一种制造技术

本申请涉及显示屏保护领域，特别是涉及一种

【技术实现步骤摘要】
一种PMOLED显示屏的缺陷测试方法、电子设备及存储介质


[0001]本申请涉及显示屏制造
，特别是涉及一种
PMOLED
显示屏的缺陷测试方法
、
电子设备及存储介质
。

技术介绍

[0002]OLED
，即有机发光二极管，由于同时具备自发光，不需要背光源
、
对比度高
、
厚度薄
、
视角广
、
反应速度快
、
可用于挠曲性面板
、
使用温度范围广
、
构造及制程较简单等优异之特性，被认为是下一代的平面显示器新兴应用技术
。
其根据驱动方式的不同分为主动式
OLED(AMOLED)
与被动式
OLED(PMOLED)。
[0003]PMOLED
显示屏在生产制造的过程中，需要对其的显示功能进行检测
。
现有技术中，为了检测
PMOLED
显示屏多采用将
PMOLED
显示屏点本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种
PMOLED
显示屏的缺陷测试方法，包括：使用
CCD
相机获取在测试距离处良好的
PMOLED
显示屏所显示的测试画面，所述测试画面显示有检测标识，制作所述测试画面中包括所述检测标识的部分画面为对位模板画面；使用
CCD
相机获取在测试距离处待测试的
PMOLED
显示屏所显示的测试画面，使用与所述对位模板画面尺寸相同的窗口在所述测试画面中按像素移动，获得若干窗口画面；对所述若干窗口画面和所述对位模板画面进行
NCC
匹配，确定所述若干画面中与所述对位模板画面最匹配的窗口画面
、
最匹配的窗口画面的位置坐标及角度；基于对模板画面的位置坐标及角度，所述最匹配的窗口画面
、
最匹配的窗口画面的位置坐标及角度，对所述最匹配的窗口画面进行矩阵转换得到待检测画面；将所述待检测画面与所述对位模板画面进行像素对比，确定显示差异像素点
。2.
根据权利要求1所述的
PMOLED
显示屏的缺陷测试方法，其特征在于，所述方法还包括：若
CCD
相机获取的测试画面为
RGB
图像，则先进行灰度转化，再制作对位模板画面
。3.
根据权利要求1所述的
PMOLED
显示屏的缺陷测试方法，其特征在于，所述对所述若干窗口画面和所述对位模板画面进行
NCC
匹配，确定所述若干画面中与所述对位模板画面最匹配的窗口画面
、
最匹配的窗口画面的位置坐标及角度的具体步骤包括：使用如下公式计算每一窗口画面与对位模板画面的
NCC
值：其中
f(x,y)
为窗口画面位置
(x,y)
处像素的灰度值，
t(x,y)
为对位模板画面位置
(x,y)
处像素的灰度值，
μ
f
为窗口画面所有像素灰度值的平均值，
μ
t
为对位模板画面所有像素灰度值的平均值，
σ
...

【专利技术属性】
技术研发人员：蒲大杭，
申请(专利权)人：信利光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：