光模块测试系统技术方案

本实用新型专利技术涉及光模块测试技术领域，公开了一种光模块测试系统

【技术实现步骤摘要】
光模块测试系统


[0001]本技术涉及光模块测试
，尤其涉及一种光模块测试系统
。

技术介绍

[0002]随着光通信领域的高速发展，光模块的用量越来越大，同一种速率的不同封装类型也越来越多，每种产品都有专门对应的生产台位，对测试设备的需求量是巨大的，同时还需要巨大的人力成本和空间成本等，还容易造成闲置的测试设备
、
人力或空间的浪费
。
因此，如何提高测试台位的兼容性已成为亟待解决的问题
。
[0003]上述内容仅用于辅助理解本技术的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术
。

技术实现思路

[0004]本技术的主要目的在于提供一种光模块测试系统，旨在解决现有光模块测试台位的兼容性低的技术问题
。
[0005]为实现上述目的，本技术提供了一种光模块测试系统，包括：
[0006]测试板，所述测试板包括：电连接的
QSFP
‑
DD
射频连接器和射频连接座，所述射频连接座还通过射频线连接误码仪；
[000本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种光模块测试系统，其特征在于，包括：测试板，所述测试板包括：电连接的
QSFP
‑
DD
射频连接器和射频连接座，所述射频连接座还通过射频线连接误码仪；射频连接转换器，所述射频连接转换器包括：电连接的
QSFP
‑
DD
金手指和
SFP
‑
DD
射频连接器；其中，待测光模块通过模块金手指与所述
QSFP
‑
DD
射频连接器连接；或，待测光模块通过模块金手指与所述
SFP
‑
DD
射频连接器连接，将所述
QSFP
‑
DD
金手指与所述测试板的
QSFP
‑
DD
射频连接器连接，以使所述待测光模块电连接所述测试板，实现通过所述测试板对所述待测光模块进行误码测试
。2.
如权利要求1所述的光模块测试系统，其特征在于，所述射频连接座包括：第一射频连接模块和第二射频连接模块；其中，所述第一射频连接模块包括多个发射端口，所述多个发射端口分别与所述
QSFP
‑
DD
射频连接器连接；所述第二射频连接模块包括多个接收端口，所述多个接收端口分别与所述
QSFP
‑
DD
射频连接器连接
。3.
如权利要求1所述的光模块测试系统，其特征在于，所述测试板还包括：
USB
接口模块；其中，所述
USB
接口模块与所述
QSFP
‑
DD
射频连接器连接，用于与上位机进行通讯
。4.
如权利要求3所述的光模块测试系统，其特征在于，所述
USB
接口模块包括：
USB
微控制器
、
第一电阻
、
第二电阻
、
第三电阻
、
第四电阻
、
第五电阻
、
第一电容
、
第二电容以及
USB
接口；其中，所述微控制器的电压端与所述第一电阻的一端连接，所述第一电阻的另一端分别与所述第一电容和第二电容的一端连接，所述第一电容和第二电容的另一端接地，所述第一电阻的另一端还与电源连接；所述第二电阻的一端与所述电源连接，所述第二电阻的另一端与所述第三电阻的一端连接，所述第三电阻的一端还与所述
USB
微控制器的
REGIN
端连接，所述第三电阻的另一端与所述第四电阻的一端连接，所述第三电阻的另一端与所述
USB
微控制器的
VBUS
端连接，所述第四电阻的另一端与所述
USB
接口的电源端连接，所述
USB
接口的数据端分别与所述
USB
微控制器的数据端连接；所述第五电阻的一端和另一端分别与所述微控制器的两端连接；所述
USB
微控制器的
SDA
端和
SCL
端分别与所述
QSFP
‑
DD
射频连接器连接
。5.
如权利要求1所述的光模块测试系统，其特征在于，所述测试板还包括：拨码开关模块；其中，所述拨码开关模块与所述
QSFP
‑
DD
射频连接器连接，用于控制
QSFP
‑
DD
射频连接器的管脚的电平
。6.
如权利要求5所述的光模块测试系统，其特征在于，所述拨码开关模块包括第一开关
、
第二开关
、
第六...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘雨佳，李林科，吴天书，杨现文，张健，
申请(专利权)人：武汉联特科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：