一种屏幕缺陷检测方法技术

本申请适用于缺陷检测技术领域，提供了屏幕缺陷检测方法

【技术实现步骤摘要】
一种屏幕缺陷检测方法、装置、终端设备及存储介质


[0001]本申请属于缺陷检测
，尤其涉及一种屏幕缺陷检测方法
、
装置
、
终端设备及计算机可读存储介质
。

技术介绍

[0002]随着电子技术的快速发展，如映像管显示屏
(Cathode Ray Tube
，
CRT)
和液晶显示屏
(LiquidCrystalDisplay
，
LCD)
等显示屏在各类电子设备中得到了广泛应用，几乎已成为电子设备的标配
。
在大批量生产显示屏的过程中，由于生产工艺
、
生产环境等问题，不可避免地会导致部分显示屏出现如暗影
、
亮点或者杂质等缺陷
。
[0003]目前，通常需要在生产线上人工检测显示屏存在的缺陷，且人工检测时，需要长时间检测点亮的显示屏，容易造成眼睛疲劳，出现较多误检和漏检的情况，检测效率低且准确性低
。

技术实现思路

[0004]本申请实施例提供了一种屏幕缺陷检测方法
、
装置
、
终端设备及存储介质，可以解决现有技术中，检测显示屏的缺陷的准确率及效率较低的问题
。
[0005]第一方面，本申请实施例提供了一种屏幕缺陷检测方法，包括：
[0006]获取待测显示屏的图像，得到待测图像；
[0007]根据所述待测图像中的像素点的值与标准图像中对应的像素点的值，确定至少两个第一差值，其中，所述标准图像为不存在缺陷的显示屏的图像，所述第一差值根据所述待测图像和所述标准图像的多个所述像素点的值的差异确定；
[0008]在各个所述第一差值中存在大于或等于第一阈值的所述第一差值的情况下，判定所述待测显示屏存在缺陷
。
[0009]第二方面，本申请实施例提供了一种屏幕缺陷检测装置，包括：
[0010]待测图像获取模块，用于获取待测显示屏的图像，得到待测图像；
[0011]第一差值获取模块，用于根据所述待测图像中的像素点的值与标准图像中对应的像素点的值，确定至少两个第一差值，其中，所述标准图像为不存在缺陷的显示屏的图像，所述第一差值根据所述待测图像和所述标准图像的多个所述像素点的值的差异确定；
[0012]缺陷检测模块，用于在各个所述第一差值中存在大于或等于第一阈值的所述第一差值的情况下，判定所述待测显示屏存在缺陷
。
[0013]第三方面，本申请实施例提供了一种终端设备，包括存储器
、
处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述第一方面所述的屏幕缺陷检测方法的步骤
。
[0014]第四方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述第一方面中所述的屏幕缺陷检测方法的步骤
。
[0015]第五方面，本申请实施例提供了一种计算机程序产品，当计算机程序产品在终端设备上运行时，使得终端设备执行上述第一方面中任一项所述的屏幕缺陷检测方法
。
[0016]本申请实施例与现有技术相比存在的有益效果是：
[0017]本申请实施例中，根据待测图像中的像素点的值与标准图像中对应的像素点的值确定第一差值，由于标准图像为不存在缺陷的显示屏对应的图像，因此，得到的各个第一差值能够反映待测图像与标准图像之间的差异，即，反映待测显示屏与不包含缺陷的显示屏之间的差异
。
此外，由于只有差异较大时才表明待测显示屏存在缺陷，因此，存在大于或等于第一阈值的第一差值的情况下，判定待测显示屏存在缺陷，能够较为准确地实现待测显示屏的自动检测，且不需要人工来长时间面对显示屏进行检测，在减少人工成本的同时能够提高检测结果的准确性
。
并且，由于缺陷在显示屏中的占比通常较小，使得显示屏与不存在缺陷的显示屏的整体差异不明显，因此，根据待测图像中的像素点的值与标准图像中对应的像素点的值确定至少两个第一差值，第一差值根据多个像素点的差异确定，即，根据待测图像中不同区域的像素点的差异确定多个第一差值，基于多个第一差值判断待测显示屏的不同区域是否存在缺陷，能够进一步提高显示屏的缺陷检测的准确性
。
附图说明
[0018]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍
。
[0019]图1是本申请一实施例提供的一种屏幕缺陷检测方法的流程示意图；
[0020]图2是本申请实施例提供的屏幕缺陷检测装置的结构示意图；
[0021]图3是本申请实施例提供的终端设备的结构示意图
。
具体实施方式
