以所述第二差值绝对值的和值为指数的指数函数的计算结果；计算所述比值与所述计算结果的乘积；将所述乘积作为采样时间内测厚电信号的时域受扰因子
。4.
如权利要求1所述的一种托盘盛装的辐照物料厚度检测方法，其特征在...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵丽君，李长久，邓志高，
申请(专利权)人：承德石油高等专科学校，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。