一种制造技术

本发明专利技术公开了一种

【技术实现步骤摘要】
一种
α
型半水石膏性能测试方法及系统


[0001]本专利技术涉及石膏性能检测
，具体涉及一种
α
型半水石膏性能测试方法及系统
。

技术介绍

[0002]α
型半水石膏是一种重要的工业原料，广泛应用于建筑
、
陶瓷
、
玻璃
、
医药等多个领域
。
由于其具有高强度
、
高耐水性等优点，因此备受关注
。
在生产和使用过程中，
α
型半水石膏的性能指标如结晶度
、
密度
、
含水率等对其品质和使用效果具有重要影响
。
然而，传统的性能测试方法存在着操作繁琐
、
精度低
、
测试周期长等问题，不能满足现代工业生产的需求
。
因此，一种能够快速
、
准确
、
简便地测定
α
型半水石膏性能指标的方法具有重要意义
。
通过该方法及系统，可以实现对
α
型半水石膏性能指标的准确检测，提高生产效率，保证产品质量，降低生产成本，推动相关产业的发展
。
[0003]现有技术中存在的石膏性能检测工作由于完备性不足和全检而导致检测成本高
、
异常检出效率差的问题，使得最终关于石膏性能检测工作无法提高异常检出效率
。

技术实现思路

[0004]本申请提供了一种
α
型半水石膏性能测试方法及系统，解决了现有技术中存在的石膏性能检测工作由于完备性不足和全检而导致检测成本高
、
异常检出效率差的问题，实现了关于石膏性能检测工作中异常检出效率的提高
。
[0005]鉴于上述问题，本申请提供了一种
α
型半水石膏性能测试方法
。
[0006]第一方面，本申请提供了一种
α
型半水石膏性能测试方法，方法包括：基于
α
型半水石膏生产标准表，下载第一性能指标期望区间；联网对所述第一性能指标期望区间进行调整，生成第二性能指标期望区间；接收
α
型半水石膏生产参数和
α
型半水石膏生产工艺类型；根据所述
α
型半水石膏生产工艺类型选择性激活
α
型半水石膏映射组件，对所述
α
型半水石膏生产参数进行处理，生成性能指标映射值；调取所述第二性能指标期望区间对所述性能指标映射值进行偏离性分析，生成性能指标偏离系数；提取所述性能指标偏离系数大于或等于性能指标偏离系数阈值的性能指标集进行序列化调整，生成性能指标集序列；按照所述性能指标集序列对所述性能指标集进行检测，获得
α
型半水石膏性能测试结果
。
[0007]第二方面，本申请提供了一种
α
型半水石膏性能测试系统，系统包括：期望区间模块：基于
α
型半水石膏生产标准表，下载第一性能指标期望区间；区间调整模块：联网对所述第一性能指标期望区间进行调整，生成第二性能指标期望区间；生产参数模块：接收
α
型半水石膏生产参数和
α
型半水石膏生产工艺类型；组件激活模块：根据所述
α
型半水石膏生产工艺类型选择性激活
α
型半水石膏映射组件，对所述
α
型半水石膏生产参数进行处理，生成性能指标映射值；偏离系数模块：调取所述第二性能指标期望区间对所述性能指标映射值进行偏离性分析，生成性能指标偏离系数；性能指标模块：提取所述性能指标偏离系数大于或等于性能指标偏离系数阈值的性能指标集进行序列化调整，生成性能指标集序列；测试
结果模块：按照所述性能指标集序列对所述性能指标集进行检测，获得
α
型半水石膏性能测试结果
。
[0008]本申请中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：本申请实施例提供的一种
α
型半水石膏性能测试方法及系统，基于
α
型半水石膏生产标准表，下载第一性能指标期望区间，再对第一性能指标期望区间进行调整，生成第二性能指标期望区间，然后接收
α
型半水石膏生产参数和
α
型半水石膏生产工艺类型，并选择性激活
α
型半水石膏映射组件，对
α
型半水石膏生产参数进行处理，生成性能指标映射值，调取第二性能指标期望区间对性能指标映射值进行偏离性分析，生成性能指标偏离系数，最后提取性能指标偏离系数大于或等于性能指标偏离系数阈值的性能指标集进行序列化调整，生成性能指标集序列，并对性能指标集进行检测，获得
α
型半水石膏性能测试结果，解决了现有技术中存在的石膏性能检测工作由于完备性不足和全检而导致检测成本高
、
异常检出效率差的问题，实现了关于石膏性能检测工作中异常检出效率的提高
。
附图说明
[0009]图1为本申请提供了一种
α
型半水石膏性能测试方法流程示意图；图2为本申请提供了一种
α
型半水石膏性能测试系统结构示意图
。
[0010]附图标记说明：期望区间模块
