薄膜电容电极图像分割方法及电子设备技术

本申请提供一种薄膜电容电极图像分割方法及电子设备

【技术实现步骤摘要】
薄膜电容电极图像分割方法及电子设备


[0001]本专利技术涉及计算机图像处理
，具体而言，涉及一种薄膜电容电极图像分割方法及电子设备
。

技术介绍

[0002]在图像分割处理领域，不同场景对分割算法的需求各不相同，所以很难用一种分割算法适应所有场景做分割，特别是在高效率和高准确度的需求下，权衡难度倍增
。
在薄膜电容的制造过程中，通常需要对薄膜电容的电极片
(
或内电极
)
进行检测，以确保电极片的质量
。
而电极片通常是印制在一张柔性的基膜上，即，一张基膜印制有大量的电极片
。
由柔性薄膜材料形成的基膜容易变形，且电极片数量庞大
、
达数十万乃至更多的复杂场景，目前，不管是采用模板匹配还是投影或是其它方式，由于分割数量庞大密集
、
柔性材料本身易产生形变
、
歪斜等特点，所以很难同时满足分割效率快和分割准确度高两大指标
。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本申请实施例的目的在本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种薄膜电容电极图像分割方法，其特征在于，所述方法包括：获取拍摄基膜得到的原始图像，其中，所述基膜包括用于制作薄膜电容的呈阵列排布的多个电极片；按照预设压缩比例对所述原始图像进行压缩处理，得到经过压缩的第一图像；对所述第一图像进行开运算处理，得到第二图像；对所述第二图像进行二值化处理，得到第三图像；通过预设的双阈值处理策略，对所述第三图像进行边缘分割，得到所述第三图像中的电极片的边缘分割图；从具有所述边缘分割图的所述第三图像中确定每个电极片的角点坐标；根据所述预设压缩比例及每个所述电极片的角点坐标，确定每个所述电极片在所述原始图像中对应的角点坐标；基于所述原始图像中对应的角点坐标及所述电极片的预设尺寸，从所述原始图像中分割得到每个所述电极片的图区
。2.
根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过预设的双阈值处理策略，对所述第三图像进行边缘分割，得到所述第三图像中的电极片的边缘分割图，包括：确定所述第三图像中每个像素点的梯度幅值和梯度方向；将梯度幅值大于第一预设阈值的像素点，标记为表征强边缘的第一类像素点；将梯度幅值大于第二预设阈值且小于等于所述第一预设阈值的像素点，标记为表征弱边缘的第二类像素点，所述第二预设阈值小于所述第一预设阈值；将梯度幅值小于等于所述第二预设阈值的像素点，标记为表征非边缘的第三类像素点；通过预设的边缘跟踪策略，根据所述第一类像素点
、
所述第二类像素点及所述第三类像素点，得到所述第三图像中的电极片的边缘分割图
。3.
根据权利要求2所述的方法，其特征在于，通过预设的边缘跟踪策略，根据所述第一类像素点
、
所述第二类像素点及所述第三类像素点，得到所述第三图像中的电极片的边缘分割图，包括：将所述第一图像中的所述第一类像素点添加到...

【专利技术属性】
技术研发人员：张元，杨再学，陈皓天，陈斌，
申请(专利权)人：哈尔滨工业大学，
类型：发明
国别省市：