温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开一种表面波增强痕量待测物太赫兹宽带吸收谱器件及制备方法，器件棱镜；薄板，所述薄板位于棱镜的下方，且薄板的第一表面设有薄膜分析层，薄膜分析层与棱镜之间设有间隙，所述薄板的第二表面设置匹配溶液；楔形薄板，所述楔形薄板位于薄板的第二表面...
该专利属于中国计量大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国计量大学授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。