一种多项同步检测的芯片性能测试装置制造方法及图纸

技术编号:39831058 阅读:11 留言:0更新日期:2023-12-29 16:12
本发明专利技术涉及芯片测试技术领域,具体是一种多项同步检测的芯片性能测试装置,所述多项同步检测的芯片性能测试装置包括底座及固定安装在所述底座上的竖板,还包括:横移板,活动设于所述底座上,用于放置待检测的芯片,且所述横移板与安装在所述底座上的螺纹驱动机构连接,所述螺纹驱动机构与安装在所述底座上的马耳他十字机芯机构连接,所述螺纹驱动机构能够驱使所述横移板沿所述底座的长度方向活动;弹性夹持机构,在所述横移板上设有多组,且多组所述弹性夹持机构沿所述横移板的长度方向等距分布,用于对置于所述横移板上的待测芯片进行固定,整个测试过程循序渐进,自动化程度高,可有效减轻工作人员的负担,显著提升芯片检测工作的进程

【技术实现步骤摘要】
一种多项同步检测的芯片性能测试装置


[0001]本专利技术涉及芯片测试
,具体是一种多项同步检测的芯片性能测试装置


技术介绍

[0002]当前,芯片作为电子电器产品的控制大脑,扮演着重要角色,且随着近年来科技水平及人们消费水平地不断提升,市场对于芯片的需求日益增长

对于芯片生产厂家而言,为保证芯片制造质量,出厂之前一般都需要对芯片定期做测试作业

[0003]芯片的性能测试分为多种,在实际检测时,通常是单项测试,这种测试方法,将会导致测试的时长较长,其次,也会增加工作人员的负担,难以保证生产进度


技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种多项同步检测的芯片性能测试装置,以解决上述
技术介绍
中提出的问题

[0005]为实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案:
[0006]一种多项同步检测的芯片性能测试装置,包括底座及固定安装在所述底座上的竖板,还包括:
[0007]横移板,活动设于所述底座上,用于放置待检测的芯片,且所述横移板与安装在所述底座上的螺纹驱动机构连接,所述螺纹驱动机构与安装在所述底座上的马耳他十字机芯机构连接,所述螺纹驱动机构能够驱使所述横移板沿所述底座的长度方向活动;
[0008]弹性夹持机构,在所述横移板上设有多组,且多组所述弹性夹持机构沿所述横移板的长度方向等距分布,用于对置于所述横移板上的待测芯片进行固定;
[0009]连接端子,设于所述弹性夹持机构连接,且所述连接端子在所述弹性夹持机构对芯片的固定动作结束后与芯片引脚连接,所述连接端子与活动设于所述底座上的连接头配合,所述连接头与设于所述底座上的圆周驱动机构连接,所述圆周驱动机构连接所述马耳他十字机芯机构,所述圆周驱动机构能够驱使所述连接头朝向所述连接端子活动,以使芯片通电

[0010]作为本专利技术进一步的方案:所述弹性夹持机构包括转动安装在所述横移板底部的双向丝杆

对称设于所述双向丝杆上的两个螺纹套筒以及分别固定安装在两个所述螺纹套筒上的两个装配板;
[0011]所述装配板贯穿所述横移板,且所述横移板上设有用于供所述装配板活动的通槽,所述连接端子安装于所述装配板上,所述装配板上还设有弹性伸缩结构,所述弹性伸缩结构连接有用于对待测芯片进行夹持的夹持板

[0012]作为本专利技术再进一步的方案:所述弹性伸缩结构包括固定安装在所述装配板上的圆筒

与所述圆筒滑动套合的伸缩杆以及设于所述圆筒内部的柱形弹簧,所述伸缩杆的一端与所述夹持板固定,另一端连接所述柱形弹簧,且所述柱形弹簧远离所述伸缩杆的一端与所述圆筒的内壁连接

[0013]作为本专利技术再进一步的方案:所述螺纹驱动机构包括转动安装在所述底座上的单向丝杆以及固定安装在所述底座上的横杆,所述单向丝杆与所述横杆均贯穿所述横移板上,且所述横移板与所述单向丝杆螺纹连接,所述横杆与所述横移板滑动连接,所述马耳他十字机芯机构连接所述单向丝杆

[0014]作为本专利技术再进一步的方案:所述马耳他十字机芯机构包括转动安装在所述底座上的第一从动轮

第二从动轮以及主动轮,且所述底座的底部还安装有第一驱动电机,所述第一驱动电机的输出端与所述主动轮的转动轴连接,所述第一从动轮的转动轴通过第一传动带以及锥齿轮组与所述单向丝杆连接,所述第二从动轮的转动轴与所述圆周驱动机构连接

[0015]作为本专利技术再进一步的方案:所述圆周驱动机构包括安装在所述底座上的从动结构以及与所述从动结构配合的转动组件,所述转动组件与所述第二从动轮的转动轴连接;
[0016]其中,所述转动组件包括转动安装在所述底座上的圆盘以及固定于所述圆盘偏心处的柱体,所述柱体与所述从动结构配合,所述圆盘与所述第二从动轮二者的转动轴之间连接有第二传动带

[0017]作为本专利技术再进一步的方案:所述从动结构包括固定安装在所述底座上的两根导向杆以及滑动设于两根所述导向杆上的从动板,所述连接头固定于所述从动板上,且所述从动板上还开设有一个条形通槽,所述柱体贯穿所述条形通槽并与所述从动板滑动连接

[0018]作为本专利技术再进一步的方案:所述竖板的下方还活动设有吹风头,所述吹风头与安装在所述竖板上的往复驱动结构连接;
[0019]所述往复驱动结构包括固定安装在所述竖板上的两根长杆