[0022]以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构
、
技术之类的具体细节，以便透彻理解本申请实施例
。
然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本申请
。
在其它情况中，省略对众所周知的系统
、
装置
、
电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本申请的描述
。
[0023]应当理解，当在本申请说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”指示所描述特征
、
整体
、
步骤
、
操作
、
元素和
/
或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征
、
整体
、
步骤
、
操作
、
元素
、
组件和
/
或其集合的存在或添加
。
[0024]还应当理解，在本申请说明书和所附权利要求书中使用的术语“和
/
或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合
。
[0025]另外，在本申请说明书和所附权利要求书的描述中，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性
。
[0026]在本申请说明书中描述的参考“一个实施例”或“一些实施例”等意味着在本申请的一个或多个实施例中包括结合该实施例描述的特定特征
、
结构或特点
。
由此，在本说明书中的不同之处出现的语句“在一个实施例中”、“在一些实施例中”、“在其他一些实施例中”、“在另外一些实施例中”等不是必然都参考相同的实施例，而是意味着“一个或多个但不是所有的实施例”，除非是以其他方式另外特别强调
。
[0027]实施例一：
[0028]图1示出了本申请实施例提供的一种屏幕缺陷检测方法的流程示意图，详述如下：...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种屏幕缺陷检测方法，其特征在于，包括：获取待测显示屏的图像，得到待测图像；根据所述待测图像中的像素点的值与标准图像中对应的像素点的值，确定至少两个第一差值，其中，所述标准图像为不存在缺陷的显示屏的图像，所述第一差值根据所述待测图像和所述标准图像的多个所述像素点的值的差异确定；在各个所述第一差值中存在大于或等于第一阈值的所述第一差值的情况下，判定所述待测显示屏存在缺陷
。2.
如权利要求1所述的屏幕缺陷检测方法，其特征在于，在所述判定所述待测显示屏存在缺陷之后，还包括：根据第一像素点确定第一区域，所述第一像素点为大于或等于所述第一阈值的所述第一差值在所述待测图像中对应的像素点，所述第一区域为所述待测图像中包含所述第一像素点的区域；基于至少一个第二区域中的所述像素点的值验证所述第一区域中是否存在所述缺陷，所述第二区域为所述待测图像中与所述第一区域相邻的区域；在判定所述第一区域中存在所述缺陷的情况下，根据所述第一区域确定缺陷信息
。3.
如权利要求2所述的屏幕缺陷检测方法，其特征在于，所述基于至少一个第二区域中的所述像素点的值验证所述第一区域中是否存在所述缺陷，包括：确定所述第一区域中的所述像素点的值的均值，得到第一均值，以及，分别确定各个所述第二区域中的所述像素点的值的均值，得到所述第二区域对应的第二均值；分别确定各个所述第二均值和所述第一均值之间的差值，得到各个所述第二均值对应的第二差值；在各个所述第二差值均大于或等于第二阈值的情况下，判定所述第一区域中存在所述缺陷
。4.
如权利要求2所述的屏幕缺陷检测方法，其特征在于，所述在判定所述第一区域中存在所述缺陷的情况下，根据所述第一区域确定缺陷信息，包括：对第一区域图像进行高斯差分处理，得到高斯差分图像，所述第一区域图像为所述待测图像中所述第一区域对应的图像；从所述高斯差分图像中确定出第二像素点，所述第二像素点为所述高斯差分图像中高斯差分值大于或等于第三阈值的像素点；根据各个所述第二像素点在所述第一区域图像中对应的所述像素点确定所述缺陷信息
。5.
如权利要求1所述的屏幕缺陷检测方法，其特征在于，在所述根据所述待测图像中的像素点的值与标准图像中对应...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙煜，朱合军，陈志列，陈超，
申请(专利权)人：深圳市前海研祥亚太电子装备技术有限公司，
类型：发明
国别省市：