一种印花面料疵点检验方法技术

本发明专利技术提供一种印花面料疵点检验方法

【技术实现步骤摘要】
一种印花面料疵点检验方法、装置及计算设备


[0001]本专利技术涉及印花面料疵点检验
，特别是指一种印花面料疵点检验方法
、
装置及计算设备
。

技术介绍

[0002]织物印花质量的好坏直接影响织物的外观效果和质量水平
。
目前
,
印花织物表面疵点的检测主要依赖于人工观察
。
但手工检查存在效率低下
、
精度难以控制等问题
。
为实现自动高效检测印花织物表面的缺陷
,
一种基于计算机视觉与图像处理技术的自动检测方法成为当前的研究热点
。
[0003]图像处理技术在织物表面疵点检测中已有应用
。
当前有的疵点检测算法依据经验设定的规则进行疵点识别，虽能实现自动化检测，但在面对噪声干扰时
,
其稳定性较差
。

技术实现思路

[0004]本专利技术要解决的技术问题是提供一种印花面料疵点检验方法
、
装置及计算设备，提高了检测的精确度和可靠性
。
[0005]为解决上述技术问题，本专利技术的技术方案如下：
[0006]第一方面，一种印花面料疵点检验方法，所述方法包括：
[0007]获取面料图像，并对所述面料图像进行预处理和分割，以获得分割面基点；
[0008]根据所述分割面基点，确定位于织物表面上的分割面点集，根据所述分割面点集，剔除所述分割面点集中的错误点，以得到粒子群分割面；
[0009]根据所述粒子群分割面，提取单个粒子中心点，根据所述单个粒子中心点，对单个粒子中心点的邻域点云进行特征度量，以获得单个粒子边缘信息；
[0010]根据所述单个粒子边缘信息，对面料单个粒子体积进行计算，以获得单个粒子的体积；
[0011]根据所述单个粒子的体积，以获得粒子在面料上的覆盖率，根据所述覆盖率，计算粒子在面料上的均匀度；
[0012]根据粒子在面料上的均匀度，以得到面料的异常点，根据所述异常点确定面料的瑕疵点
。
[0013]进一步的，获取面料图像，并对所述面料图像进行预处理和分割，以获得分割面基点，包括：
[0014]获取面料图像；
[0015]对所述面料图像使用直方图均衡化处理，以及使用中值滤波器进行噪声去除，以得到预处理图像；
[0016]对所述预处理图像进行分割，以获得分割面基点
。
[0017]进一步的，根据所述分割面基点，确定位于织物表面上的分割面点集，根据所述分割面点集，剔除所述分割面点集中的错误点，以得到粒子群分割面，包括：
[0018]根据已经获取的分割面基点，通过图像分割方法确定位于织物表面上的分割面点集；
[0019]根据所述分割面点集，进行错误点进行清洗，以获取清洗后数据点；
[0020]根据所述清洗后数据点，计算每两个数据点之间的距离；
[0021]根据每两个数据点之间的距离构建相似性矩阵；
[0022]根据所述相似性矩阵进行谱聚类，以获得聚类结果；
[0023]根据所述聚类结果将原始数据点分配到不同的聚类中以得到粒子群分割面
。
[0024]进一步的，根据所述粒子群分割面，提取单个粒子中心点，包括：
[0025]在粒子群分割面上识别出单个的粒子；
[0026]根据每一个识别出的粒子，分别计算每个粒子像素的
x
坐标和
y
坐标的平均值；
[0027]根据每个粒子像素的
x
坐标和
y
坐标的平均值，确定每个粒子的几何中心；
[0028]根据每个粒子的几何中心，确定单个粒子中心点
。
[0029]进一步的，根据所述单个粒子中心点，对单个粒子中心点的邻域点云进行特征度量，以获得单个粒子边缘信息，包括：
[0030]根据单个粒子中心点确定每个粒子中心点的邻域点云；
[0031]根据每个粒子中心点的邻域点云，计算邻域点云的特征；
[0032]根据邻域点云的特征，提取单个粒子边缘信息
。
[0033]进一步的，根据所述单个粒子边缘信息，对面料单个粒子体积进行计算，以获得单个粒子的体积，包括：
[0034]根据单个粒子边缘信息，获取粒子的形状信息；
[0035]根据粒子的形状信息，计算粒子的体积
。
[0036]进一步的，根据所述单个粒子的体积，以获得粒子在面料上的覆盖率，根据所述覆盖率，计算粒子在面料上的均匀度，包括：
[0037]根据所有粒子的体积总和以及面料总的体积，计算总覆盖率；
[0038]将面料划分为多个分割区域，分别计算每个分割区域内的粒子覆盖率；
[0039]根据所述总覆盖率以及粒子覆盖率，确定粒子在面料上的均匀度
。
[0040]第二方面，一种印花面料疵点检验装置，包括：
