【技术实现步骤摘要】
冲击点区域定位方法、装置、电子设备及存储介质
[0001]本申请无损探伤
,具体而言,涉及一种冲击点区域定位方法
、
装置
、
电子设备及存储介质
。
技术介绍
[0002]冲击点识别的目的在于确定某个系统或过程中的关键节点或瓶颈,以便更好地管理和优化系统或过程
。
通过识别冲击点,可以帮助我们了解哪些因素对系统或过程的效率和稳定性有着最大的影响,从而采取相应的措施来提高效率
、
降低成本
、
减少风险等
。
同时,通过对冲击点的分析,还可以预测未来的趋势和变化,帮助企业和组织做出更好的决策和规划
。
[0003]传统冲击点区域定位方法为多点测量法
、
电磁法和声波法
。
上述冲击点区域定位方法均存在定位效率低,以及定位精度不高的问题
。
技术实现思路
[0004]有鉴于此,本申请的目的在于提供一种冲击点区域定位方法
、
装置
、
电子设备及存储介质,以实现对被测样件缺陷高效率和高精度的定位
。
[0005]为了实现上述目的,本申请实施例采用的技术方案如下:
[0006]第一方面,本申请实施例提供一种冲击点区域定位方法,所述方法包括:
[0007]根据预设时长内待测样件的第一点云坐标数据,确定所述待测样件的至少一个面的初始数据;
[0008]根据所述预设时长内所述待测 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种冲击点区域定位方法,其特征在于,所述方法包括:根据预设时长内待测样件的第一点云坐标数据,确定所述待测样件的至少一个面的初始数据;根据所述预设时长内所述待测样件的第二点云坐标数据,确定所述待测样件的至少一个面的待对比数据;其中,所述第二点云坐标数据为获得所述第一点云坐标数据间隔第一时间段后在预设时长内获得的所述待测样件的点云坐标数据;根据所述至少一个面的初始数据和所述至少一个面的待对比数据,确定至少一个面中的待测面;其中,所述待测面的待对比数据与所述待测面的初始数据不匹配;将所述待测面划分为多个子区域,根据所述待测面的各子区域分别对应的第一点云坐标数据和所述待测面的各子区域分别对应的第二点云坐标数据,从各所述子区域中确定第一子区域;其中,所述第一子区域为所述冲击点所在的子区域;提取所述冲击点在所述第一子区域中对应的点云坐标数据,以定位所述冲击点在所述待测样件上的位置
。2.
根据权利要求1所述的冲击点区域定位方法,其特征在于,所述根据所述至少一个面的初始数据和所述至少一个面的待对比数据,确定至少一个面中的待测面的步骤,包括:逐一根据所述至少一个面中各个面的所述初始数据
、
所述待对比数据和预设第一阈值,确定所述至少一个面中的所述待测面;其中,所述待测面的所述初始数据与所述待对比数据的差值大于所述预设第一阈值
。3.
根据权利要求1或2所述的冲击点区域定位方法,其特征在于,所述将所述待测面划分为多个子区域的步骤,包括:将所述待测面对应的第一点云坐标数据划分为多个第一点云坐标数据子集,得到所述多个子区域,所述多个第一点云坐标数据子集与所述多个子区域一一对应
。4.
根据权利要求1或2所述的冲击点区域定位方法,其特征在于,所述根据所述待测面的各子区域分别对应的第一点云坐标数据和所述待测面的各子区域分别对应的第二点云坐标数据,从各所述子区域中确定第一子区域的步骤,包括:根据所述待测面的多个子区域分别对应的第一点云坐标数据,确定所述待测面的各子区域分别对应的第一特征值;其中,各所述子区域对应的所述第一特征值为各所述子区域对应的第一点云坐标数据的均值;根据所述待测面的多个子区域分别对应的第二点云坐标数据,确定所述待测面的各子区域分别对应的第二特征值;其中,各所述子区域对应的所述第二特征值为各所述子区域对应的第二点云坐标数据的均值;根据各所述子区域分别对应的所述第一特征值和各所述子区域分别对应的所述第二特征值,从各所述子区域中确定所述第一子区域
。5.
根据权利要求4所述的冲击点区域定位方法,其特征在于,所述根据各所述子区域分别对应的所述第一特征值和各所述子区域分别对应的所述第二特征值,从各所述子区域中确定所述第一子区域的步骤,包括:逐一根据各所述子区域分别对应的所述第一特征值
、
各所述子区域分别对应的所述第二特征值和预设第二阈值,从各所述子区域中确定所述第一子区域;其中,所述第一子区域的所述第一特征值和所述第二特征值的差值大于所述预设第二阈值
。
6.
根据权利要求1或2所述的冲击点区域定位方法,其特征在于,所述根据预设时长内待测样件的第一点云坐标数据,确定所述待测样件的至少一个面的初始数据的步骤,包括:将所述预设时长内所述待测样件的所述第一点云坐标数据进行叠加,以得到第一叠加数据;通过最小二乘法将所述第一叠加数据进行拟合,以得到所述待测样件的至少一个面的初始数据
。7.
根据权利要求1或2所述的冲击点区域定位方法,其特征在于,在所述根据预设时长内待测样件的第一点云坐标数据,确定所述待测样件的至少一个面的初始数据的步骤之前,所述方法还包括:采集所述预设时长内所述待测样件的点云数...
【专利技术属性】
技术研发人员:杨洪君,刘浩,冯钰志,
申请(专利权)人:北醒北京光子科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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