偏振控制器性能测试方法及系统技术方案

本发明专利技术涉及光偏振控制领域，提供一种偏振控制器性能测试方法及系统

【技术实现步骤摘要】
偏振控制器性能测试方法及系统、装置


[0001]本专利技术涉及光偏振控制
，尤其涉及一种偏振控制器性能测试方法及系统
、
装置
。

技术介绍

[0002]偏振控制器是一种光学元件，其主要作用是调节光信号的偏振态，使其具有特定的偏振态
。
常见的偏振控制器类型有：波片型偏振控制器
、
光纤环形偏振控制器
、
电光型偏振控制器
、
挤压型偏振控制器等
。
而根据输入方式的不同，偏振控制器可以分为手动和电控，其中电控偏振控制器可以通过改变电压从而改变光的偏振态
。
理论上，偏振控制器拥有三个合适的自由度，就可以实现对光信号的完全偏振控制，即可以将任意输入的偏振态转换为任意输出的偏振态
。
然而，在实际应用中，受到光纤类型
、
偏振控制器内部损耗以及潜在的缺陷等因素的影响，偏振控制器可能无法实现对光信号的完全偏振控制
。
若偏振控制器存在偏振控制的盲区，将严重影响激光器的调试过程<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
偏振控制器性能测试方法，其特征在于，包括：建立邦加球模型，并将所述邦加球模型划分为若干个测试区域；将随机选取的若干个电压值组合输入偏振控制器，偏振控制器基于所述电压值组合改变偏振光的偏振态；使用所述邦加球模型上的点位对所述偏振光的偏振态进行记录；计算所述邦加球模型上每个所述测试区域中的所述点位的密度，并与预设密度阈值进行比较；若每个所述测试区域的所述点位的密度均大于或者等于所述预设密度阈值，确定所述偏振控制器可以实现完全偏振控制
。2.
根据权利要求1所述的偏振控制器性能测试方法，其特征在于，还包括：若存在至少一个所述测试区域的所述点位的密度小于所述预设密度阈值，重新随机选取电压值组合，并利用重新随机选取的电压值组合对偏振光进行偏振控制；再次计算所述邦加球模型上每个所述区域中的所述点位的密度，并与预设密度阈值进行比较
。3.
根据权利要求2所述的偏振控制器性能测试方法，其特征在于，还包括：若重新随机选取电压值组合的次数达到预设次数，确定所述偏振控制器不能实现完全偏振控制
。4.
根据权利要求1所述的偏振控制器性能测试方法，其特征在于，所述电压值组合的选取方法包括：确定所述偏振控制器支持的电压范围；将所述偏振控制器支持的电压范围均匀分成若干组，从每个分组中随机选取电压值，形成电压值组合
。5.
根据权利要求1所述的偏振控制器性能测试方法，其特征在于，所述将所述邦加球模型划分为若干个测试区域，包括：将所述邦加球模型均匀划分为若干个三角形区域
。6.
偏振控制器性能测试系统，其特征在于，包括：建模模块，用...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗爱平，林君豪，元楚鸣，覃叶婷，吴家文，罗智超，徐文成，
申请(专利权)人：华南师范大学，
类型：发明
国别省市：