一种半导体测试分选机制造技术

本实用新型专利技术公开了一种半导体测试分选机，本实用新型专利技术涉及半导体测试技术领域，包括底座，所述底座的顶部设置有运动机构，所述底座的顶部设置有固定杆，所述固定杆的横截面形状为

【技术实现步骤摘要】
一种半导体测试分选机


[0001]本技术涉及半导体测试
，具体为一种半导体测试分选机
。

技术介绍

[0002]半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，现有技术中，需要人工将半导体放在测试机上面，并对测试机进行操作，之后又需要通过人工的方式将半导体取下，从而需要人工进行频繁操作，无法批量对半导体进行测试，使得工作的效率低
。
[0003]例如专利申请号
CN202020847469.X
，具体为本技术公开了一种半导体测试分选机，所述底座的前端端面连接有显示屏，所述底座的上端端面连接有限位装置，所述限位装置的中间在底座的上端端面连接有压力传感器，所述压力传感器的上端端面连接有下电极，所述压力传感器的左方在底座的上端端面连接有深度调节装置，所述深度调节装置的外表面在限位装置的表面位置处连接有移动板，本技术有凹槽
、
固定杆
、
刻度和支撑板组成的限位装置，采用固定杆能很好的限制移动板的移动方向，使移动板只能竖直上下移动，同时移动板在固定杆的表面移动能很好的遮挡刻度，从而在不同角度都能直接读出凹槽表面的刻度，避免直视刻度造成的麻烦，使数据的读取更加迅速，在使用时，需要人工进行频繁操作，无法批量对半导体进行测试，使得工作的效率低问题
。

