一种半导体芯片测试的微调支架制造技术

本实用新型专利技术公开了一种半导体芯片测试的微调支架，包括底座和调节座，底座顶部的左侧固定连接有调节座，调节座内壁的底部固定连接有轴承，轴承的顶部转动连接有螺纹杆，螺纹杆的顶部贯穿调节座且延伸至调节座的外部并固定连接有调节把手，螺纹杆的表面下方螺纹连接有安装板，安装板的右侧贯穿调节座且延伸至调节座的外部

【技术实现步骤摘要】
一种半导体芯片测试的微调支架


[0001]本技术涉及支架
，具体为一种半导体芯片测试的微调支架
。

技术介绍

[0002]半导体芯片，在半导体片材上进行浸蚀，布线，制成的能实现某种功能的半导体器件，不只是硅芯片，常见的还包括砷化镓
(
砷化镓有毒，所以一些劣质电路板不要好奇分解它
)
，锗等半导体材料，半导体也像汽车有潮流，二十世纪七十年代，因特尔等美国企业在动态随机存取内存
(D
‑
RAM)
市场占上风，但由于大型计算机的出现，需要高性能
D
‑
RAM
的二十世纪八十年代，日本企业名列前茅
。
[0003]在对半导体芯片进行测试时需要用到微调支架，现有技术中，如申请号为
CN202121571389.7
的专利，本申请公开了一种半导体芯片测试的微调支架，包括固定座
、
连接座
、
吸附机构
、
高度调节机构以及角度调节机构；其中所述固定座左端顶侧固定连接有连接座；所述吸附机构包括固定板
、
螺纹杆
、
锁紧螺母以及吸盘，所述固定板固定连接在固定座侧表面，所述固定板表面滑动贯穿有螺纹杆，所述螺纹杆底端固定连接有吸盘，所述螺纹杆表面螺纹连接有锁紧螺母
。
该种半导体芯片测试的微调支架设计新颖
、
结构简单，螺纹杆推动吸盘与工作台表面进行接触，通过吸盘与工作台表面的吸附调节微调支架整体的放置稳定，方便工作者操作使用微调支架
。
但是，上述专利存在不便于对测试板进行拆卸更换，极大的降低了微调支架的实用性
。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种半导体芯片测试的微调支架，以解决上述
技术介绍
中提出的问题
。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种半导体芯片测试的微调支架，包括：
[0006]底座；
[0007]调节座，所述底座顶部的左侧固定连接有调节座，所述调节座内壁的底部固定连接有轴承，所述轴承的顶部转动连接有螺纹杆，所述螺纹杆的顶部贯穿调节座且延伸至调节座的外部并固定连接有调节把手；
[0008]安装板，所述螺纹杆的表面下方螺纹连接有安装板，所述安装板的右侧贯穿调节座且延伸至调节座的外部；
[0009]测试板，所述安装板的右侧活动连接有测试板；
[0010]插口，所述安装板的顶部右侧对称开设有两个插口；
[0011]连接块，所述安装板的左侧固定连接有两个对称设置的连接块，所述连接块远离安装板的一侧贯穿插口且延伸至插口的外部；
[0012]限位插槽，两个所述连接块相互远离的一侧均开设有限位插槽；
[0013]安装口，所述安装板顶部的右侧中心处开设有安装口，所述安装口的内部设置有
限位机构
。
[0014]进一步地，所述限位机构包括连接柱
、
活动板
、
限位板和弹簧，所述安装口内壁的前后两侧之间通过连接柱固定相连，所述连接柱的表面前后两侧均滑动连接有活动板，所述活动板的顶部贯穿安装口且延伸至安装口的外部，两个所述活动板相互远离的一侧上方均固定连接有限位板，所述限位板远离活动板的一侧贯穿限位插槽且延伸至限位插槽的内部，所述连接柱表面的中心处套设有弹簧
。
[0015]进一步地，所述螺纹杆与调节座之间活动连接
。
[0016]进一步地，所述安装板的前后两侧均与调节座的内壁活动接触
。
[0017]进一步地，所述活动板的表面与安装口的内壁之间活动接触
。
[0018]进一步地，所述限位板与限位插槽之间活动卡接
。
[0019]进一步地，所述连接块与插口之间活动插接，所述连接块与安装板之间活动接触
。
[0020]与现有技术相比，本技术的有益效果如下：
[0021]本技术通过底座
、
调节座
、
螺纹杆
、
安装板
、
测试板
、
插口
、
连接块
、
限位插槽
、
限位机构
、
连接柱
、
活动板
、
限位板和弹簧相互配合，起到了便于对侧视板进行拆卸更换的效果，操作简单，省时省力，整个拆卸过程无需使用其它工具，给使用者提供了很大的便利，极大提高了微调支架的实用性
。
附图说明
[0022]图1为本技术的正视结构示意图；
[0023]图2为本技术测试板的结构示意图；
[0024]图3为本技术的侧视结构示意图；
[0025]图4为本技术安装板的俯视结构示意图；
[0026]图5为本技术安装板的侧视结构示意图
。
[0027]图中：
1、
底座；
2、
调节座；
3、
螺纹杆；
4、
安装板；
5、
测试板；
6、
插口；
7、
连接块；
9、
限位插槽；
10、
限位机构；
101、
连接柱；
102、
活动板；
103、
限位板；
104、
弹簧
。
具体实施方式
[0028]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚
、
完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例
。
基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围
。
[0029]在本技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位
、
以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制
。
此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量
。
由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征
。
在本技术的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上
。
[0030]在本技术的描述中，需要说明的是，除非另本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种半导体芯片测试的微调支架，其特征在于，包括：底座
(1)
；调节座
(2)
，所述底座
(1)
顶部的左侧固定连接有调节座
(2)
，所述调节座
(2)
内壁的底部固定连接有轴承，所述轴承的顶部转动连接有螺纹杆
(3)
，所述螺纹杆
(3)
的顶部贯穿调节座
(2)
且延伸至调节座的外部并固定连接有调节把手；安装板
(4)
，所述螺纹杆
(3)
的表面下方螺纹连接有安装板
(4)
，所述安装板
(4)
的右侧贯穿调节座
(2)
且延伸至调节座
(2)
的外部；测试板
(5)
，所述安装板
(4)
的右侧活动连接有测试板
(5)
；插口
(6)
，所述安装板
(4)
的顶部右侧对称开设有两个插口
(6)
；连接块
(7)
，所述安装板
(4)
的左侧固定连接有两个对称设置的连接块
(7)
，所述连接块
(7)
远离安装板
(4)
的一侧贯穿插口
(6)
且延伸至插口
(6)
的外部；限位插槽
(9)
，两个所述连接块
(7)
相互远离的一侧均开设有限位插槽
(9)
；安装口，所述安装板
(4)
顶部的右侧中心处开设有安装口，所述安装口的内部设置有限位机构
(10)。2.
根据权利要求1所述的一种半导体芯片测试的微调支架，其特征在于：所述限位机构
(10)
包括连接柱
(101)、
活动...

【专利技术属性】
技术研发人员：施军方，施雷，
申请(专利权)人：福雷自动化设备无锡有限公司，
类型：新型
国别省市：