11
，区间调整模块
12
，生产参数模块
13
，组件激活模块
14
，偏离系数模块
15
，性能指标模块
16
，测试结果模块
17。
具体实施方式
[0011]本申请通过提供一种
α
型半水石膏性能测试方法及系统，通过
α
型半水石膏生产标准表，下载第一性能指标期望区间，再对第一性能指标期望区间进行调整，生成第二性能指标期望区间，然后接收
α
型半水石膏生产参数和
α
型半水石膏生产工艺类型，并选择性激活
α
型半水石膏映射组件，对
α
型半水石膏生产参数进行处理，生成性能指标映射值，调取第二性能指标期望区间对性能指标映射值进行偏离性分析，生成性能指标偏离系数，最后提取性能指标偏离系数大于或等于性能指标偏离系数阈值的性能指标集进行序列化调整，生成性能指标集序列，并对性能指标集进行检测，获得
α
型半水石膏性能测试结果
。
解决了现有技术中存在的石膏性能检测工作由于完备性不足和全检而导致检测成本高
、
异常检出效率差的问题，实现了关于石膏性能检测工作中异常检出效率的提高
。
[0012]实施例一如图1所示，本申请提供了一种
α
型半水石膏性能测试方法及系统，方法包括：基于
α
型半水石膏生产标准表，下载第一性能指本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种
α
型半水石膏性能测试方法，其特征在于，包括：基于
α
型半水石膏生产标准表，下载第一性能指标期望区间；联网对所述第一性能指标期望区间进行调整，生成第二性能指标期望区间；接收
α
型半水石膏生产参数和
α
型半水石膏生产工艺类型；根据所述
α
型半水石膏生产工艺类型选择性激活
α
型半水石膏映射组件，对所述
α
型半水石膏生产参数进行处理，生成性能指标映射值；调取所述第二性能指标期望区间对所述性能指标映射值进行偏离性分析，生成性能指标偏离系数；提取所述性能指标偏离系数大于或等于性能指标偏离系数阈值的性能指标集进行序列化调整，生成性能指标集序列；按照所述性能指标集序列对所述性能指标集进行检测，获得
α
型半水石膏性能测试结果
。2.
如权利要求1所述的方法，其特征在于，联网对所述第一性能指标期望区间进行调整，生成第二性能指标期望区间，包括：通信用户端，接收
α
型半水石膏应用场景类型；根据所述
α
型半水石膏应用场景类型进行正样本联网挖掘，生成正样本
α
型半水石膏生产记录；对所述正样本
α
型半水石膏生产记录进行基线分析，生成性能指标基线区间；对所述性能指标基线区间对所述第一性能指标期望区间进行交集解析，生成所述第二性能指标期望区间
。3.
如权利要求2所述的方法，其特征在于，对所述正样本
α
型半水石膏生产记录进行基线分析，生成性能指标基线区间，包括：所述正样本
α
型半水石膏生产记录包括性能指标集和性能指标检测特征值；对所述性能指标集进行两两相关性分析，生成皮尔逊相关系数；根据所述皮尔逊相关系数对所述性能指标集进行聚类分析，生成性能指标集聚类结果；遍历所述性能指标集聚类结果分别随机提取一个性能指标，构建代表性能指标集；根据所述代表性能指标集，对所述性能指标检测特征值进行离群点清洗，生成性能指标检测特征值清洗结果；统计所述性能指标检测特征值清洗结果的性能指标分布区间，生成所述性能指标基线区间
。4.
如权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述
α
型半水石膏生产工艺类型选择性激活
α
型半水石膏映射组件，对所述
α
型半水石膏生产参数进行处理，生成性能指标映射值，包括：遍历预设生产工艺类型，利用残差梯度下降算法，训练多个
α
型半水石膏映射组件，其中，所述多个
α
型半水石膏映射组件具有唯一对应的组件
ID
，所述组件
ID
和所述预设生产工艺类型一一对应；将所述
α
型半水石膏生产工艺类型和所述预设生产工艺类型进行配对，获得待激活组件
ID
；
根据所述待激活组件
ID
对所述多个
α
型半水石膏映射组件进行选择性激活，对所述
α
型半水石膏生产参数进行处理，生成所述性能指标映射区间
。5.
如权利要求4所述的方法，其特征在于，遍历预设生产工艺类型，利用残差梯度下降算法，训练多个
α
...

【专利技术属性】
技术研发人员：孟醒，马红青，唐永波，侯沛欣，王婷，
申请(专利权)人：一夫科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：