一种泳池砖层缺陷检测方法及系统技术方案

本发明专利技术提供了一种泳池砖层缺陷检测方法及系统，涉及数据处理技术领域，包括：提取获得最小水位信息和最大水位信息，进行砖层缺陷一次预测获得一次缺陷分析结果，包括缺陷等级，大于0时匹配获取缺陷检出规模，进行检出区域的划分和光学检测，获得多个光反射率信息，进行砖层二次缺陷分析获得多个缺陷区域，分析获取图像检出规模，进行检出局域的划分和图像采集，获得多个局域图像，进行砖层三次缺陷分析，获得多个缺陷信息，作为所述目标泳池的砖层缺陷检测结果

【技术实现步骤摘要】
一种泳池砖层缺陷检测方法及系统


[0001]本专利技术涉及数据处理
，具体涉及一种泳池砖层缺陷检测方法及系统
。

技术介绍

[0002]在游泳池的使用过程中，由于各种原因，如长期使用
、
环境变化等，泳池砖层可能会出现裂缝
、
脱落
、
损坏等缺陷问题，及时发现和修复这些缺陷对于确保泳池的安全性
、
防止水渗漏以及延长泳池使用寿命至关重要
。
[0003]然而，在传统的泳池砖层缺陷检测方法中存在一些问题，第一，传统方法通常需要专业技术人员进行人工检测，需要耗费大量时间和人力资源，效率低下且成本较高；第二，传统方法对于缺陷等级的判断往往依赖于检测人员的主观意见，容易导致误判或遗漏；第三，一些微小的缺陷可能在肉眼观察时难以被察觉，传统方法很难有效地检测到这些细微的问题
。
[0004]因此，为了解决上述问题并提高泳池砖层缺陷检测的效率和准确性，需要一种新的缺陷检测方法，实现提高检测的效率和准确性，并且还能发现微小的缺陷，确保泳池的安全性和正常使用
。

