【技术实现步骤摘要】
一种外接内存条检测装置
[0001]本专利技术涉及半导体产品领域,尤其是涉及内存条检测领域,具体为一种外接内存条检测装置。
技术介绍
[0002]在现有的检测装置中检测内存条的DIMM插槽多为直连的,日常检测使用时需要不断地插拔内存条对DIMM插槽产生磨损导致产品主板的理论寿命和实际寿命相差极大,并且DIMM插槽出现读取功能异常短路会导致当前测试的产品报废的同时检修时间非常长影响生产效率,使用此类设备前还需准备几块备用的主板,备用主板每日均需要通电保养防止主板上的元器件发生氧化导致备用主板不能正常运行,增加人工对其保养的成本。
技术实现思路
[0003]鉴于以上所述现有技术的缺点,本专利技术的目的在于提供一种外接内存条检测装置,用于解决现有技术的难点。
[0004]为实现上述目的及其他相关目的,本专利技术提供一种外接内存条检测装置,包括:
[0005]散热盒1,所述散热盒1由四周侧壁组成中空的腔体101;
[0006]主板2,所述主板2设置在散热盒1顶部开口处底部由设置在散热盒1的腔体 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种外接内存条检测装置,其特征在于,包括:散热盒(1),所述散热盒(1)由四周侧壁组成中空的腔体(101);主板(2),所述主板(2)设置在散热盒(1)顶部开口处底部由设置在散热盒(1)的腔体(101)内的三角形的固定块(102)支撑;显示器(3),所述显示器(3)通过支架(7)设置在散热盒(1)一侧的上方,所述支架(7)底部与主板(2)相连;连接装置(4),所述连接装置(4)设置在主板(2)远离显示器(3)的方向上;读取装置(5),所述读取装置(5)通过连接装置(4)中DIMM插槽(401)两端的卡扣(402)卡设在连接装置(4)上;散热装置(6),所述散热装置(6)设置在散热盒(1)内的两端内侧壁上。2.根据权利要求1所述的外接内存条检测装置,其特征在于,所述连接装置(4)包括:DIMM插槽(401),所述DIMM插槽(401)底部与主板(2)相连,所述DIMM插槽(401)的开口位于DIMM插槽(401)上方,开口状为槽形,内部设置有pin针对于数据的高速传输与读取;卡扣(402),所述卡扣(402)内包括固定杆(403)、旋转块(404)和转轴(405),所述固定杆(403)设置在DIMM插槽(401)两端,所述固定杆(403)正中卡设有旋转块(404),所述旋转块(404)左右两侧设置有转轴(405)穿...
【专利技术属性】
技术研发人员:蔡燕,刘欣,
申请(专利权)人:海太半导体无锡有限公司,
类型:发明
国别省市:
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