[0041]获取模块，用于获取面料图像，并对所述面料图像进行预处理和分割，以获得分割面基点；根据所述分割面基点，确定位于织物表面上的分割面点集，根据所述分割面点集，剔除所述分割面点集中的错误点，以得到粒子群分割面；根据所述粒子群分割面，提取单个粒子中心点，根据所述单个粒子中心点，对单个粒子中心点的邻域点云进行特征度量，以获得单个粒子边缘信息；
[0042]处理模块，用于根据所述单个粒子边缘信息，对面料单个粒子体积进行计算，以获得单个粒子的体积；根据所述单个粒子的体积，以获得粒子在面料上的覆盖率，根据所述覆盖率，计算粒子在面料上的均匀度；根据粒子在面料上的均匀度，以得到面料的异常点，根据所述异常点确定面料的瑕疵点
。
[0043]第三方面，一种计算设备，包括：
[0044]一个或多个处理器；
[0045]存储装置，用于存储一个或多个程序，当所述一个或多个程序被所述一个或多个
处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现上述方法
。
[0046]第四方面，一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有程序，该程序被处理器执行时实现上述方法
。
[0047]本专利技术的上述方案至少包括以下有益效果：
[0048]本专利技术的上述方案，通过图像处理和计算机视觉技术检测疵点，提高了检测的精确度和可靠性，能够检测出印花面料上不同类型的疵点，包括印花粒子缺失
、
印花不均匀等瑕疵，扩大了检测范围，通过分析单个印花粒子的特征，实现了对印花面料这类具有重复纹理的材质的疵点检测，提高了检测的适应性，可大规模应用于印花面料的生产检测中，降低生产成本，提高产品质量
。
附图说明
[0049]图1是本专利技术的实施例提供的印花面料疵点检验方法的流程示意图
。
[0050]图2是本专利技术的实施例提供的印花面料疵点检验装置示意图
。<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种印花面料疵点检验方法，其特征在于，所述方法包括：获取面料图像，并对所述面料图像进行预处理和分割，以获得分割面基点；根据所述分割面基点，确定位于织物表面上的分割面点集，根据所述分割面点集，剔除所述分割面点集中的错误点，以得到粒子群分割面；根据所述粒子群分割面，提取单个粒子中心点，根据所述单个粒子中心点，对单个粒子中心点的邻域点云进行特征度量，以获得单个粒子边缘信息；根据所述单个粒子边缘信息，对面料单个粒子体积进行计算，以获得单个粒子的体积；根据所述单个粒子的体积，以获得粒子在面料上的覆盖率，根据所述覆盖率，计算粒子在面料上的均匀度；根据粒子在面料上的均匀度，以得到面料的异常点，根据所述异常点确定面料的瑕疵点
。2.
根据权利要求1所述的印花面料疵点检验方法，其特征在于，获取面料图像，并对所述面料图像进行预处理和分割，以获得分割面基点，包括：获取面料图像；对所述面料图像使用直方图均衡化处理，以及使用中值滤波器进行噪声去除，以得到预处理图像；对所述预处理图像进行分割，以获得分割面基点
。3.
根据权利要求2所述的印花面料疵点检验方法，其特征在于，根据所述分割面基点，确定位于织物表面上的分割面点集，根据所述分割面点集，剔除所述分割面点集中的错误点，以得到粒子群分割面，包括：根据已经获取的分割面基点，通过图像分割方法确定位于织物表面上的分割面点集；根据所述分割面点集，进行错误点进行清洗，以获取清洗后数据点；根据所述清洗后数据点，计算每两个数据点之间的距离；根据每两个数据点之间的距离构建相似性矩阵；根据所述相似性矩阵进行谱聚类，以获得聚类结果；根据所述聚类结果将原始数据点分配到不同的聚类中以得到粒子群分割面
。4.
根据权利要求3所述的印花面料疵点检验方法，其特征在于，根据所述粒子群分割面，提取单个粒子中心点，包括：在粒子群分割面上识别出单个的粒子；根据每一个识别出的粒子，分别计算每个粒子像素的
x
坐标和
y
坐标的平均值；根据每个粒子像素的
x
坐标和
y
坐标的平均值，确定每个粒子的几何中心；根据每个粒子的几何中心，确定单个粒子中心点
。5.
根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯宇健，何小红，
申请(专利权)人：广州乾丰印花有限公司，
类型：发明
国别省市：