树脂膜、树脂膜的制造方法和相位差膜的制造方法技术

本发明专利技术提供一种具有优异的外观、能够适合用于具有逆波长分散特性的相位差膜的制造的树脂膜及其制造方法、和使用了该树脂膜的相位差膜的制造方法。本发明专利技术的实施方式的树脂膜含有显示正的双折射的树脂和显示负的双折射的树脂，并且一个面与另一个面的折射率差满足下述式(I)。该折射率差≤|树脂膜的厚度

【技术实现步骤摘要】
树脂膜、树脂膜的制造方法和相位差膜的制造方法


[0001]本专利技术涉及树脂膜、树脂膜的制造方法和相位差膜的制造方法。

技术介绍

[0002]近年来，以液晶显示装置和电致发光(EL)显示装置(例如有机EL显示装置、无机EL显示装置)为代表的图像显示装置迅速普及。就有机EL显示装置而言，已知有通过将包含λ/4板的圆偏振片配置在有机EL单元的视觉可见侧来防止外部光反射或背景的映入等问题(例如专利文献1和2)。
[0003]关于上述圆偏振片中使用的λ/4板，从在宽波长区域实现优异的防反射特性的观点出发，要求越是在长波长区域相位差越大、即表现出所谓逆波长分散特性的相位差膜。针对上述的要求，提出了含有显示正的双折射的纤维素系树脂和显示负的双折射的酯系树脂、并且面内相位差显示逆波长分散特性的相位差膜(例如专利文献3)。上述专利文献3中记载的相位差膜是以如下的方式来制造的：将溶解有纤维素系树脂和酯系树脂的树脂溶液涂布在支撑基材上之后，通过加热使溶剂蒸发而形成树脂膜，并拉伸树脂膜。但是，就上述的制造方法而言，有时气泡会包入在拉伸前的树脂膜中，树脂膜的外观还有改善的余地。
[0004]现有技术文献
[0005]专利文献
[0006]专利文献1：日本特开2002
‑
311239号公报
[0007]专利文献2：日本特开2002
‑
372622号公报
[0008]专利文献3：日本特开2021
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140095号公报

