表面波增强痕量待测物太赫兹宽带吸收谱器件及制备方法技术

本发明专利技术公开一种表面波增强痕量待测物太赫兹宽带吸收谱器件及制备方法，器件棱镜；薄板，所述薄板位于棱镜的下方，且薄板的第一表面设有薄膜分析层，薄膜分析层与棱镜之间设有间隙，所述薄板的第二表面设置匹配溶液；楔形薄板，所述楔形薄板位于薄板的第二表面及匹配溶液的下方；太赫兹波从棱镜一侧垂直入射，经间隙填充的空气层

【技术实现步骤摘要】
表面波增强痕量待测物太赫兹宽带吸收谱器件及制备方法


[0001]本专利技术属于太赫兹
，具体涉及一种表面波增强痕量待测物太赫兹宽带吸收谱器件及制备方法
。

技术介绍

[0002]太赫兹波段
(0.1
～
10THz
，
1THz
＝
1012Hz)
位于微波和红外谱之间，大多数有机及生物大分子例如氨基酸
、
脂肪
、DNA、RNA
和蛋白质等在太赫兹波段有特征吸收谱，即指纹谱
。
同时可以反映这些分子之间弱相互作用
(
如：氢键
、
范德华力等
)、
骨架振动及偶极子旋转等包含组成
、
结构和功能的独特信息，这是其他电磁波段无法获得的
。
实际应用中则需要对微量待测物的太赫兹吸收谱进行检测，目前仍非常困难
。
在常见的太赫兹吸收谱测量方案中，需要把较大数量的待测物过压片技术变成一定厚度固体样品，然后通过测量透射系数计算得到吸收本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种表面波增强痕量待测物太赫兹宽带吸收谱器件，其特征在于，包括：棱镜；薄板，所述薄板位于棱镜的下方，且薄板的第一表面设有薄膜分析层，薄膜分析层与棱镜之间设有间隙，所述薄板的第二表面设置匹配溶液；楔形薄板，所述楔形薄板位于薄板的第二表面及匹配溶液的下方；太赫兹波从棱镜一侧垂直入射，经间隙填充的空气层
、
薄膜分析层
、
薄板
、
匹配溶液
、
楔形薄板再反射回棱镜，其中，楔形薄板在沿薄板的第二表面移动时，太赫兹波随楔形薄板的厚度而改变谐振频率，并将不同谐振频率对应的吸收谱谐振峰连接形成包络线，建立薄膜分析层的增强吸收光谱
。2.
根据权利要求1所述的一种表面波增强痕量待测物太赫兹宽带吸收谱器件，其特征在于，所述棱镜的材料包括高阻硅
、
特氟龙
、
聚乙烯
、
聚丙烯及
TPX
中的任意一种
。3.
根据权利要求1所述的一种表面波增强痕量待测物太赫兹宽带吸收谱器件，其特征在于，所述薄板的材料为特氟龙，厚度为
300
～
500
μ
m。4.
根据权利要求1所述的一种表面波增强痕量待测物太赫兹宽带吸收谱器件，其特征在于，所述匹配溶液的材料为反式十氢萘溶液，厚度为
300
～
500
μ
m
，宽度为5～
10mm。5.
根据权利要求1所述的一种表面波增强痕量待测物太赫兹宽带吸收谱器件，其特征在于，所述楔形薄板的材料为特氟龙，一端厚度为
600
‑
1000

【专利技术属性】
技术研发人员：李向军，祝佳欣，严德贤，刘建军，
申请(专利权)人：中国计量大学，
类型：发明
国别省市：