【技术实现步骤摘要】
一种鉴频鉴相器及延迟锁相环
[0001]本专利技术属于半导体集成电路
,具体涉及一种鉴频鉴相器及延迟锁相环
。
技术介绍
[0002]随着集成电路的快速发展,延迟锁相环
(Delay
‑
locked loop
,
DLL)
已经成为比较常用的一种片内时钟产生技术,它利用负反馈机制以较小的功耗和面积得到较低抖动的时钟
。
而鉴频鉴相器
(Phase Frequency Detector
,
PFD)
是
DLL
的重要组成部分,它负责对两个输入信号的上升沿进行识别,产生两个具有一定脉冲宽度的输出控制信号
UP
和
DN
,并且上升沿的差值与输出脉冲宽度成正比
。
在鉴频鉴相器设计过程中要重点关注鉴相范围和鉴相精度两个设计指标,首先要保证鉴相无死区,在满足这个条件的前提下尽可能的提高鉴相范围
。
为了满足设计要求,需要选择合适的电路设计结构
。
为了避免出现错误锁定的情况,往往会加入启动电路用作辅助
。
[0003]传统的带有启动控制电路的
PFD
结构如图1所示,其中,启动控制电路由两个
D
触发器
、2
个与非门和2个反相器构成,具有面积和功耗较大的缺陷
。PD
电路包括两个静态
D
触发器
、
一个或 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种鉴频鉴相器,其特征在于,包括:启动控制电路,用于基于外部使能信号的控制调整输入参考信号
Q0
和待锁定信号
Qn
的状态,并输出信号
CLK_ref
和
CLK_fb
;鉴频鉴相器电路,包括两个基于
TSPC
的
D
锁存器
D1
和
D2、
两条交叉耦合的复位支路
R1
和
R2
以及两个保证双端输出结果一致性的
Latch
锁存结构
L1
和
L2
;其中,所述锁存器
D1
和所述复位支路
R1
均接入信号
CLK_ref
,所述
Latch
锁存结构
L1
连接所述锁存器
D1
的输出端,所述复位支路
R1
的输入端还连接所述锁存器
D2
的输出端;所述锁存器
D1、
所述复位支路
R1
以及所述
Latch
锁存结构
L1
用于对输入的信号
CLK_ref
进行相位检测,并输出带有相位信息的窄脉宽差分信号
UP
和
UPb
;所述锁存器
D2
和所述复位支路
R2
均接入信号
CLK_fb
,所述
Latch
锁存结构
L2
连接所述锁存器
D2
的输出端,所述复位支路
R2
的输入端还连接所述锁存器
D1
的输出端;所述锁存器
D2、
所述复位支路
R2
以及所述
Latch
锁存结构
L2
用于对输入的信号
CLK_fb
进行相位检测,并输出带有相位信息的窄脉宽差分信号
DN
和
DNb。2.
根据权利要求1所述的鉴频鉴相器,其特征在于,所述启动控制电路包括
D
触发器
DFF1、
第一缓冲器
BUF1、
电容
C、
第一与非门
NAND1、
第二与非门
NAND2、
第一反相器
INV1
以及第二反相器
INV2
;其中,所述
D
触发器
DFF1
的输入端接高电平
VDD
,所述
D
触发器
DFF1
的
CLK
端与所述第一与非门
NAND1
的输出端相接,所述
D
触发器
DFF1
的复位端
Reset
接入外部使能信号
START
;第一与非门
NAND1
的一个输入端连接所述
D
触发器
DFF1
的输出端,另一个输入端接入参考信号
Q0
;所述第一反相器
INV1
的输入端连接所述第一与非门
NAND1
的输出端;所述电容
C
的一端连接所述第一反相器
INV1
的输入端,另一端接地;所述第一反相器
INV1
的输出端作为启动控制电路的第一输出端,输出信号
CLK_ref
;所述第一缓存器
BUF1
的输入端接入外部使能信号
START
;所述第二与非门
NAND2
的一个输入端连接所述第一缓存器
BUF1
的输出端,另一个输入端接入待锁定信号
Qn
;所述第二反相器
INV2
的输入端连接所述第二与非门
NAND2
的输出端;所述第二反相器
INV2
的输出端作为启动控制电路的第二输出端,输出信号
CLK_fb
;所述
D
触发器
DFF1、
所述第一与非门
NAND1、
所述电容
C
以及所述第一反相器
INV1
构成第一通路
Path1
,所述第一缓存器
BUF1、
所述第二与非门
NAND2
以及所述第二反相器
INV2
构成第二通路
Path2。3.