技术实现思路

[0004]针对现有技术的不足，本技术提供了一种半导体测试分选机，解决了需要人工进行频繁操作，无法批量对半导体进行测试，使得工作的效率低的问题
。
[0005]为实现以上目的，本技术通过以下技术方案予以实现：一种半导体测试分选机，包括底座，所述底座的顶部设置有运动机构，所述底座的顶部设置有固定杆，所述固定杆的横截面形状为
L
形，所述底座的顶部设置有电动推杆，所述电动推杆与固定杆固定连接，所述电动推杆的底部设置有测试板
。
[0006]所述运动机构包括齿轮，所述齿轮的数量为两个，两个所述齿轮的背面均通过支撑杆与底座固定连接，所述底座的表面设置有孔洞，所述孔洞的内部设置有翻转板，且翻转板的顶部以及底部均设置有测试机，所述底座的一端顶部设置有皮带，且皮带的外侧表面设置有限制块，所述限制块的数量为多个，且靠近孔洞的齿轮正面设置有第一电机，所述第一电机的输出轴端部与齿轮传动连接
。
[0007]优选的，所述底座的表面设置有凹洞，所述凹洞的内部设置有第二电机，所述第二电机的输出轴端部设置有小齿轮
。
[0008]优选的，所述小齿轮的一侧设置有旋转杆，且旋转杆与小齿轮固定连接，所述旋转杆贯穿翻转板
。
[0009]优选的，所述皮带的内部设置有齿轨，且齿轨与齿轮相啮合，所述底座的底部设置有竖筒
。
[0010]优选的，所述竖筒的内部设置有齿条板，所述齿条板与竖筒活动连接，所述齿条板
的顶端通过凹洞延伸至底座的顶部
。
[0011]优选的，所述孔洞的面积大于测试机的面积，所述齿轨与齿轮相啮合
。
[0012]优选的，所述翻转板与测试板为竖直共线设置，所述限制块的横截面形状为半圆形，所述齿条板的顶端背面设置有挡板
。
[0013]有益效果
[0014]本技术提供了一种半导体测试分选机
。
与现有技术相比具备以下有益效果：
[0015]1、
该半导体测试分选机，通过第二电机的转动速度大于第一电机的转动速度，让第一电机连接的翻转板先完成工作，通过第一电机让翻转板上下的测试机完成位置调换，自动完成半导体的排放，以及不会影响后续的测试，且在第二电机的使用时，让皮带上面的一个半导体位于测试机上面，从而通过第一电机与第二电机的使用，可以自动完成对半导体的取下
、
放置和测试，提高了工作的效率
。
[0016]2、
该半导体测试分选机，通过挡板位于皮带的上面，且每一个半导体位于相邻两个限制块之间，对半导体进行分隔阻挡，防止半导体直接向下掉落，便于让半导体逐一向下运动
。
附图说明
[0017]图1为本技术的整体结构示意图；
[0018]图2为本技术的运动机构示意图；
[0019]图3为本技术的图1中的
A
部放大图；
[0020]图4为本技术的底座与测试机俯视图
。
[0021]图中：
1、
底座；
2、
运动机构；
201、
齿轮；
202、
皮带；
203、
翻转板；
204、
测试机；
205、
限制块；
206、
第一电机；
207、
小齿轮；
208、
旋转杆；
209、
齿轨；
210、
竖筒；
211、
齿条板；
3、
固定杆；
4、
电动推杆；
5、
测试板；
6、
孔洞；
7、
凹洞；
8、
第二电机；
9、
挡板
。
具体实施方式
[0022]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚
、
完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例
。
基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围
。
[0023]请参阅图1‑4，本技术提供一种技术方案：一种半导体测试分选机，包括底座1，底座1的顶部设置有运动机构2，底座1的顶部设置有固定杆3，固定杆3的横截面形状为
L
形，底座1的顶部设置有电动推杆4，电动推杆4与固定杆3固定连接，电动推杆4的底部设置有测试板
5。
[0024]运动机构2包括齿轮
201
，齿轮
201
的数量为两个，两个齿轮
201
的背面均通过支撑杆与底座1固定连接，底座1的表面设置有孔洞6，孔洞6的内部设置有翻转板
203
，且翻转板
203
的顶部以及底部均设置有测试机
204
，底座1的一端顶部设置有皮带
202
，
[0025]靠近孔洞6的齿轮
201
正面设置有第一电机
206
，第一电机
206
的输出轴端部与齿轮
201
传动连接，底座1的表面设置有凹洞7，凹洞7的内部设置有第二电机8，第二电机8的输出轴端部设置有小齿轮
207
，第二电机8的转动速度大于第一电机<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种半导体测试分选机，包括底座
(1)
，其特征在于：所述底座
(1)
的顶部设置有运动机构
(2)
，所述底座
(1)
的顶部设置有固定杆
(3)
，所述固定杆
(3)
的横截面形状为
L
形，所述底座
(1)
的顶部设置有电动推杆
(4)
，所述电动推杆
(4)
与固定杆
(3)
固定连接，所述电动推杆
(4)
的底部设置有测试板
(5)
；所述运动机构
(2)
包括齿轮
(201)
，所述齿轮
(201)
的数量为两个，两个所述齿轮
(201)
的背面均通过支撑杆与底座
(1)
固定连接，所述底座
(1)
的表面设置有孔洞
(6)
，所述孔洞
(6)
的内部设置有翻转板
(203)
，且翻转板
(203)
的顶部以及底部均设置有测试机
(204)
，所述底座
(1)
的一端顶部设置有皮带
(202)
，且皮带
(202)
的外侧表面设置有限制块
(205)
，所述限制块
(205)
的数量为多个，且靠近孔洞
(6)
的齿轮
(201)
正面设置有第一电机
(206)
，所述第一电机
(206)
的输出轴端部与齿轮
(201)
传动连接
。2.
根据权利要求1所述的一种半导体测试分选机，其特征在于：所述底座
(1)
的表面设置有凹洞
(7)
，所述凹洞<...

【专利技术属性】
技术研发人员：何秋生，杨斌，黄峰荣，
申请(专利权)人：四川芯合微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：