【技术实现步骤摘要】
一种多项同步检测的芯片性能测试装置
[0001]本专利技术涉及芯片测试
,具体是一种多项同步检测的芯片性能测试装置
。
技术介绍
[0002]当前,芯片作为电子电器产品的控制大脑,扮演着重要角色,且随着近年来科技水平及人们消费水平地不断提升,市场对于芯片的需求日益增长
。
对于芯片生产厂家而言,为保证芯片制造质量,出厂之前一般都需要对芯片定期做测试作业
。
[0003]芯片的性能测试分为多种,在实际检测时,通常是单项测试,这种测试方法,将会导致测试的时长较长,其次,也会增加工作人员的负担,难以保证生产进度
。
技术实现思路
[0004]本专利技术的目的在于提供一种多项同步检测的芯片性能测试装置,以解决上述
技术介绍
中提出的问题
。
[0005]为实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案:
[0006]一种多项同步检测的芯片性能测试装置,包括底座及固定安装在所述底座上的竖板,还包括:
[0007]横移板,活动设于所述底座上,用于放置待检测的芯片,且所述横移板与安装在所述底座上的螺纹驱动机构连接,所述螺纹驱动机构与安装在所述底座上的马耳他十字机芯机构连接,所述螺纹驱动机构能够驱使所述横移板沿所述底座的长度方向活动;
[0008]弹性夹持机构,在所述横移板上设有多组,且多组所述弹性夹持机构沿所述横移板的长度方向等距分布,用于对置于所述横移板上的待测芯片进行固定;
[0009]连接端子,设于所述弹性夹持机构连接 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种多项同步检测的芯片性能测试装置,包括底座
(1)
及固定安装在所述底座
(1)
上的竖板
(26)
,其特征在于,还包括:横移板
(2)
,活动设于所述底座
(1)
上,用于放置待检测的芯片,且所述横移板
(2)
与安装在所述底座
(1)
上的螺纹驱动机构连接,所述螺纹驱动机构与安装在所述底座
(1)
上的马耳他十字机芯机构连接,所述螺纹驱动机构能够驱使所述横移板
(2)
沿所述底座
(1)
的长度方向活动;弹性夹持机构,在所述横移板
(2)
上设有多组,且多组所述弹性夹持机构沿所述横移板
(2)
的长度方向等距分布,用于对置于所述横移板
(2)
上的待测芯片进行固定;连接端子
(10)
,设于所述弹性夹持机构连接,且所述连接端子
(10)
在所述弹性夹持机构对芯片的固定动作结束后与芯片引脚连接,所述连接端子
(10)
与活动设于所述底座
(1)
上的连接头
(15)
配合,所述连接头
(15)
与设于所述底座
(1)
上的圆周驱动机构连接,所述圆周驱动机构连接所述马耳他十字机芯机构,所述圆周驱动机构能够驱使所述连接头
(15)
朝向所述连接端子
(10)
活动,以使芯片通电
。2.
根据权利要求1所述的一种多项同步检测的芯片性能测试装置,其特征在于,所述弹性夹持机构包括转动安装在所述横移板
(2)
底部的双向丝杆
(3)、
对称设于所述双向丝杆
(3)
上的两个螺纹套筒
(4)
以及分别固定安装在两个所述螺纹套筒
(4)
上的两个装配板
(5)
;所述装配板
(5)
贯穿所述横移板
(2)
,且所述横移板
(2)
上设有用于供所述装配板
(5)
活动的通槽,所述连接端子
(10)
安装于所述装配板
(5)
上,所述装配板
(5)
上还设有弹性伸缩结构,所述弹性伸缩结构连接有用于对待测芯片进行夹持的夹持板
(8)。3.
根据权利要求2所述的一种多项同步检测的芯片性能测试装置,其特征在于,所述弹性伸缩结构包括固定安装在所述装配板
(5)
上的圆筒
(6)、
与所述圆筒
(6)
滑动套合的伸缩杆
(7)
以及设于所述圆筒
(6)
内部的柱形弹簧
(9)
,所述伸缩杆
(7)
的一端与所述夹持板
(8)
固定,另一端连接所述柱形弹簧
(9)
,且所述柱形弹簧
(9)
远离所述伸缩杆
(7)
的一端与所述圆筒
(6)
的内壁连接
。4.
根据权利要求1所述的一种多项同步检测的芯片性能测试装置,其特征在于,所述螺纹驱动机构包括转动安装在所述底座
(1)
上的单向丝杆
(11)
以及固定安装在所述底座
(1)
上的横杆
(12)
,所述单向丝杆
(11)
与所述横杆
(12)
均贯穿所述横移板
(2)
上,且所述横移板
(2)
与所述单向丝杆
(11)
螺纹连接,所述横杆
(12)
与所述横移板
(2)
滑动连接,所述马耳他十字机芯机构连接所...
【专利技术属性】
技术研发人员:卿前治,夏志光,谢忠仁,乐思弟,周平,
申请(专利权)人:湖南格微科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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