一种用于半导体测试的分选装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种用于半导体测试的分选装置，包括输送机构，所述输送机构上部设置有安装有分选机构；所述分选机构包括检测组件

【技术实现步骤摘要】
一种用于半导体测试的分选装置


[0001]本技术涉及分选
，特别涉及一种用于半导体测试的分选装置
。

技术介绍

[0002]半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，半导体制成的芯片在无时无刻的影响着人们的日常工作生活，在芯片生产过程中，需要将芯片进行测试，剔除不良品
。
[0003]中国专利公开号
CN216622588U
的的专利公开了一种芯片测试分选装置，包括机座，所述机座上设有第一分选区域
、
第二分选区域和测试装置；所述第一分选区域用于放置符合第一分选条件的芯片；所述第二分选区域用于放置符合第二分选条件的芯片；所述第一分选区域设有第一信号灯，所述第二分选区域设有第二信号灯；所述测试装置与所述第一信号灯和所述第二信号灯电连接，所述测试装置被配置为测试芯片，并确定芯片符合所述第一分选条件或所述第二分选条件，以控制所述第一信号灯或所述第二信号灯开启
。
上述装置中，将芯片测试后，人工再将测试结果不同的芯片放置到各个分选区中，芯片数量较多，人工放置芯片容易导致放置错误，且该方式耗费的人力大，人工分选放置效率低
。

技术实现思路

[0004]本技术的主要目的在于提供一种用于半导体测试的分选装置，可以有效解决
技术介绍
中的问题
。
[0005]为实现上述目的，本技术采取的技术方案为：
[0006]一种用于半导体测试的分选装置，包括输送机构，所述输送机构上部设置有安装有分选机构；
[0007]所述分选机构包括检测组件
、
保护壳和分道组件，所述检测组件上侧安装在保护壳一端内顶壁，所述分道组件安装在保护壳内部远离检测组件一侧，所述保护壳下部安装在输送机构上部
。
[0008]优选的，所述保护壳靠近检测组件的一端外部设置有引导板
。
[0009]优选的，所述保护壳远离检测组件的一端外部设置有下料斗，且所述下料斗设置在输送机构远离检测组件一端下部，所述下料斗下部设置有物料箱
。
[0010]优选的，所述分道组件包括舵机
、
挡板和分流板，所述分流板上侧安装在保护壳远离检测组件一侧中部，所述挡板远离分流板一端转动连接在保护壳中部一侧，所述挡板远离分流板一端固定连接在舵机上侧输出端，所述舵机安装在输送机构中部一侧
。
[0011]优选的，所输送机构包括减速电机
、
输送带
、
支撑板和轴杆，所述轴杆前后两端转动连接在支撑板相向一侧左右两端，所述输送带内部两侧啮合连接在轴杆外周，所述减速电机安装在支撑板外侧，所述减速电机驱动端固定连接在轴杆一端
。
[0012]优选的，所述支撑板边角设置有支腿，所述支腿下部安装有万向轮
。
[0013]与现有技术相比，本技术具有如下有益效果：
[0014]1、
通过分流板将保护壳末端分为合格通道与不合格通道，合格的半导体芯片会直接通过合格通道和下料斗掉落到相应的物料箱中，而有不合格的半导体芯片时，舵机会带动挡板转动，通过挡板封闭合格通道，使得半导体芯片通过不合格通道和下料斗掉落到相应的物料箱中，相交人工分选，不易出错，并且分选效率高
。
附图说明
[0015]图1为本技术一种用于半导体测试的分选装置的立体结构示意图；
[0016]图2为本技术一种用于半导体测试的分选装置的分道组件结构示意图；
[0017]图3为本技术一种用于半导体测试的分选装置的输送机构结构示意图
。
[0018]图中：
1、
输送机构；
101、
减速电机；
102、
输送带；
103、
支撑板；
104、
轴杆；
2、
检测组件；
3、
保护壳；
4、
下料斗；
5、
支腿；
6、
引导板；
7、
分道组件；
701、
舵机；
702、
挡板；
703、
分流板
。
具体实施方式
[0019]为使本技术实现的技术手段
、
创作特征
、
达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本技术
。
[0020]如图1‑3所示，一种用于半导体测试的分选装置，包括输送机构1，输送机构1上部设置有安装有分选机构
。
[0021]本实施例中，分选机构包括检测组件
2、
保护壳3和分道组件7，检测组件2上侧安装在保护壳3一端内顶壁，分道组件7安装在保护壳3内部远离检测组件2一侧，保护壳3下部安装在输送机构1上部，保护壳3靠近检测组件2的一端外部设置有引导板6，保护壳3远离检测组件2的一端外部设置有下料斗4，且下料斗4设置在输送机构1远离检测组件2一端下部，下料斗4下部设置有物料箱，分道组件7包括舵机
701、
挡板
702
和分流板
703
，分流板
703
上侧安装在保护壳3远离检测组件2一侧中部，挡板
702
远离分流板
703
一端转动连接在保护壳3中部一侧，挡板
702
远离分流板
703
一端固定连接在舵机
701
上侧输出端，舵机
701
安装在输送机构1中部一侧
。
[0022]具体的，检测组件2采用的是中国专利公开号
CN218360728U
中公开的一种芯片测试分选装置中公开的测试机，在输送机构1的持续输送下，通过分流板
703
将保护壳3末端分为合格通道与不合格通道，接着通过引导板6使得半导体芯片进入保护壳3内部，进而检测组件2的检测后，合格的半导体芯片会通过合格通道和下料斗4掉落到相应的物料箱中，而有不合格的半导体芯片时，舵机
701
会带动挡板
702
转动，通过挡板
702
封闭合格通道，使得半导体芯片通过不合格通道和下料斗4掉落到相应的物料箱中，相交人工分选，不易出错，并且分选效率高
。
[0023]本实施例中，所输送机构1包括减速电机
101、
输送带
102、
支撑板
103
和轴杆
104
，轴杆
104
前后两端转动连接在支撑板
103
相向一侧左右两端，输送带
102
内部两侧啮合连接在轴杆
104
外周，减速电机
101
安装在支撑板
103
外侧，减速电机
101本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种用于半导体测试的分选装置，包括输送机构
(1)
，其特征在于：所述输送机构
(1)
上部设置有安装有分选机构；所述分选机构包括检测组件
(2)、
保护壳
(3)
和分道组件
(7)
，所述检测组件
(2)
上侧安装在保护壳
(3)
一端内顶壁，所述分道组件
(7)
安装在保护壳
(3)
内部远离检测组件
(2)
一侧，所述保护壳
(3)
下部安装在输送机构
(1)
上部
。2.
根据权利要求1所述的一种用于半导体测试的分选装置，其特征在于：所述保护壳
(3)
靠近检测组件
(2)
的一端外部设置有引导板
(6)。3.
根据权利要求1所述的一种用于半导体测试的分选装置，其特征在于：所述保护壳
(3)
远离检测组件
(2)
的一端外部设置有下料斗
(4)
，且所述下料斗
(4)
设置在输送机构
(1)
远离检测组件
(2)
一端下部，所述下料斗
(4)
下部设置有物料箱
。4.
根据权利要求1所述的一种用于半导体测试的分选装置，其特征在于：所述分道组件
(7)
包括舵机
(701)、
挡板
(702)
和分流板
(703)
，所述分...

【专利技术属性】
技术研发人员：蒋亚飞，商碧莹，郭倩倩，
申请(专利权)人：杭州鑫沅科技有限公司，
类型：新型
国别省市：