技术实现思路
/>[0009]专利技术所要解决的课题
[0010]本专利技术是为了解决上述以往的课题而完成的，其主要目的在于，提供一种具有优异的外观、能够适合用于具有逆波长分散特性的相位差膜的制造的树脂膜及其制造方法、和使用了该树脂膜的相位差膜的制造方法。
[0011]用于解决课题的手段
[0012][1]本专利技术的实施方式的树脂膜含有显示正的双折射的树脂和显示负的双折射的树脂，该树脂膜的一个面与另一个面的折射率差满足下述式(I)：
[0013]所述折射率差≤|树脂膜的厚度
×
0.00001|
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(I)。
[0014][2]根据上述项目[1]所述的树脂膜，其中，在一个实施方式中，所述树脂膜中形成有纳米相分离结构。
[0015][3]根据上述项目[1]或[2]所述的树脂膜，其中，在一个实施方式中，所述树脂膜中的溶剂含有率为10质量％以下。
[0016][4]根据上述项目[1]至[3]中任一项所述的树脂膜，其中，在一个实施方式中，所述树脂膜的厚度为400μm以下。
[0017][5]本专利技术的另一个方面的树脂膜的制造方法，其包含下述的工序：将显示正的双折射的树脂和显示负的双折射的树脂溶解于溶剂中而制备树脂溶液的工序；将该树脂溶液涂布于支撑基材上而形成第一涂膜的工序；加热该第一涂膜使其干燥，从而形成厚度为200μm以下的第一干膜的工序；将所述树脂溶液涂布于该第一干膜上而形成第二涂膜的工序；和加热该第二涂膜使其干燥、从而形成厚度为200μm以下的第二干膜的工序。
[0018][6]根据上述项目[5]所述的树脂膜的制造方法，其中，在一个实施方式中，进一步包含下述的工序：将所述树脂溶液涂布于所述第二干膜上而形成第三涂膜的工序；和加热该第三涂膜使其干燥、从而形成厚度为200μm以下的第三干膜的工序。
[0019][7]本专利技术的另一个方面的相位差膜的制造方法包含将使用上述项目[5]或[6]所述的树脂膜的制造方法制造的树脂膜进行拉伸的工序。
[0020][8]根据上述项目[7]所述的相位差膜的制造方法，其中，在一个实施方式中，拉伸前的树脂膜的Rth(450)/Rth(550)低于1.00，相位差膜的Re(450)/Re(550)低于0.90，所述拉伸前的树脂膜的Rth(450)/Rth(550)与所述相位差膜的Re(450)/Re(550)之差为0.06以上。
[0021]专利技术效果
[0022]根据本专利技术的实施方式，能够实现具有优异的外观、且适合用于具有逆波长分散特性的相位差膜的制造的树脂膜及其制造方法，并且能够实现使用了该树脂膜的相位差膜的制造方法。
具体实施方式
[0023]以下，对本专利技术的代表性的实施方式进行说明，但是本专利技术不限于这些实施方式。
[0024](术语和符号的定义)
[0025]本说明书中的术语和符号的定义如下所述。
[0026](1)折射率(nx、ny、nz)
[0027]“nx”是面内的折射率达到最大的方向(即，慢轴方向)的折射率，“ny”是在面内与慢轴正交的方向(即，快轴方向)的折射率，“nz”是厚度方向的折射率。
[0028](2)面内相位差(Re)
[0029]“Re(λ)”是在23℃下用波长λnm的光测定的面内相位差。例如，“Re(550)”是在23℃下用波长550nm的光测定的面内相位差。将层(膜)的厚度设定为d(nm)时，Re(λ)可以由式：Re(λ)＝(nx
‑
ny)
×
d来求出。
[0030](3)厚度方向的相位差(Rth)
[0031]“Rth(λ)”是在23℃下用波长λnm的光测定的厚度方向的相位差。例如，“Rth(550)”是在23℃下用波长550nm的光测定的厚度方向的相位差。将层(膜)的厚度设定为d(nm)时，Rth(λ)可以由式：Rth(λ)＝(nx
‑
nz)
×
d来求出。
[0032](4)Nz系数
[0033]Nz系数可以由Nz＝Rth/Re来求出。
[0034](5)面内双折射(Δn)
[0035]“Δn(λ)”是在23℃下用波长λnm的光测定的面内双折射。例如，“Δn(550)”是在23℃下用波长550nm的光测定的面内双折射。面内双折射(Δn)可以由式：Δn＝nx
‑
ny来求出。
[0036]A.树脂膜的概要
[0037]本专利技术的实施方式的树脂膜含有显示正的双折射的树脂(以下，有时称为正的双折射树脂)和显示负的双折射的树脂(以下，有时称为负的双折射树脂)。树脂膜中的一个面与另一个面的折射率差为树脂膜的厚度(μm)乘以0.00001而成的值的绝对值以下，满足下述式(I)。
[0038]上述折射率差≤|树脂膜的厚度
×
0.00001|(I)
[0039]本专利技术的专利技术者们发现，树脂膜的两面的折射率差与树脂膜中包入的气泡相关，如果根据与树脂膜的厚度的关系来将树脂膜的两面的折射率差调整为特定的上限以下，则可以减少树脂膜中包入的气泡，从而完成了本专利技术。根据本专利技术的一个实施方式，由于树脂膜的两面的折射率差满足上述式(I)，所以能够减少树脂膜中包入的气泡，能够实现树脂膜的外观的提高。另外，如果树脂膜的两面的折射率差满足上述式(I)，则在拉伸树脂膜时，能本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种树脂膜，其含有显示正的双折射的树脂和显示负的双折射的树脂，其中，树脂膜的一个面与另一个面的折射率差满足下述式(I)：所述折射率差≤|树脂膜的厚度
×
0.00001|(I)。2.根据权利要求1所述的树脂膜，其中，形成有纳米相分离结构。3.根据权利要求1或2所述的树脂膜，其中，溶剂含有率为10质量％以下。4.根据权利要求1或2所述的树脂膜，其厚度为400μm以下。5.一种树脂膜的制造方法，其包含下述的工序：将显示正的双折射的树脂和显示负的双折射的树脂溶解于溶剂中而制备树脂溶液的工序；将所述树脂溶液涂布于支撑基材上而形成第一涂膜的工序；加热所述第一涂膜使其干燥、从而形成厚度为200μm以下的第一干膜的工序；将所述树脂溶液涂布于所述第一干膜上而形成第二...

【专利技术属性】
技术研发人员：东慎太郎，柳沼宽教，中西贞裕，长原一平，北川贵裕，藤井靖芳，伊藤正泰，小峰拓也，
申请(专利权)人：东曹株式会社，
类型：发明
国别省市：