技术实现思路

[0005]本申请通过提供了一种泳池砖层缺陷检测方法及系统，旨在解决传统方法通常只能检测到明显的缺陷，难以发现隐蔽或微小的缺陷，并且对于泳池砖层的缺陷等级判断较为主观，导致检测结果准确性低
、
全面性差的技术问题
。
[0006]鉴于上述问题，本申请提供了一种泳池砖层缺陷检测方法及系统
。
[0007]本申请公开的第一个方面，提供了一种泳池砖层缺陷检测方法，所述方法应用于一泳池砖层缺陷检测装置，所述装置包括水位测试模块
、
光检测模块
、
图像检测模块和缺陷分析模块，所述方法包括：通过水位测试模块，检测目标泳池在多个预设时间窗口内的平均水位信息，并提取获得最小水位信息和最大水位信息；基于所述最小水位信息和所述最大水位信息，进行砖层缺陷一次预测，获得一次缺陷分析结果，所述一次缺陷分析结果包括缺陷等级；在所述一次缺陷分析结果内的缺陷等级大于0时，匹配获取缺陷检出规模，通过所述光检测模块，按照所述缺陷检出规模，对所述目标泳池内进行检出区域的划分和光学检测，获得多个光反射率信息；根据所述多个光反射率信息，进行砖层二次缺陷分析，获得多个缺陷区域，根据多个缺陷区域的缺陷区域数量和所述缺陷等级，分析获取图像检出规模；通过图像检测模块，按照所述图像检出规模，在所述多个缺陷区域内，进行检出局域的划分和图像采集，获得多个局域图像；通过所述缺陷分析模块，对所述多个局域图像进行砖层三次缺陷分析，获得多个缺陷信息，作为所述目标泳池的砖层缺陷检测结果
。
[0008]本申请公开的另一个方面，提供了一种泳池砖层缺陷检测系统，所述系统应用于一泳池砖层缺陷检测装置，所述装置包括水位测试模块
、
光检测模块
、
图像检测模块和缺陷分析模块，所述系统用于上述方法，所述系统包括：水位信息获取单元，所述水位信息获取
单元用于通过水位测试模块，检测目标泳池在多个预设时间窗口内的平均水位信息，并提取获得最小水位信息和最大水位信息；缺陷一次预测单元，所述缺陷一次预测单元用于基于所述最小水位信息和所述最大水位信息，进行砖层缺陷一次预测，获得一次缺陷分析结果，所述一次缺陷分析结果包括缺陷等级；区域光学检测单元，所述区域光学检测单元用于在所述一次缺陷分析结果内的缺陷等级大于0时，匹配获取缺陷检出规模，通过所述光检测模块，按照所述缺陷检出规模，对所述目标泳池内进行检出区域的划分和光学检测，获得多个光反射率信息；二次缺陷分析单元，所述二次缺陷分析单元用于根据所述多个光反射率信息，进行砖层二次缺陷分析，获得多个缺陷区域，根据多个缺陷区域的缺陷区域数量和所述缺陷等级，分析获取图像检出规模；区域图像采集单元，所述区域图像采集单元用于通过图像检测模块，按照所述图像检出规模，在所述多个缺陷区域内，进行检出局域的划分和图像采集，获得多个局域图像；三次缺陷分析单元，所述三次缺陷分析单元用于通过所述缺陷分析模块，对所述多个局域图像进行砖层三次缺陷分析，获得多个缺陷信息，作为所述目标泳池的砖层缺陷检测结果
。
[0009]本申请中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：通过综合利用水位测试模块
、
光检测模块
、
图像检测模块和缺陷分析模块，提供了一种综合性的泳池砖层缺陷检测装置，能够在较短的时间内完成对泳池砖层缺陷的检测，提高了工作效率；通过水位测试模块获取最小和最大水位信息，并结合光学检测和图像处理技术进行多次缺陷分析和综合考量，能够准确地判断缺陷等级，并获取缺陷信息，从而提高了缺陷分析的准确性；通过多次缺陷分析，包括光反射率信息和局域图像的采集与分析，能够全面地检测并获取泳池砖层的各类缺陷信息，包括明显和微小的缺陷，提高了检测的全面性和准确性
。
综上所述，该泳池砖层缺陷检测方法通过引入自动化设备和图像处理技术，解决了传统方法中存在的检测效率低下
、
缺陷分析不准确和缺乏全面性等技术问题，并达到了高效快速
、
准确可靠和全面细致的技术效果
。
[0010]上述说明仅是本申请技术方案的概述，为了能够更清楚了解本申请的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本申请的上述和其它目的
、
特征和优点能够更明显易懂，以下特举本申请的具体实施方式
。
附图说明
[0011]图1为本申请实施例提供了一种泳池砖层缺陷检测方法流程示意图；图2为本申请实施例提供了一种泳池砖层缺陷检测系统结构示意图
。
[0012]附图标记说明：水位信息获取单元
10
，缺陷一次预测单元
20
，区域光学检测单元
30
，二次缺陷分析单元
40
，区域图像采集单元
50
，三次缺陷分析单元
60。
具体实施方式
[0013]本申请实施例通过提供一种泳池砖层缺陷检测方法，解决了传统方法通常只能检测到明显的缺陷，难以发现隐蔽或微小的缺陷，并且对于泳池砖层的缺陷等级判断较为主观，导致检测结果准确性低
、
全面性差的技术问题
。
[0014]在介绍了本申请基本原理后，下面将结合说明书附图来具体介绍本申请的各种非限制性的实施方式
。
[0015]实施例一如图1所示，本申请实施例提供了一种泳池砖层缺陷检测方法，所述方法应用于一泳池砖层缺陷检测装置，所述装置包括水位测试模块
、
光检测模块
、
图像检测模块和缺陷分析模块，所述方法包括：通过水位测试模块，检测目标泳池在多个预设时间窗口内的平均水位信息，并提取获得最小水位信息和最大水位信息；本申请实施例提供的一种泳池砖层缺陷检测方法应本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种泳池砖层缺陷检测方法，其特征在于，所述方法应用于一泳池砖层缺陷检测装置，所述装置包括水位测试模块
、
光检测模块
、
图像检测模块和缺陷分析模块，所述方法包括：通过水位测试模块，检测目标泳池在多个预设时间窗口内的平均水位信息，并提取获得最小水位信息和最大水位信息；基于所述最小水位信息和所述最大水位信息，进行砖层缺陷一次预测，获得一次缺陷分析结果，所述一次缺陷分析结果包括缺陷等级；在所述一次缺陷分析结果内的缺陷等级大于0时，匹配获取缺陷检出规模，通过所述光检测模块，按照所述缺陷检出规模，对所述目标泳池内进行检出区域的划分和光学检测，获得多个光反射率信息；根据所述多个光反射率信息，进行砖层二次缺陷分析，获得多个缺陷区域，根据多个缺陷区域的缺陷区域数量和所述缺陷等级，分析获取图像检出规模；通过图像检测模块，按照所述图像检出规模，在所述多个缺陷区域内，进行检出局域的划分和图像采集，获得多个局域图像；通过所述缺陷分析模块，对所述多个局域图像进行砖层三次缺陷分析，获得多个缺陷信息，作为所述目标泳池的砖层缺陷检测结果
。2.
根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法包括：基于所述目标泳池历史时间内的水位监测信息，获取样本最小水位信息记录
、
样本最大水位信息记录；并根据所述目标泳池历史时间内的砖层维护记录，获取样本一次缺陷分析结果记录，样本一次缺陷分析结果根据目标泳池内砖层缺陷数量和大小确定；采用所述样本最小水位信息记录
、
样本最大水位信息记录作为输入，采用样本一次缺陷分析结果记录作为输出，构建缺陷一次分类器，并进行训练更新；采用更新完成的缺陷一次分类器，对所述最小水位信息和最大水位信息进行分类识别，获得所述一次缺陷分析结果
。3.
根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法包括：判断所述一次缺陷分析结果内的缺陷等级是否大于0；若否，则结束砖层缺陷检测，若是，则根据所述缺陷等级在缺陷检出规模匹配器内进行映射匹配，获得所述缺陷检出规模，其中，所述缺陷检出规模匹配器内包括多个样本缺陷等级和多个样本缺陷检出规模的映射关系，每个缺陷检测规模包括进行光检测的区域大小，缺陷检测规模的大小与缺陷等级的大小反相关
。4.
根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法包括：获取多个样本光反射率信息记录和多个样本二次缺陷检出结果记录，其中，所述多个样本光反射率信息记录分别包括目标泳池内底面和不同侧面的样本光反射率信息，样本二次缺陷检出结果包括是否包含砖层缺陷；分别采用所述多个样本光反射率信息记录和多个样本二次缺陷检出结果记录作为输入和输出，基于机器学习，构建光学缺陷检出器并训练更新，所述光学缺陷检出器内包括多个光学缺陷分类分支；采用更新完成的光学缺陷检出器，对所述多个光反射率信息进行识别分类，获得多个
二次缺陷检出结果；提取二次缺陷检出结果为是的区域，获得所述多个缺陷区域
。5...

【专利技术属性】
技术研发人员：程林，罗梅东，王家兴，罗中政，
申请(专利权)人：深圳市洪发建筑工程有限公司，
类型：发明
国别省市：