用于检查寄存器的方法及装置制造方法及图纸

本申请涉及数字

【技术实现步骤摘要】
用于检查寄存器的方法及装置、电子设备


[0001]本申请涉及数字
IC
验证
，例如涉及一种用于检查寄存器的方法及装置
、
电子设备
。

技术介绍

[0002]C
语言编程配合
UVM
（
UniversalVerificationMethodology
，通用验证方法学）环境，是目前大多数
SoC
（
System on Chip
，系统级芯片）验证时所采用的方案，
UVM
环境基于事务级的验证框架大大改善了验证的效率，其拥有的模块化可重构
、
激励随机生成
、
自动化比较
、
可灵活控制的动态线程等特性更是有效缩短了项目验证工作的开发周期
。
验证人员在
UVM
环境的基础上，面向
CPU
（
Central Processing Unit
，中央处理器）直接进行编程，易于精准构造各种系统级工作场景本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种用于检查寄存器的方法，其特征在于，包括：在进行寄存器检查的情况下，创建动态线程并进行寄存器测试；动态线程通过缓冲区获取寄存器测试中进行测试的寄存器的位置，以及所述寄存器的测试结果；动态线程根据寄存器和位置和测试结果，分析寄存器中报错的位置，获得检查结果
。2.
根据权利要求1所述的方法，其特征在于，动态线程包括用于获取测试结果的第一子线程和用于获取测试进度的第二子线程
。3.
根据权利要求2所述的方法，其特征在于，进行寄存器测试，包括：对寄存器进行复位；对寄存器进行读写操作；根据读写操作的结果，确定寄存器的测试结果
。4.
根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据读写操作的结果，确定寄存器的测试结果，包括：将写入寄存器的第一数据和从寄存器读取的第二数据进行比对；在第一数据和第二数据相同的情况下，确定寄存器读写功能正常；否则，确定寄存器读写功能异常
。5.
根据权利要求3所述的方法，其特征在于，动态线程通过缓冲区获取寄存器测试中进行测试的寄存器的位置，以及所述寄存器的测试结果，包括：第一子线程通过第一缓冲区...

【专利技术属性】
技术研发人员：仵东，
申请(专利权)人：紫光同芯微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：