滑动设于两根所述长杆上的往复板以及转动安装在所述竖板上的两个驱动轮,两个所述驱动轮之间设有连接件,所述连接件与两个所述驱动轮滚动配合,所述竖板上还安装有第二驱动电机,且其中一个所述驱动轮的转动轴连接所述第二驱动电机的输出端;
[0020]其中,所述吹风头安装于所述往复板的底部,所述往复板的上部还形成有两个条形凸起,两个所述条形凸起之间预留有间隙,所述连接件上设有一个伸入所述间隙内并与两个所述条形凸起滑动连接的驱动柱

[0021]与现有技术相比,本专利技术的有益效果是:本专利技术设计新颖,在实际的测试时,将待测试的芯片置于横移板2上,随后,控制弹性夹持机构对芯片进行夹持固定,当夹持动作执行完毕后,连接端子
10
便会与芯片的引脚连接;随后,马耳他十字机芯机构开始工作,首先带动螺纹驱动机构运动,使得螺纹驱动机构驱使横移板2沿底座1的长度方向移动一段距离,紧接着,马耳他十字机芯机构带动圆周驱动机构运动,使得圆周驱动机构驱使连接头
15
朝向连接端子
10
移动,并同连接端子
10
连接,以使芯片接入电路,由电路中设置的辅助工具来进行各项指标的检测;循环往复,通过各个机构及部件之间的相互配合,由螺纹驱动机构驱使横移板2带动多个待测芯片移动,依次与连接头
15
对接,并由圆周驱动机构来驱使连接头
15
执行与连接端子
10
的对接动作,整个测试过程循序渐进,自动化程度高,可有效减轻工作人员的负担,显著提升芯片检测工作的进程

附图说明
[0022]图1为多项同步检测的芯片性能测试装置一种实施例的结构示意图

[0023]图2为多项同步检测的芯片性能测试装置一种实施例另一角度的结构示意图

[0024]图3为多项同步检测的芯片性能测试装置一种实施例又一角度的结构示意图

[0025]图4为多项同步检测的芯片性能测试装置一种实施例再一角度的结构示意图

[0026]图5为图2中
A
处的结构放大图

[0027]图6为图2中
B
处的结构放大图

[0028]图7为多项同步检测的芯片性能测试装置一种实施例中往复驱动结构的结构示意图

[0029]图8为多项同步检测的芯片性能测试装置一种本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种多项同步检测的芯片性能测试装置,包括底座
(1)
及固定安装在所述底座
(1)
上的竖板
(26)
,其特征在于,还包括:横移板
(2)
,活动设于所述底座
(1)
上,用于放置待检测的芯片,且所述横移板
(2)
与安装在所述底座
(1)
上的螺纹驱动机构连接,所述螺纹驱动机构与安装在所述底座
(1)
上的马耳他十字机芯机构连接,所述螺纹驱动机构能够驱使所述横移板
(2)
沿所述底座
(1)
的长度方向活动;弹性夹持机构,在所述横移板
(2)
上设有多组,且多组所述弹性夹持机构沿所述横移板
(2)
的长度方向等距分布,用于对置于所述横移板
(2)
上的待测芯片进行固定;连接端子
(10)
,设于所述弹性夹持机构连接,且所述连接端子
(10)
在所述弹性夹持机构对芯片的固定动作结束后与芯片引脚连接,所述连接端子
(10)
与活动设于所述底座
(1)
上的连接头
(15)
配合,所述连接头
(15)
与设于所述底座
(1)
上的圆周驱动机构连接,所述圆周驱动机构连接所述马耳他十字机芯机构,所述圆周驱动机构能够驱使所述连接头
(15)
朝向所述连接端子
(10)
活动,以使芯片通电
。2.
根据权利要求1所述的一种多项同步检测的芯片性能测试装置,其特征在于,所述弹性夹持机构包括转动安装在所述横移板
(2)
底部的双向丝杆
(3)、
对称设于所述双向丝杆
(3)
上的两个螺纹套筒
(4)
以及分别固定安装在两个所述螺纹套筒
(4)
上的两个装配板
(5)
;所述装配板
(5)
贯穿所述横移板
(2)
,且所述横移板
(2)
上设有用于供所述装配板
(5)
活动的通槽,所述连接端子
(10)
安装于所述装配板
(5)
上,所述装配板
(5)
上还设有弹性伸缩结构,所述弹性伸缩结构连接有用于对待测芯片进行夹持的夹持板
(8)。3.
根据权利要求2所述的一种多项同步检测的芯片性能测试装置,其特征在于,所述弹性伸缩结构包括固定安装在所述装配板
(5)
上的圆筒
(6)、
与所述圆筒
(6)
滑动套合的伸缩杆
(7)
以及设于所述圆筒
(6)
内部的柱形弹簧
(9)
,所述伸缩杆
(7)
的一端与所述夹持板
(8)
固定,另一端连接所述柱形弹簧
(9)
,且所述柱形弹簧
(9)
远离所述伸缩杆
(7)
的一端与所述圆筒
(6)
的内壁连接
。4.
根据权利要求1所述的一种多项同步检测的芯片性能测试装置,其特征在于,所述螺纹驱动机构包括转动安装在所述底座
(1)
上的单向丝杆
(11)
以及固定安装在所述底座
(1)
上的横杆
(12)
,所述单向丝杆
(11)
与所述横杆
(12)
均贯穿所述横移板
(2)
上,且所述横移板
(2)
与所述单向丝杆
(11)
螺纹连接,所述横杆
(12)
与所述横移板
(2)
滑动连接,所述马耳他十字机芯机构连接所...

【专利技术属性】
技术研发人员:卿前治夏志光谢忠仁乐思弟周平
申请(专利权)人:湖南格微科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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