一种针对运放的输入失调电压的测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及电路测试技术领域，具体公开了一种针对运放的输入失调电压的测试装置，包括：第一运放的同相输入端与共模电压输入端连接，第一运放的输出端分别与第一运放的反相输入端

【技术实现步骤摘要】
一种针对运放的输入失调电压的测试装置


[0001]本专利技术涉及电路测试
，具体涉及一种针对运放的输入失调电压的测试装置
。

技术介绍

[0002]运放广泛应用于电子测量，自动控制，通信，计算机领域
。
运放的参数非常多，其中失调电压是衡量运算放大器的性能的关键参数
。
运放的失调电压的大小决定了在运算过程中实际引入的误差信号大小，进而影响该运算放大器在整个使用过程中对真实信号放大的精确度
。
[0003]目前现有的运放输入失调电压测试方法大致有三种
。
[0004]如图1所示，第一种是将被测的运放的输入端短接，然后直接测输出端电压，即测试出来了运放的失调电压
。
这种测试方法结构非常简单，在一些开环增益较低的运放中可以正常测试，但是遇到开环增益高的运放时，就算是失调电压极小，其输出端的电压摆幅也将会达到电源电压或者零点电压，根本无法测试出运放本身的真实输入失调电压
。
[0005]如图2所示，第二种是将被测的运放的输入端短接，然后通过反馈电阻
Rf
将输入与输出端连接，构成闭环负反馈结构
。
这种测试方法虽然较为简单，但是其环路稳定性差，测试精度较低，在大量生产测试过程中，往往会出现测试结果误差波动大的问题
。
[0006]如图3所示，第三种是利用已有的辅助运放与被测运放构成负反馈结构，再通过调整被测运放共模电平
Vcm
和辅助运放输入端的分压电阻端的参考电平，然后再测试辅助运放输出端的电压，最后通过计算得出被测运放的输入失调电压
。
这种方法测试精度较高，但其测试步骤较为繁琐，同时这种测试方法最致命的问题是引入一个辅助运放构成单环闭环测试结构后，很难完成其测试环路的频率补偿调节
。
因此，这种测试方法在测试系统中极其容易产生自激振荡现象，使测试出的失调电压数据出现较大的误差，根本无法满足大规模量产测试要求
。

