一种钛或钛合金制造技术

本发明专利技术公开了一种钛或钛合金

【技术实现步骤摘要】
一种钛或钛合金TEM样品的制备方法


[0001]本专利技术属于金属材料
TEM
样品制备
，具体涉及一种钛或钛合金
TEM
样品的制备方法
。

技术介绍

[0002]透射电子显微镜在材料科学
、
生物学上应用较多，它可用作静态观察，如金相组织
、
析出相形态
、
分布
、
结构及与基体取向关系
、
位错类型
、
分布
、
密度等；也可用作动态原位观察，如相变
、
形变
、
位错运动及其相互作用等，是测定晶体结构
、
表面形貌的一种重要方式
。
透射电镜的工作原理是利用样品对入射电子的散射能力的差异而形成衬度的，这就要求将块状材料加工成对电子束透明的薄膜状，并要求保持高的分辨率和不失真
。
电子束穿透固体样品的能力主要取决于加速电压
、
样品的厚度以及物质的原子序数
。
一般来说，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种钛或钛合金
TEM
样品的制备方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：步骤一
、
从钛或钛合金待测样品上截取
0.5cm
～
2cm
高的初级样品，并采用导电镶嵌材料进行镶嵌，然后采用无水乙醇进行清洗，获得镶嵌样品；步骤二
、
采用
SiC
砂纸逐级研磨步骤一中获得的镶嵌样品，经研磨减薄后进行抛光，得到单面减薄的镶嵌样品；步骤三
、
采用慢走丝线切割机对步骤二中得到的单面减薄的镶嵌样品沿着径向进行切割，得到厚度为
400
μ
m
～
500
μ
m、
一面为磨光面且一面为切割划痕面的薄片，然后采用无水乙醇进行清洗，得到单面减薄的切割镶嵌样品；步骤四
、
采用
100#、320#、800#、2000#
的
SiC
砂纸对步骤三中得到的单面减薄的切割镶嵌样品的切割划痕面进行逐级研磨，使得厚度逐级减小至
300
μ
m
～
350
μ
m、200
μ
m
～
250
μ
m、100
μ
m
～
150
μ
m、50
μ
m
～
70
μ
m
，然后进行抛光，得到双面减薄的镶嵌样品；步骤五
、
将步骤四中得到的双面减薄的镶嵌样品放置于装有蒸馏水的烧杯中并加热，然后将双面减薄的样品从...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘卓萌，赵永庆，辛社伟，张思远，高广睿，赵秦阳，呼丹，王建军，
申请(专利权)人：西北有色金属研究院长安大学西安赛福斯材料防护有限责任公司，
类型：发明
国别省市：