根据权利要求1所述的鉴频鉴相器,其特征在于,所述锁存器
D1
和锁存器
D2
均包括多级级联的反相器,且所述反相器为带有预充电管的
CMOS
反相器;其中,所述锁存器
D1
的第一级反相器的第一输入端连接所述启动控制电路的第一输出端,以接入信号
CLK_ref
;所述锁存器
D1
的第一级反相器的第二输入端连接所述复位支路
R1
的输出端;所述锁存器
D1
的中间级反相器的输入端连接前一级反相器的输出端;所述锁存器
D1
的最后一级反相器的输出端连接所述
Latch
锁存结构
L1
的输入端;所述锁存器
D2
的第一级反相器的第一输入端连接所述启动控制电路的第二输出端,以接入信号
CLK_fb
;所述锁存器
D2
的第一级反相器的第二输入端连接所述复位支路
R2
的输出
端;所述锁存器
D2
的中间级反相器的输入端连接前一级反相器的输出端;所述锁存器
D2
的最后一级反相器的输出端连接所述
Latch
锁存结构
L2
的输入端
。4.
根据权利要求3所述的鉴频鉴相器,其特征在于,所述锁存器
D1
包括两级级联的反相器,其中,第一级反相器包括第一
PMOS
晶体管
PM1、
第三
PMOS
晶体管
PM3
以及第二
NMOS
晶体管
NM2
;第二级反相器包括第二
PMOS
晶体管
PM2、
第一
NMOS
晶体管
NM1
以及第三
NMOS
晶体管
NM3
;所述第三
PMOS
晶体管
PM3
的栅极作为第一级反相器的第一输入端连接所述启动控制电路的第一输出端;所述第一
PMOS
晶体管
PM1
的栅极和所述第二
NMOS
晶体管
NM2
的栅极作为第一级反相器的第二输入端连接所述复位支路
R1
的输出端;所述第一
PMOS
晶体管
PM1
的源极和所述第二
PMOS
晶体管
PM2
的源极均接电源;所述第一
PMOS
晶体管
PM1
的漏极和所述第三
PMOS
晶体管
PM3
的源极相连;所述第三
PMOS
晶体管
PM3
的漏极和所述第二
NMOS
晶体管
NM2
的漏极相连,并作为第一级反相器的输出端连接所述第二
PMOS
晶体管
PM2
的栅极和所述第三
NMOS
晶体管
NM3
的栅极;所述第二
NMOS
晶体管
NM2
的源极和所述第三
NMOS
晶体管
NM3
的源极接地;所述第一
NMOS
晶体管
NM1
的栅极连接所述启动控制电路的第一输出端;所述第一
NMOS
晶体管
NM1
的源极和所述第三
NMOS
晶体管
NM3
的漏极相连;所述第二
PMOS
晶体管
PM2
的漏极和所述第一
NMOS
晶体管
NM1
的漏极相连,并作为第二级反相器以及锁存器
D1
的输出端;其中,所述第三
PMOS
晶体管
PM3
和所述第一
NMOS
晶体管
NM1
为预充电管;且所有
PMOS
晶体管的衬底接电源
VDD
,所有
NMOS
晶体管的衬底接地
。5.
根据权利要求3所述的鉴频鉴相器,其特征在于,所述锁存器
D2
包括:所述锁存器
D2
包括两...
【专利技术属性】
技术研发人员:张涛,张钧奇,刘帘曦,朱樟明,
申请(专利权)人:西安电子科技大学重庆集成电路创新研究院,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。