技术实现思路

[0007]针对上述问题，本专利技术的目的是提供一种针对运放的输入失调电压的测试装置，具有极高的测试精度，性能稳定，结构简单，可操作性强
。
[0008]本专利技术提供了一种针对运放的输入失调电压的测试装置，包括：测试电路单元和被测电路单元；
[0009]所述测试电路单元包括：第一运放
、
第二运放
、
第三运放，第一电阻
、
第二电阻
、
第三电阻
、
第四电阻
、
第一电容和第二电容；
[0010]所述被测电路单元包括：被测运放；
[0011]所述第一运放的同相输入端与共模电压输入端连接，所述第一运放的输出端分别与所述第一运放的反相输入端
、
所述第一电容的一端
、
所述第三电阻的一端和第二测试端连接；所述第一电容的另一端接地；
[0012]所述第三电阻的另一端分别与所述第四电阻的一端和所述第二运放的反相输入端连接，所述第四电阻的另一端分别与所述第二运放的输出端和所述第一测试端连接；所述第二电容并联在所述第四电阻的两端；
[0013]所述第二运放的同相输入端与所述被测运放的输出端连接，所述第二运放的输出端与所述第二电阻的一端连接，所述第二电阻的另一端分别与所述第一电阻的一端和所述第三运放的同相输入端连接；所述第一电阻的另一端与所述第二测试端连接，所述第三运放的输出端分别与所述第三运放的反相输入端和所述被测运放的反相输入端连接；
[0014]所述被测运放的同相输入端与所述共模电压输入端连接
。
[0015]在一种可能的实现方式中，所述第三电阻
、
所述第四电阻和所述第二运放共同构成第一级闭环负反馈环路
。
[0016]在一种可能的实现方式中，所述第一电阻
、
所述第二电阻和所述第二运放共同构成第二级闭环负反馈环路
。
[0017]在一种可能的实现方式中，所述第一运放的反向输入端与所述第一运放的输出端连接构成电压跟随器，使得所述第一运放的反向输入端与所述第一运放的输出端的电压相同
。
[0018]在一种可能的实现方式中，所述第三运放的反向输入端与所述第三运放的输出端连接构成电压跟随器，使得所述第三运放的反向输入端与所述第三运放的输出端的电压相同
。
[0019]在一种可能的实现方式中，所述被测运放的输入失调电压为所述被测运放的同相输入端与反相输入端的电压差
。
[0020]在一种可能的实现方式中，所述第一运放的输出电压与所述第二运放的输出电压的电压差值，如下公式：
[0021][0022]式中，
Vt1
为所述第一运放的输出电压，
Vt2
为所述第二运放的输出电压，
N
为输入失调电压的放大系数，
Vos
为输入失调电压，
R1
为第一电阻的阻值，
R2
为第二电阻的阻值
。
[0023]在一种可能的实现方式中，所述共模电压输入端是外加电压
。
[0024]本专利技术提供的针对运放的输入失调电压的测试装置，具有极高的测试精度，性能稳定，结构简单，可操作性强
。
附图说明
[0025]图1为现有的一种运放输入失调电压测试电路的示意图；
[0026]图2为现有的另一种运放输入失调电压测试电路的示意图；
[0027]图3为现有的另一种运放输入失调电压测试电路的示意图；
[0028]图4为本专利技术实施例提供的针对运放的输入失调电压的测试装置的示意图
。
具体实施方式
[0029]下面结合附图和实施例对本专利技术的实施方式作进一步详细描述
。
以下实施例的详细描述和附图用于示例性地说明本专利技术的原理，但不能用来限制本专利技术的范围，即本专利技术
不限于所描述的优选实施例，本专利技术的范围由权利要求书限定
。
[0030]在本专利技术的描述中，需要说明的是，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上；术语“第一”“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性；对于本领域的普通技术人员而言，可视具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义
。
[0031]图4为本专利技术实施例提供的针对运放的输入失调电压的测试装置的示意图，如图4所示，本专利技术的针对运放的输入失调电压的测试装置，包括：测试电路单元和被测电路单元
。
测试电路单元包括：第一运放
A1、
第二运放
A2、
第三运放
A3
，第一电阻
R1、
第二电阻
R2、
第三电阻
R3、
第四电阻
R4、<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种针对运放的输入失调电压的测试装置，其特征在于，包括：测试电路单元和被测电路单元；所述测试电路单元包括：第一运放
(A1)、
第二运放
(A2)、
第三运放
(A3)
，第一电阻
(R1)、
第二电阻
(R2)、
第三电阻
(R3)、
第四电阻
(R4)、
第一电容
(C1)
和第二电容
(C2)
；所述被测电路单元包括：被测运放
(A)
；所述第一运放
(A1)
的同相输入端与共模电压输入端
(Vcm)
连接，所述第一运放
(A1)
的输出端分别与所述第一运放
(A1)
的反相输入端
、
所述第一电容
(C1)
的一端
、
所述第三电阻
(R3)
的一端和第二测试端
(T2)
连接；所述第一电容
(C1)
的另一端接地；所述第三电阻
(R3)
的另一端分别与所述第四电阻
(R4)
的一端和所述第二运放
(A2)
的反相输入端连接，所述第四电阻
(R4)
的另一端分别与所述第二运放
(A2)
的输出端和所述第一测试端
(T1)
连接；所述第二电容
(C2)
并联在所述第四电阻
(R4)
的两端；所述第二运放
(A2)
的同相输入端与所述被测运放
(A)
的输出端连接，所述第二运放
(A2)
的输出端与所述第二电阻
(R2)
的一端连接，所述第二电阻
(R2)
的另一端分别与所述第一电阻
(R1)
的一端和所述第三运放
(A3)
的同相输入端连接；所述第一电阻
(R1)
的另一端与所述第二测试端
(T2)
连接，所述第三运放
(A3)
的输出端分别与所述第三运放
(A3)
的反相输入端和所述被测运放
(A)
的反相输入端连接；所述被测运放
(A)
...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹晶，熊登胜，
申请(专利权)人：无锡市晶源微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：